用于自动识别异常的表面上的感兴趣点的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术题为用于自动识别异常的表面上的感兴趣点的方法和装置，公开了用于使用视频检验装置自动识别被观察对象的异常的表面上的感兴趣点(例如最深或最高点)的方法和装置。视频检验装置得到和显示被观察对象的表面的图像。确定参考表面连同包括异常的表面的多个点的感兴趣区域。视频检验装置确定感兴趣区域中的异常的表面的多个点的每个的深度或高度。异常的表面上的点(例如具有最大深度或高度)识别为感兴趣点。然后确定对象表面的感兴趣点的剖面。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种自动识别被观察对象（202）的对象表面（210）上的异常（204）的表面上的感兴趣点（502）的方法（700），所述方法（700）包括下列步骤：在监视器（170/172）上显示所述对象表面（210）的图像（500）；使用中央处理器单元（150）来确定所述对象表面（210）上的多个点的三维坐标；使用指示装置（180）来选择所述图像（500）的第一像素（561）上的第一参考线端点（511）；使用所述指示装置（180）来选择所述图像（500）的第二像素（562）上的第二参考线端点（512）；使用所述中央处理器单元（150）来确定在所述第一参考线端点（511）与所述第二参考线端点（512）之间延伸的第一参考线（510）上的多个点的三维坐标；使用所述指示装置（180）来选择所述图像（500）的第三像素（563）上的第三参考线端点（521）；使用所述指示装置（180）来选择所述图像（500）的第四像素（564）上的第四参考线端点（522）；使用所述中央处理器单元（150）来确定在所述第三参考线端点（521）与所述第四参考线端点（522）之间延伸的第二参考线（520）上的多个点的三维坐标；使用所述中央处理器单元（150）、基于所述第一参考线（510）上的所述多个点的至少两个以及所述第二参考线（520）上的所述多个点的至少一个的三维坐标来确定参考表面（550）；使用所述中央处理器单元（150）来确定包括所述异常（204）的表面上的多个点的所述参考表面（550）的感兴趣区域（570）；使用所述中央处理器单元（150）来确定所述参考表面（550）与所述感兴趣区域（570）中的所述异常（204）的表面上的所述多个点之间的距离；使用中央处理器单元（150）来确定所述感兴趣区域（570）中的所述异常（204）的表面上具有离所述参考表面（550）最大距离的所述感兴趣点（502）的三维坐标；使用所述中央处理器单元（150）来确定所述第一参考线（510）与所述第二参考线（520）之间包括所述异常（204）的表面上的所述感兴趣点（502）的所述对象表面（210）上的剖面表面轮廓线（594）的多个点的三维坐标；以及通过确定从所述参考表面（550）到所述对象表面（210）上的所述剖面表面轮廓线（594）的所述多个点的距离，使用所述中央处理器单元（150）来确定所述对象表面（210）的剖面（600）。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：CA本达尔，MR斯坦卡托，MM鲍尔，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：美国;US