【技术实现步骤摘要】
本技术属于粒子束流辐照装置领域,具体涉及一种辐照样品自动调节探测装置。
技术介绍
当前,对辐射环境下(如中子辐射)的辐照样品一般通过在靶室内安装辐照装置进行样品辐照,辐照装置的位置主要依靠机械装置的加工基准和安装基准保证。因为辐照装置必须满足样品与探测器对心、样品与入射中子束对心的要求,所以对于辐照装置的对心精度、重复定位精度、安装精度等要求较高,也就是说,对于辐照装置的主要机械装置的加工精度和安装精度要求较高,并且目前的辐照装置只可用于样品一次辐照,不具备调节功能,只能以定角度、定路径进行样品辐照分析。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种辐照样品自动调节探测装置。本技术的辐照样品自动调节探测装置,其特点是,所述装置含有工作平台,工作平台的上表面设置有用于调节样品位置的样品台调节架和用于监测样品辐射情况的探测器调节架;所述的样品台调节架含有放置样品的样品台,样品台与下方的旋转台固定,旋转台的下方固定有向旋转台提供动力的电机,电机通过调节机构固定在工作平台上;电机与自动控制系统通过线路连接;所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架和下支架;上支架为探测器平台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器,相邻探测器之间的中轴线夹角为45°,中轴线相交于样品的中心;上支架固定在下支架上,绕下支架上的旋转中心旋转;下支架固定在工作平台上;所述的探测器与自动控制系统通过线路连接。 ...
【技术保护点】
一种辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述装置含有工作平台(1),工作平台(1)的上表面设置有用于调节样品(15)位置的样品台调节架和用于监测样品(15)辐射情况的探测器调节架;所述的样品台调节架含有放置样品(15)的样品台(5),样品台(5)与下方的旋转台(6)固定,旋转台(6)的下方固定有向旋转台(6)提供动力的电机(13),电机(13)通过调节机构固定在工作平台(1)上;电机(13)与自动控制系统(12)通过线路连接;所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架(3)和下支架(2);上支架(3)为探测器平台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器(4),相邻探测器(4)之间的中轴线夹角为45°,中轴线相交于样品(15)的中心;上支架(3)固定在下支架(2)上,绕下支架(2)上的旋转中心旋转;下支架(2) 固定在工作平台(1)上;所述的探测器(4)与自动控制系统(12)通过线路连接。
【技术特征摘要】
1.一种辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述装置含有工作平台(1),工作平
台(1)的上表面设置有用于调节样品(15)位置的样品台调节架和用于监测样品(15)辐射情
况的探测器调节架;
所述的样品台调节架含有放置样品(15)的样品台(5),样品台(5)与下方的旋转台(6)
固定,旋转台(6)的下方固定有向旋转台(6)提供动力的电机(13),电机(13)通过调节机构
固定在工作平台(1)上;电机(13)与自动控制系统(12)通过线路连接;
所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架(3)和下支架(2);上支架(3)为探测器平
台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器(4),相邻探测器(4)之间的中轴线
夹角为45°,中轴线相交于样品(15)的中心;上支架(3)固定在下支架(2)上,绕下支架(2)上
的旋转中心旋转;下支架(2)固定在工作平台(1)上;所述的探测器(4)与自动控制系统
(12)通过线路连接。
2.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述的上支架(3)
上安装有角位移台(18),角位移台(18)上加装升降台(17),升降台(17)顶端安装探测器
(4),角位移台(18)和升降台(17)配合,调节探测器(4)与样品(15)的相对位置。
3.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述的上...
【专利技术属性】
技术研发人员:夏秀清,周自平,李军格,田华,刘斌,崔元平,罗正华,魏建民,徐绍梅,杜卫星,唐文欣,王俊伟,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院核物理与化学研究所,
类型:新型
国别省市:四川;51
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