一种辐照样品自动调节探测装置制造方法及图纸

技术编号:13300943 阅读:61 留言:0更新日期:2016-07-09 18:29
本实用新型专利技术提供了一种辐照样品自动调节探测装置。所述装置的工作平台上设置有用于调节样品位置的样品台调节架和用于监测样品辐射情况的探测器调节架。本实用新型专利技术的调节探测装置能对辐射环境下的样品位置进行自动调节,并对样品辐照情况进行探测,调节探测过程完全自动化。该装置具备样品尺寸和位置、探测器探测角度和路径控制功能,可实现多样品一次性辐照探测,也可完成对同一样品的多次、多角度、多位置辐照探测。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于粒子束流辐照装置领域,具体涉及一种辐照样品自动调节探测装置
技术介绍
当前,对辐射环境下(如中子辐射)的辐照样品一般通过在靶室内安装辐照装置进行样品辐照,辐照装置的位置主要依靠机械装置的加工基准和安装基准保证。因为辐照装置必须满足样品与探测器对心、样品与入射中子束对心的要求,所以对于辐照装置的对心精度、重复定位精度、安装精度等要求较高,也就是说,对于辐照装置的主要机械装置的加工精度和安装精度要求较高,并且目前的辐照装置只可用于样品一次辐照,不具备调节功能,只能以定角度、定路径进行样品辐照分析。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种辐照样品自动调节探测装置。本技术的辐照样品自动调节探测装置,其特点是,所述装置含有工作平台,工作平台的上表面设置有用于调节样品位置的样品台调节架和用于监测样品辐射情况的探测器调节架;所述的样品台调节架含有放置样品的样品台,样品台与下方的旋转台固定,旋转台的下方固定有向旋转台提供动力的电机,电机通过调节机构固定在工作平台上;电机与自动控制系统通过线路连接;所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架和下支架;上支架为探测器平台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器,相邻探测器之间的中轴线夹角为45°,中轴线相交于样品的中心;上支架固定在下支架上,绕下支架上的旋转中心旋转;下支架固定在工作平台上;所述的探测器与自动控制系统通过线路连接。所述的上支架上安装有角位移台,角位移台上加装升降台,升降台顶端安装探测器,角位移台和升降台配合,调节探测器与样品的相对位置。所述的上支架和下支架通过螺钉螺母、铰链或粘胶固定连接。所述的样品台通过螺栓、卡具或粘胶与下方的旋转台固定连接。所述的调节机构包括转接台Ⅰ,转接台Ⅰ与电机固定连接,转接台Ⅰ与转接台Ⅲ、光学调节台Ⅰ、转接台Ⅱ、光学调节台Ⅱ、光学调节台Ⅲ顺序连接,光学调节台Ⅲ固定在工作平台上;所述的光学调节台Ⅰ、光学调节台Ⅲ、光学调节台Ⅱ与自动控制系统通过线路连接。所述的样品台为圆盘,在圆盘上开有用于放置样品的样品孔。所述的电机上安装有检测电机旋转位置的光栅尺。所述的电机外安装有屏蔽电离辐射的电机罩壳。光学调节台Ⅰ、光学调节台Ⅲ、光学调节台Ⅱ上分别安装有用于检测坐标的光栅尺。本技术的辐照样品自动调节探测装置采用模块化结构,主要分为工作平台、样品台调节架、探测器调节架和控制系统四个模块。本技术的探测器调节架位于样品台调节架的正前方,探测器调节架的支架由上支架和下支架构成,上支架与下支架通过蝶形螺母连接,下支架通过螺栓固定安装在工作平台上,下支架垂直于工作平台。上支架可绕下支架上的旋转中心旋转,旋转角度达135°。上支架上安装了角位移台、升降台和探测器,角位移台的旋转角度达30°,角位移台和升降台与自动控制系统通过航空插头快速连接。角位移台和升降台都有配套的控制驱动器,通过控制驱动器控制探测器相对于样品中心的角度和距离。本技术的样品台调节架安装在工作平台上,与工作平台呈45°角度布置。样品台调节架中的旋转台与样品台同心,旋转台的旋转角度可达360°,旋转台的转动由步进电机驱动。步进电机上安装有检测旋转位置的光栅尺,光栅尺将电机转动数据实时精确地回馈给控制系统,实现大闭环控制,精度高;电机的控制采用运动控制器,控制器接上位PC机,通过PC机中的专用程序对样品位置及编号进行精确控制,实现对样品以不同角度进行辐照、测量,获取更多定量数据。样品台调节架上的光学调节台Ⅰ、光学调节台Ⅱ、光学调节台Ⅲ为直线移动平台;光学调节台Ⅰ垂直于工作平台安装,可实现样品台调节架Y轴方向移动调节;光学调节台Ⅱ平行于工作平台安装,可实现样品台调节架的X轴方向移动调节;光学调节台Ⅲ垂直于光学调节台Ⅱ安装,可实现样品台调节架Z轴方向移动调节。样品台调节架上的光学调节台Ⅰ、光学调节台Ⅱ、光学调节台Ⅲ侧面均安装光栅尺,通过光栅尺的监测读数,可靠的分辨出光学调节平台的真实移动距离,将坐标位置准确地反馈给控制系统。光学调节台的移动主要是通过配套的控制驱动器来控制的,控制驱动器可以对调节台移动的步数、速度、方向(正负)、回零等进行设置。另外控制驱动器提供RS232串口与控制系统联接,通过程序控制可以实现对光学调节台的自由控制。通过光学调节台和旋转台参数控制实现样品的直线调节和旋转调节,完成样品中心与入射中子束中心的对心调节工作。样品台为四叶片盘,每个叶片上均有一个样品孔,每个样品孔中可放置一个样品。四个样品自动换位,可连续准确的接受中子束辐照,实现一次性对四个样品进行完整的元素分布分析;也可对一个样品进行连续辐照,进行样品元素深度分析。本技术的辐照样品自动调节探测装置采用多轴输入的自动控制系统,控制器与PC机连接,电机、光学调节台Ⅰ、光学调节台Ⅱ、光学调节台Ⅲ、角位移台、升降台均与自动控制系统相连。通过控制程序可以在PC机上进行距离和角度等参数设置,只需在PC机的控制系统操作界面上输入调节的参数,即可控制调节机构进行运动调节,实现辐照样品自动调节和探测。本技术的辐照样品自动调节探测装置可以在强辐射场中对样品以不同角度和路径进行辐照调节、探测,过程完全自动化,高精度;可以实现样品安装、样品与探测器相对位置调节、样品与入射中子束位置调节、样品尺寸和位置调节,探测器探测样品的角度、路径调节;既可多样品一次性辐照,也可对同一样品进行多次、多角度、多位置辐照,能够对样品进行完整分析。本技术的辐照样品自动调节探测装置各功能部件均为模块化结构,每个结构可独立运行,独立调节,根据指令各部件可实现系统配合,结构紧凑、安全高效、具有较高的互换性、通用性、维修维护方便;提高了探测器、样品架等部件的安装效率和精确度,降低了劳动强度,降低了操作人员受到强辐射的安全风险。附图说明图1为本技术的辐照样品自动调节探测装置的结构示意图;图2为样品台调节架的结构示意图;图3为样品台结构示意图;图4为探测器调节架结构示意图;图5为探测器调节架上支架结构示意图。图中,1.工作平台2.下支架3.上支架4.探测器5.样品台6.旋转台7.转接台Ⅰ8.光学调节台Ⅰ9.光学调节台Ⅲ10.光学调节台Ⅱ11.转接台Ⅱ12.自动控制系统13.电机14.光栅尺15.样品16.螺栓17.升降台18.角位移台19.蝶形螺母20.转接台Ⅲ26.样品中心。具体实施方式下面结合附图详细说明本技术。图1为本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述装置含有工作平台(1),工作平台(1)的上表面设置有用于调节样品(15)位置的样品台调节架和用于监测样品(15)辐射情况的探测器调节架;所述的样品台调节架含有放置样品(15)的样品台(5),样品台(5)与下方的旋转台(6)固定,旋转台(6)的下方固定有向旋转台(6)提供动力的电机(13),电机(13)通过调节机构固定在工作平台(1)上;电机(13)与自动控制系统(12)通过线路连接;所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架(3)和下支架(2);上支架(3)为探测器平台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器(4),相邻探测器(4)之间的中轴线夹角为45°,中轴线相交于样品(15)的中心;上支架(3)固定在下支架(2)上,绕下支架(2)上的旋转中心旋转;下支架(2) 固定在工作平台(1)上;所述的探测器(4)与自动控制系统(12)通过线路连接。

【技术特征摘要】
1.一种辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述装置含有工作平台(1),工作平
台(1)的上表面设置有用于调节样品(15)位置的样品台调节架和用于监测样品(15)辐射情
况的探测器调节架;
所述的样品台调节架含有放置样品(15)的样品台(5),样品台(5)与下方的旋转台(6)
固定,旋转台(6)的下方固定有向旋转台(6)提供动力的电机(13),电机(13)通过调节机构
固定在工作平台(1)上;电机(13)与自动控制系统(12)通过线路连接;
所述的探测器调节架为n型结构,包括上支架(3)和下支架(2);上支架(3)为探测器平
台,有三个安装平面,每个安装平面上固定有一个探测器(4),相邻探测器(4)之间的中轴线
夹角为45°,中轴线相交于样品(15)的中心;上支架(3)固定在下支架(2)上,绕下支架(2)上
的旋转中心旋转;下支架(2)固定在工作平台(1)上;所述的探测器(4)与自动控制系统
(12)通过线路连接。
2.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述的上支架(3)
上安装有角位移台(18),角位移台(18)上加装升降台(17),升降台(17)顶端安装探测器
(4),角位移台(18)和升降台(17)配合,调节探测器(4)与样品(15)的相对位置。
3.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置,其特征在于,所述的上...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏秀清周自平李军格田华刘斌崔元平罗正华魏建民徐绍梅杜卫星唐文欣王俊伟
申请(专利权)人:中国工程物理研究院核物理与化学研究所
类型:新型
国别省市:四川;51

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