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本实用新型提供了一种辐照样品自动调节探测装置。所述装置的工作平台上设置有用于调节样品位置的样品台调节架和用于监测样品辐射情况的探测器调节架。本实用新型的调节探测装置能对辐射环境下的样品位置进行自动调节，并对样品辐照情况进行探测，调节探测过程...
该专利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院核物理与化学研究所授权不得商用。

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