【技术实现步骤摘要】
本专利是一种非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。是一种结构合理、方便快捷的判断激发光源是否含有杂质并确认杂质元素的装置。由于其快速、灵敏、简便，被广泛地应用于环境、生物、冶金、地矿、石油、食品、医疗卫生等很多领域中的多种元素的检测分析。
技术介绍
原子荧光法是一种元素检测分析方法，其工作原理是用一定强度的激发光源照射含有一定浓度的待测元素的原子蒸汽时，将产生一定强度的荧光，测定原子荧光的强度即可求得待测样品中该元素的含量。目前我国在用的原子荧光光度计大多都是非色散原子荧光光度计，非色散原子荧光光度计本身无任何色散元件，如果激发光源不纯，含有两种或两种以上元素光波，而样品中也含有此种元素，则产生荧光强度为多种荧光强度之和，从而导致测量结果过高的错误结论。只有当激发光源足够纯，可以做到对目标元素的选择性激发时，测量结果才准确可靠。因此光源的纯度(是否含杂质)是影响非色散原子荧光技术建立及达到准确测定的先决条件。目前国内外掌握的49个相关数据库中未发现对非色散原子荧光激发光源纯度的研究，也没有针对光源检测方法、杂质分析的研究报导。我国颁发了适用于非色散原理的原...
【技术保护点】
一种非色散原子荧光激发光源杂质检测装置，包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和电脑处理器；暗箱机壳关闭后无杂散光进入，光源固定支架固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，使紫外光谱探测部件获得信噪比合适的光谱图，有电脑处理器处理检测数据，输出光源是否含杂和杂质元素的确认测试结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：贾亚青，吴红，沈正生，赵海波，
申请(专利权)人：北京市计量检测科学研究院，
类型：新型
国别省市：北京;11
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