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本专利公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和电脑处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，光源固定支架固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光...
该专利属于北京市计量检测科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过北京市计量检测科学研究院授权不得商用。

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