本发明专利技术公开了一种基于单电流传感器的三相电流重构方法和装置，单电流传感器用于检测直流母线电流，方法包括：获得当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的三相比较点时间；根据预设的窄脉宽限制阈值对对应的三相比较点时间进行窄脉宽限制，并根据电流采样窗口时间对限制后的三相比较点时间进行PWM移相处理以获得三相上下行比较点时间；根据三相上下行比较点时间输出下一PWM周期的PWM波形，并根据三相上行比较点时间获取下一PWM周期的第一和第二AD采样触发时刻；在下一PWM周期根据第一和第二AD采样触发时刻对应读取第一和第二直流母线采样电流，并根据第一和第二直流母线采样电流重构三相电流，从而在多种调制算法中通过单电流传感器准确重构出三相电流。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术设及电机控制
，特别设及一种基于单电流传感器的=相电流重构 方法W及一种基于单电流传感器的=相电流重构装置。
技术介绍
基于单电流传感器的电流重构技术因其高性价比而在家电行业中得到广泛应用。 通过单个电流传感器检测直流母线电流，并结合PWM脉宽调制就可W重构出电机=相相电 流，达到电机矢量控制的电流反馈要求。 相关的单电流传感器电流重构技术在低调制区（输出电压幅值很小）和不可观测 区(输出电压矢量接近基本矢量)需要对PWM波形进行移相，W准确地检测出直流母线电流。 但是，相关技术的PWM移相方法只考虑一相移动或者两相移动，无法适用于=相调制，无法 准确地重构出=相相电流。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的 一个目的在于提出一种基于单电流传感器的=相电流重构方法，该方法可准确地重构出= 相相电流。 本专利技术的另一个目的在于提出一种基于单电流传感器的=相电流重构装置。 为达到上述目的，本专利技术一方面实施例提出了一种基于单电流传感器的=相电流 重构方法，所述单电流传感器用于检测直流母线电流，所述方法包括W下步骤:在当前PWM 周期对电机进行矢量控制W获得=相输出电压，并根据电压调制算法对所述=相输出电压 进行调制W获得当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间;根据预设的 窄脉宽限制阔值对所述当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间进行 窄脉宽限制，并根据电流采样窗口时间对窄脉宽限制后的S相比较点时间进行PWM移相处 理W获得=相上行比较点时间和=相下行比较点时间；根据所述=相上行比较点时间和= 相下行比较点时间输出下一 PWM周期的PWM波形，并根据所述S相上行比较点时间获取所述 下一 PWM周期的第一 AD采样触发时刻和第二AD采样触发时刻;在所述下一 PWM周期根据所述 第一 AD采样触发时刻和所述第二AD采样触发时刻对应读取第一直流母线采样电流和第二 直流母线采样电流，并根据所述第一直流母线采样电流和第二直流母线采样电流重构所述 电机的=相电流。 根据本专利技术实施例提出的基于单电流传感器的=相电流重构方法，首先在当前 PWM周期对电机进行矢量控制W获得=相输出电压，并根据电压调制算法对=相输出电压 进行调制W获得当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间，其次根据预 设的窄脉宽限制阔值对当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间进行 窄脉宽限制，并根据电流采样窗口时间对窄脉宽限制后的S相比较点时间进行PWM移相处 理W获得=相上行比较点时间和=相下行比较点时间，然后根据=相上行比较点时间和= 相下行比较点时间输出下一 PWM周期的PWM波形，并根据S相上行比较点时间获取下一 PWM 周期的第一AD采样触发时刻和第二AD采样触发时刻，最后在下一PWM周期根据第一AD采样 触发时刻和第二AD采样触发时刻对应读取第一直流母线采样电流和第二直流母线采样电 流，并根据第一直流母线采样电流和第二直流母线采样电流重构电机的=相电流。由此，该 方法可对多种调制算法例如=相调制、两相调整进行移相处理，进而通过单电流传感器准 确地重构出电机=相相电流，并且通过窄脉宽限制可减小功率开关管的开关损耗。 根据本专利技术的一个实施例，每个PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的=相比较 点时间包括最大相比较点时间Tmax、中间相比较点时间Tm i d和最小相比较点时间Tm i n，其 中，Tmax > Tmid > Tmin。 根据本专利技术的一个实施例，所述根据预设的窄脉宽限制阔值对所述当前PWM周期 的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间进行窄脉宽限制，包括：当Tmax> (Ts-Tm)/ 2时，将所述当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的=相比较点时间中的最大相比较 点时间Tmax限审呪Ts/2，其中，Ts为所述PWM周期，Tm为所述预设的窄脉宽限制阔值；当Tmin <Tm/2时，将所述当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时间中的最小相 比较点时间化in限制为0。 根据本专利技术的一个实施例，所述根据电流采样窗口时间对窄脉宽限制后的=相比 较点时间进行PWM移相处理W获得S相上行比较点时间和S相下行比较点时间，包括：当 (Tmax-TmidXTw时，对所述窄脉宽限制后的S相比较点时间进行最大相移相处理，并在最 大相移相处理之后进行最小相移相处理，W及在最小相移相处理之后计算所述=相上行比 较点时间和S相下行比较点时间，其中，Tw为所述电流采样窗口时间；当（Tmax-Tmid) 且(Tmid-TminXTw时，对所述窄脉宽限制后的S相比较点时间直接进行最小相移相处理， 并在最小相移相处理之后计算所述S相上行比较点时间和S相下行比较点时间；当（Tmax-Tmid) > Tw且(Tmid-化in) > Tw时，直接计算所述S相上行比较点时间和S相下行比较点时 间。 根据本专利技术的一个实施例，对所述窄脉宽限制后的=相比较点时间进行最大相移 相处理时，如果(Tmid+Tw) > Ts/2,贝设置Smax= (Ts/2-Tmax)，并设置Smid = Smin= (Ts/2-Tw-Tmin)，其中，Tw为所述电流采样窗口时间，Ts为所述P歷周期，Smax为最大相移相量，S mid为中间相移相量，Smin为最小相移相量；如果(Tmid+Tw) <Ts/2，则设置Smax= (Tmid+ Tw-Tmax)，并设置5mid = 5min = 0。 根据本专利技术的一个实施例，对所述窄脉宽限制后的S相比较点时间进行最小相移 相处理时，如果（Tmin-Tw) < 0，则设置Smax = Smax+Tw-Tmin，并设置Smid = Smid+Tw-Tmin， W及设置Smin = Smin-Tmin,其中，Tw为所述电流采样窗口时间，Smax为最大相移相量，Smid 为中间相移相量，Smin为最小相移相量；如果（Tmin-Tw) >0，则设置Smin = Smin- (Tw-化in)，并保持Smax和Smid不变。 根据本专利技术的一个实施例，PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的S相比较点时 间根据W下公式计算所述S相上行比较点时间和S相下行比较点时间：Tmax_up = Tmax+S 111曰又,1'1111(1_啡=1'1111(1+51111(1,1'111；1+5111；1曰又_啡、1'1111(1_啡和1'111；[]1_啡分另。为 所述S相上行比较点时间中的最大相上行比较点时间、中间相上行比较点时间和最小相上 行比较点时间，Tmax、Tmid和Tmin分别为移相前的最大相上行比较点时间、中间相上行比较 点时间和最小相上行比较点时间；Tmax_down = TmaxX2-Tmax_up,Tmid_down = TmidX2-Tmid_up ,Tmin_down = Tmax X 2-Tmin_up,其中，Tmax_down、Tmid_down和Tmin_down分另Ij为 所述S相下行比较点时间中的最大相下行比本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于单电流传感器的三相电流重构方法，其特征在于，所述单电流传感器用于检测直流母线电流，所述方法包括以下步骤：在当前PWM周期对电机进行矢量控制以获得三相输出电压，并根据电压调制算法对所述三相输出电压进行调制以获得当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的三相比较点时间；根据预设的窄脉宽限制阈值对所述当前PWM周期的上行半周期的PWM波形对应的三相比较点时间进行窄脉宽限制，并根据电流采样窗口时间对窄脉宽限制后的三相比较点时间进行PWM移相处理以获得三相上行比较点时间和三相下行比较点时间；根据所述三相上行比较点时间和三相下行比较点时间输出下一PWM周期的PWM波形，并根据所述三相上行比较点时间获取所述下一PWM周期的第一AD采样触发时刻和第二AD采样触发时刻；在所述下一PWM周期根据所述第一AD采样触发时刻和所述第二AD采样触发时刻对应读取第一直流母线采样电流和第二直流母线采样电流，并根据所述第一直流母线采样电流和第二直流母线采样电流重构所述电机的三相电流。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张海春，黄招彬，
申请(专利权)人：美的集团武汉制冷设备有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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