一种快速三维超分辨率显微方法和装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于超分辨领域，尤其涉及一种能在远场快速实现三维超衍射极限分辨率 的方法和装置。
技术介绍
光学显微成像是一种常用的、有效的观测亚微米级微观结构的手段，然而光学衍 射极限的存在极大限制了光学显微成像的分辨率。根据阿贝衍射极限原理，理想点光源经 过显微物镜聚焦后不是成一个理想像点，而是一个衍射光斑，其尺寸用衍射斑强度分布曲 线的半高全宽来衡量，式中λ为显微镜所使用的照明光波长，NA为所使用显微物 镜的数值孔径，由于NA = n sina，式中η是被观察物体与物镜之间介质的折射率，α是物镜孔 径角(物镜光轴上的物点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度)的一半，ΝΑ值约为1，因此 衍射斑尺寸最小约为工作波长的一半，这也是常规光学显微成像的极限分辨率。对于更加 精细、微小的微观结构，常规光学显微成像的方法就有所受限。 1990年共聚焦显微镜的提出，是光学显微领域的一次革命。共聚焦显微镜利用一 个小孔进行空间滤波，能够将分辨率提高2倍，且能提高显微图像的信噪比和对比度，另外， 共聚焦显微镜还有光学切片能力，使高精度三维成像变为可能。虽然共聚焦显微镜仍受...
【技术保护点】
一种快速三维超分辨率显微方法，包括：激光光束在准直后转换为线偏振光，对线偏振光进行相位调制并转换为圆偏振光投射到待测样品上，以及收集待测样品各扫描点发出的信号光；其特征在于：对样品进行三维扫描，所述的相位调制包括一次相位调制和二次相位调制；所述的一次相位调制和二次相位调制的调制函数均为时，收集所述的信号光得到第一信号光强I1(x,y,z)，x,y,z为扫描点的三维坐标；所述的一次相位调制的调制函数为且所述的二次相位调制的调制函数为时，收集所述的信号光得到第二信号光强I2(x,y,z)，x,y,z为扫描点的三维坐标；其中：ρ为光束上某点与光轴的距离，ρ0为光束半径，为光束垂直...
【技术特征摘要】
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