本实用新型专利技术提供一种COB-LED冲击老化测试装置，包括控制系统及测试夹具；所述控制系统包括继电器、交流接触器、温控开关、交流电源和若干恒流电源；所述测试夹具包括盖板、若干探针、固定板及散热器；所述盖板安装于所述固定板上；所述固定板上设有供待测COB-LED安装的通孔；所述探针穿过盖板，且一端与恒流源电性连接，另一端可与待测COB-LED电性连接；所述通孔上至少对应2个探针；散热器安装于固定板下方。该COB-LED冲击老化测试装置配备温控开关和多个恒流电源，能有效减少过热对装置造成的损害；并能在较宽的电流及电压参数范围内进行冲击老化测试，操作方便，结构精简，后期维护升级成本低。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及发光二极管测试
，具体涉及一种C0B-LED冲击老化测试 目.ο
技术介绍
由于C0B-LED的形状材质众多，尚未形成行业标准。该多元化情形导致传统的SMD-LED老化测试台无法胜任。目前冲击老化测试并不是出厂强制检测项目，所以大部分厂商出厂的产品没有冲击老化测试，存在可靠性和稳定性低等问题。市场上裸光源冲击老化装置，大部分只有SMT贴片和直插两种LED老化测试装置，COB-LED老化测试装置市场上很少，电压电流参数设置少，散热器功率小和测试数量少等问题。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种安全高效的C0B-LED冲击老化测试装置。为解决上述问题，本技术所采用的技术方案如下:一种C0B-LED冲击老化测试装置，包括控制系统及测试夹具；所述控制系统，包括继电器、交流接触器、温控开关、交流电源和若干恒流电源；所述交流接触器用于控制交流电源对恒流电源的供电；所述继电器包括时间继电器和时间循环继电器，所述时间继电器用于控制交流接触器的工作时间，所述时间循环继电器用于控制交流接触器的工作周期；所述温控开关用于检测测试夹具的温度并根据检测到的温度信号来控制交流接触器的接通与断开；所述测试夹具包括盖板、若干探针、固定板及散热器；所述盖板安装于所述固定板上；所述固定板上设有供待测C0B-LED安装的通孔；所述探针穿过盖板，且一端与恒流源电性连接，另一端可与待测C0B-LED电性连接，所述通孔上至少对应2个探针；所述散热器安装于固定板下方，所述散热器与固定板的通孔形成一容纳待测C0B-LED的空腔。作为优选，所述盖板的一端与固定板可旋转连接，另一端设有将盖板压紧在固定板上的紧固装置。作为优选，所述紧固装置为压扣。作为优选，所述散热器内设有若干散热通道。 作为优选，所述散热器下方设有风冷散热系统或水冷散热系统。作为优选，所述散热器为铝制或铝合金制。作为优选，所述通孔以nXm的阵列形式分布，且η彡2，m彡2。相比现有技术，本技术的有益效果在于:本技术提供的C0B-LED冲击老化测试装置，配备多个可交换的恒流电源，能在较宽的电流及电压参数范围内对C0B-LED进行冲击老化测试；该装置配备温控开关，能有效减少过热对装置造成的损害；该装置操作方便，结构相对精简，后期维护升级成本低。下面结合附图和【具体实施方式】对本技术作进一步详细说明。【附图说明】图1为本技术结构示意图；图2为测试夹具单个通孔结构示意图；图3为盖板和固定板的组配结构示意图；图4为盖板结构示意图；图5为本技术工作原理图；附图1-5中，各附图标记:1、恒流电源；2、控制台；3、继电器；4、温控开关；5、盖板；6、探针；7、压扣；8、通孔；9、固定板；10、散热器；11、散热通道。【具体实施方式】本技术提供一种C0B-LED冲击老化测试装置，如图1所示，包括控制系统及测试夹具；所述控制系统包括继电器3、交流接触器(图未示)、温控开关4、交流电源和若干恒流电源1 ;所述交流接触器用于控制交流电源对恒流电源的供电；所述继电器包括时间继电器和时间循环继电器，所述时间继电器用于控制交流接触器的工作时间，所述时间循环继电器用于控制交流接触器的工作周期；所述温控开关用于检测测试夹具的温度并根据检测到的温度信号来控制交流接触器的接通与断开；所述时间继电器和时间循环继电器用于控制交流接触器的工作时间与周期；所述温控开关用于检测测试夹具的温度并控制交流接触器的接通与断开；如图2和图4所示，所述测试夹具包括盖板5、若干探针6、固定板9及散热器10 ;所述盖板安装于所述固定板上；所述固定板上设有供待测C0B-LED安装的通孔8 ;所述探针穿过盖板，且一端与恒流源电性连接，另一端可与待测C0B-LED电性连接，所述通孔上至少对应2个探针；所述散热器安装于固定板下方，所述散热器与固定板的通孔形成一容纳待测C0B-LED的空腔。如图5所示，该C0B-LED冲击老化测试装置在工作时，恒流电源置于控制台2，恒流电源给测试夹具供电，交流接触器控制交流电源与恒流电源之间的电性接通与断开，时间继电器和时间循环继电器控交流接触器的工作时间与周期，温控开关检测测试夹具的温度并将信号反馈至继电器并进一步传输至交流接触器，以控制交流接触器的接通与断开。探针的一端与恒流电源电性连接，另一端与待测C0B-LED电性连接，以给待测C0B-LED通电，对C0B-LED进行冲击老化测试试验。本技术提供的C0B-LED冲击老化测试装置的工作过程包括以下步骤:1)打开测试盖板，在测试夹具固定板通孔中安装C0B-LED，盖上并固定盖板；2)根据测试要求选择恒流电源，放置至控制台，其供电端与交流接触器相连，输出端通过导线与测试夹具相连；3)调节时间继电器和时间循环继电器的时间，控制交流接触器的工作时间与工作周期与次数；4)调节温控开关的上限温度，当温度达到上限温度，温控开关控制时间继电器断电；5)点亮COB-LED进行冲击老化。6)挑选冲击老化过程中出现不良品的C0B-LED。具体地，所述盖板在固定板上的安装方式可以是可旋转连接或套接或卡接。如盖板的一端与固定板通过可旋转连接，另一端设有将盖板压紧在固定板上的紧固装置。测试时该紧固装置用于夹紧测试盖板，保证探针与被测C0B光源良性接触；将如图3所示，该紧固装置为压扣7。进一步地，为提高散热器的散热效率，所述散热器内设有若干散热通道11，该散热通道有利于热的快速疏导，防止热量聚集于散热器的中心。进一步地，该散热器的下方设有风冷散热系统或水冷散热系统，以进一步提高散热器的散热效率。更进一步地，该风冷散热系统或水冷散热系统与温控开关电性连接，当散热器的温度超过温控开关的上限温度时，启动风冷散热系统或水冷散热系统，以使散热器降温。具体地，所述散热器为铝制或铝合金制，以提高的散热器的散热效率。具体地，所述通孔以nXm的阵列形式分布，且η彡2，m彡2，以同时进行多个待测C0B-LED的多负载式检测。上述实施方式仅为本技术的优选实施方式，不能以此来限定本技术保护的范围，本领域的技术人员在本技术的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本技术所要求保护的范围。【主权项】1.一种COB-LED冲击老化测试装置，其特征在于，包括控制系统及测试夹具； 所述控制系统包括继电器、交流接触器、温控开关、交流电源和若干恒流电源；所述交流接触器用于控制交流电源对恒流电源的供电；所述继电器包括时间继电器和时间循环继电器，所述时间继电器用于控制交流接触器的工作时间，所述时间循环继电器用于控制交流接触器的工作周期；所述温控开关用于检测测试夹具的温度并根据检测到的温度信号来控制交流接触器的接通与断开； 所述测试夹具包括盖板、若干探针、固定板及散热器；所述盖板安装于所述固定板上；所述固定板上设有供待测C0B-LED安装的通孔；所述探针穿过盖板，且一端与恒流源电性连接，另一端可与待测C0B-LED电性连接，所述通孔上至少对应2个探针；所述散热器安装于固定板下方，所述散热器与固定板的通孔形成一容纳待测C0B-LED的空腔。2.如权利要求1所述的C0B-LED冲击老化测试装置，其特征在于，所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种COB‑LED冲击老化测试装置，其特征在于，包括控制系统及测试夹具；所述控制系统包括继电器、交流接触器、温控开关、交流电源和若干恒流电源；所述交流接触器用于控制交流电源对恒流电源的供电；所述继电器包括时间继电器和时间循环继电器，所述时间继电器用于控制交流接触器的工作时间，所述时间循环继电器用于控制交流接触器的工作周期；所述温控开关用于检测测试夹具的温度并根据检测到的温度信号来控制交流接触器的接通与断开；所述测试夹具包括盖板、若干探针、固定板及散热器；所述盖板安装于所述固定板上；所述固定板上设有供待测COB‑LED安装的通孔；所述探针穿过盖板，且一端与恒流源电性连接，另一端可与待测COB‑LED电性连接，所述通孔上至少对应2个探针；所述散热器安装于固定板下方，所述散热器与固定板的通孔形成一容纳待测COB‑LED的空腔。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈家俊，孙婷，苏佳槟，
申请(专利权)人：广州硅能照明有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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