一种用于测量电极的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:13030550 阅读:46 留言:0更新日期:2016-03-17 01:23
本发明专利技术公开了一种用于测量电极的方法,包括:获取测量指令,分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式,并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路;当所述测量指令表征进入电位测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差;当所述测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。由此可见,本发明专利技术能够根据实际需要设定不同的测量指令,以实现在电位测量模式或电位差测量模式之间切换。此外,本发明专利技术还公开一种用于测量电极的装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子领域,特别是涉及一种用于测量电极的方法及装置
技术介绍
在地质勘探技术中,电极作为一种传递信号的装置,其电位测量,以及两个相邻电极之间的电位差的测量是本领域技术人员获取的对象。目前的测量方法只有一种单独的测量模式,一种是只能对电极进行电位测量的电位测量模式,另一种测量模式时只能对电位差测量的电位差测量模式。在具体实施中,有时需要测量装置工作在电位测量模式下,有时需要测量装置工作在电位差测量模式下。如果反复跟换测量装置,不仅增加工作量,而且过程繁琐,效率低。由此可见,如何实现电位测量模式与电位差测量模式的切换是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于测量电极的方法,用于实现电位测量模式与电位差测量模式的切换。此外,本专利技术的目的还提供一种用于测量电极的装置。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种用于测量电极的方法,包括:获取测量指令,分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式,并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路;当所述测量指令表征进入电位测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差;当所述测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。优选地,所述测量指令包括高电平信号和低电平信号;所述高电平信号表征进入电位差测量模式,所述低电平信号表征进入电位测量模式。优选地,所述测量指令包括高电平信号和低电平信号;所述高电平信号表征进入电位测量模式,所述低电平信号表征进入电位差测量模式。优选地,当所述测量指令表征进入电位差测量模式时,所述对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差具体包括:对所述电极的采集信号进行差分处理;按预设比例对所述差分处理后的采集信号进行放大。优选地,当所述测量指令表征进入电位测量模式时,所述对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位具体包括:按预设比例对所述采集信号进行放大。一种用于测量电极的装置,包括:切换装置,用于获取测量指令,分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式,并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路;电位测量电路,用于当所述测量指令表征进入电位测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差;电位差测量电路,用于当所述测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。优选地,所述测量指令包括高电平信号和低电平信号;所述高电平信号表征进入电位差测量模式,所述低电平信号表征进入电位测量模式。优选地,所述测量指令包括高电平信号和低电平信号;所述高电平信号表征进入电位测量模式,所述低电平信号表征进入电位差测量模式。优选地,所述电位差测量电路具体包括:与所述电极对应的差分电路,用于对所述电极的采集信号进行差分处理;与所述差分电路连接的第一信号放大电路,用于按预设比例对所述差分处理后的采集信号进行放大。优选地,所述电位测量电路具体包括:与所述电机对应的第二信号放大电路,用于按预设比例对所述采集信号进行放大。本专利技术所提供的用于测量电极的装置,首先切换装置获取测量指令,然后分析测量指令所表征需要进入电位测量模式还是进入电位差测量模式,并根据分析结果将相应的电极的输出端切换至与测量指令对应的电位测量电路或电位差测量电路。由此可见,本专利技术能够根据实际需要设定不同的测量指令,以实现在电位测量模式或电位差测量模式之间切换。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例,下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的一种用于测量电极的方法的流程图;图2为本专利技术提供的一种用于测量电极的装置的结构图;图3为本专利技术提供的一种用于切换电极的测量模式的电路。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下,所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护范围。本专利技术的核心是提供一种用于测量电极的方法及装置。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案,下面结合附图和【具体实施方式】对本专利技术作进一步的详细说明。实施例一图1为本专利技术提供的一种用于测量电极的方法的流程图。用于测量电极的方法包括:S10:获取测量指令,分析测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式,并根据分析结果将电极的输出端切换至与测量指令对应的测量电路。S11:当测量指令表征进入电位测量模式时,对获取到的电极的采集信号进行分析处理以获取电极对应的电位差。S12:当测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的电极的采集信号进行分析处理以获取电极对应的电位。在具体实施中,需要根据实际情况选择相应的测量模式。首先,获取测量指令,分析测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式。可以理解的是,在该测量过程中需要至少两个电极,因此在电位差测量模式中,需要两个电极,在电位测量模式中,需要一个电极。根据分析结果将对应的电极的输出端切换至该切换指令对应的测量电路。当测量指令表征进入电位测量模式时,就将对应的电极的输出端切换至相应的电位测量电路上。当测量指令表征进入电位差测量模式时,就将对应的电极的输出端切换至相应的电位差测量电路上。当测量指令表征进入电位测量模式时,则表明只需要测量一个电极的电位,因此只需要对获取到的电极的采集信号进行分析处理以获取电极对应的电位。当测量指令表征进入电位差测量模式时,则表明需要测量两个电极之间的电位差,因此需要对获取到的电极的采集信号进行分析处理以获取电极对应的电位差。本实施例提供的用于测量电极的方法,首先获取测量指令,然后分析测量指令所表征需要进入电位测量模式还是进入电位差测量模式,并根据分析结果将相应的电极的输出端切换至与测量指令对应的测量电路。由此可见,本专利技术能够根据实际需要设定不同的测量指令,以实现在电位测量模式或电位差测量模式之间切换。需要说明的是,在具体实施中,可以通过上位机等输出测量指令。另外,测量指令可以包括高电平信号和低电平信号。作为一种优选的实施方式,测量指令包括高电平信号和低电平信号;高电平信号表征进入电位差测量模式,低电平信号表征进入电位测量模式。作为一种优选的实施方式,测量指令包括高电平信号和低电平信号;高电平信号表征进入电位测量模式,低电平信号表征进入电位差测量模式。在具体实施中,由于高低电平信号的判断逻辑简单,因此,可以将测量指令以高电平信号和低电平信号作为区分电位测量模式或电位差测量模式。因此,可以设置高电平信号表征进入电位差测量模式,低电平信号表征进入电位测量模式;或者高电平信号表征进入电位测量模式,低电平信号表征进入电位差测量模式。其中,当测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的电极的采集信号进行分析处理以获取电极对应的电本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于测量电极的方法,其特征在于,包括:获取测量指令,分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式,并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路;当所述测量指令表征进入电位测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差;当所述测量指令表征进入电位差测量模式时,对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:余坤铂彭长丽
申请(专利权)人:重庆地质仪器厂
类型:发明
国别省市:重庆;85

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