气室组件和在吸收光谱法中的应用制造技术

一种气室组件以及所述气室组件在吸收光谱法中的应用。一种示例性气室组件包括一个气室主体，具有：一个从气体源接收气体样本的入口；允许光传送进出于主体的第一和第二端部，所述第二端部与第一端部基本相对；以及一个通道，为气体样本以及第一端部和第二端部之间的光束提供路径。所述气室组件还包括在主体外部的反射面，用于从主体接收多种形态的光束并且将各个形态的入射束反射向主体。然后，一个检测器接收最后的反射束并将对应的数据信号传送至处理单元，所述处理单元基于所述数据信号分析所述气体样本。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】相关申请的交叉引用本申请要求以下申请的优先权:2014年9月7日提交的中国专利申请N0.201410454301.1、名称为“”；2014年10月17日提交的美国临时申请 N0.62/065，370、名称为“Gas Cell Assembly and Applicat1ns inAbsorpt1n Spectroscopy” ；2015 年 2 月 25 日提交的中国专利申请 N0.201510087593.4、名称为“”;2015年3月24日提交的加拿大专利申请 N0.2，886，213、名称为“Gas Cell Assembly and Applicat1ns in Absorpt1nSpectroscopy”;2015年5月26日提交的欧洲专利申请N0.15169283.7、名称为“Gas CellAssembly and Applicat1ns in Absorpt1n Spectroscopy，，;2015年6月 11 日提交的美国专利申请N0.14/737，221、名称为“Gas Cell Assembly and Applicat1ns in Absorpt1nSpectroscopy”。中国专利申请 N0.201410454301.1、美国临时申请 N0.62/065，370、中国专利申请N0.201510087593.4、加拿大专利申请N0.2，886，213、欧洲专利申请N0.15169283.7和美国专利申请N0.14/737，221中的每一申请的全部公开内容在此以参引方式被纳入。
所描述的实施方案涉及一种气室组件(gas cell assembly)并且涉及所述气室组件在吸收光谱法中的应用。
技术介绍
吸收光谱法通常用于各种物质的含量分析。所述含量分析可包括所述物质中各内容物的鉴定和/或物质中某一特定内容物的量的鉴定。总的来说，吸收光谱法包括测量电磁辐射吸收的光谱学技术，所述电磁辐射吸收由电磁辐射与所述物质的一种或多种组分的相互作用而产生。电磁辐射的吸收作为其频率或波长的一个应变量被测量。物质中的组分从电磁辐射中吸收了一定量的能量。吸收的强度由于物质中存在的组分而不同并且随着电磁辐射的频率而变化。
技术实现思路
本文中描述的各种实施方案主要涉及气室组件以及气室组件在吸收光谱法中的应用。根据一些实施方案，提供了一种气室组件，包含:气室主体，该气室主体具有:接收来自气体源的气体样本的入口 ；沿着所述主体的纵向轴线的第一端部，所述第一端部允许光传送进出于所述主体，并且所述第一端部接收来自光源的入射束；与所述第一端部基本相对的第二端部，所述第二端部允许光传送进出于所述主体；以及，与所述入口联接的通道，所述通道的长度由所述第一端部和所述第二端部限定，所述通道为所述气体样本以及至少所述第一端部和所述第二端部之间的入射束提供路径；定位于所述主体外部的一个或多个反射面，所述一个或多个反射面包括与所述第二端部基本相对的反射面，所述一个或多个反射面从所述主体接收一种或多种形态(vers1n)的所述入射束并且将每种形态的所述入射束反射向所述主体；以及，检测器，其用以从所述第一端部和所述第二端部之一接收最后形态的反射束，所述最后的反射束是所述一个或多个反射面导向所述检测器的反射束，所述检测器用以将对应于所述最后形态的反射束的数据信号传送到一个处理单元，所述处理单元用于基于所述数据信号分析所述气体样本。根据一些实施方案，所述入射束的光程(path length)基本由至少所述通道的长度以及所述一个或多个反射面的设置所限定，所述一个或多个反射面的设置在所述检测器接收所述最后的反射束之前提供了一种形态的所述入射束在所述通道中的至少一次传送以及相应的一种形态的反射束在所述通道中的至少一次传送。根据一些实施方案，所述一个或多个反射面包含与所述第一端部基本相对的第一反射面和与所述第二端部基本相对的第二反射面；以及所述光源还包括源引导面，用于接收来自所述光源的所述入射束，并将所述入射束导向所述第一端部，所述源引导面被基本定位在所述第一反射面和所述第一端部之间。根据一些实施方案，所述一个或多个反射面包含与所述第一端部基本相对的第一反射面和与所述第二端部基本相对的第二反射面；以及所述检测器还包括检测器引导面，用于接收来自所述第一端部的所述最后形态的反射束，并将所述最后形态的反射束导向所述检测器，所述检测器引导面被基本定位在所述第一反射面和所述第一端部之间根据一些实施方案，其中所述一个或多个反射面包含第一反射面和与所述第二端部基本相对的第二反射面，所述第一反射面与所述第一端部基本相对，所述第一反射面具有:光源开口，用于接收来自所述光源的所述入射束，并将所述入射束导向所述第一端部；以及，检测器开口，用于从所述第一端部接收所述最后形态的反射束，并将所述最后形态的反射束导向所述检测器。根据一些实施方案，所述第二反射面包括至少两个相邻的反射面，所述至少两个相邻的反射面被设置以将一种或多种形态的所述入射束交替地反射向所述主体。根据一些实施方案，所述一个或多个反射面包含第一反射面和第二反射面，所述第一反射面与所述第一端部基本相对，所述第一反射面具有光源开口，该光源开口用于接收来自所述光源的所述入射束，并将所述入射束导向所述第一端部；以及，所述第二反射面是与所述第二端部基本相对的反射面，所述第二反射面具有检测器开口，该检测器开口用于从所述第二端部接收所述最后形态的反射束，并将所述最后形态的反射束导向所述检测器。根据一些实施方案，所述第二反射面是可调节的，用于相对于所述光源开口改变所述检测器开口的位置，所述检测器开口的位置改变所述一种或多种形态的所述入射束的数量以及穿过所述通道的相应的反射束的数量。根据一些实施方案，所述光源开口包含:第一光源开口，用于接收来自所述光源的第一入射束；以及，第二光源开口，用于接收来自所述光源的第二入射束；所述检测器开口包含:第一检测器开口，用于从所述第二端部接收所述最后形态的反射束，并且将所述最后形态的反射束导向所述检测器，所述最后形态的反射束对应于所述第一入射束；以及，第二检测器开口，用于从所述第二端部接收所述第二入射束的形态，并且将所述第二入射束的形态导向所述检测器和反射器部件中的至少一个，用于将所述第二入射束的形态导向所述检测器。根据一些实施方案，所述光源包含一个或多个光源部件，并且所述第一入射束和所述第二入射束中的每一个由不同的光源部件提供。根据一些实施方案，所述检测器包含一个或多个检测器部件，且每一检测器开口被设置以将相应的光束引导至不同的检测器部件。根据一些实施方案，所述一个或多个检测器部件包括第一检测器部件和第二检测器部件，所述第二检测器部件被定位在所述气室组件的与所述第一检测器部件不同的一端处；所述第一检测器开口将所述最后形态的反射束导向所述第一检测器部件；以及，所述第二检测器开口将所述第二入射束的形态导向所述反射器部件，并且所述反射器部件将所述第二入射束的形态导向所述第二检测器部件。根据一些实施方案，所述第二光源开口被设置在所述第一反射面的基本中央位置；以及，所述第二检测器开口被设置在所述第二反射面的基本中央位置处，所述第二检测器开口相对于所述第二光源开口被定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种气室组件，包含：气室主体，该气室主体具有：接收来自气体源的气体样本的入口；沿着所述主体的纵向轴线的第一端部，所述第一端部允许光传送进出于所述主体，并且所述第一端部接收来自光源的入射束；与所述第一端部基本相对的第二端部，所述第二端部允许光传送进出于所述主体；以及与所述入口联接的通道，所述通道的长度由所述第一端部和所述第二端部限定，所述通道为所述气体样本以及至少所述第一端部和所述第二端部之间的入射束提供路径；定位于所述主体外部的一个或多个反射面，所述一个或多个反射面包括与所述第二端部基本相对的反射面，所述一个或多个反射面从所述主体接收一种或多种形态的所述入射束并且将每种形态的所述入射束反射向所述主体；以及检测器，其用以从所述第一端部和所述第二端部之一接收最后形态的反射束，所述最后的反射束是由所述一个或多个反射面导向所述检测器的反射束，所述检测器用以将对应于所述最后形态的反射束数据信号传送到一个处理单元，所述处理单元基于所述数据信号分析所述气体样本。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：A·查达，吴世民，
申请(专利权)人：优胜光分联营公司，优胜光分仪器南京有限公司，
类型：发明
国别省市：加拿大;CA