一种光学检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学检测设备，包括机架、设置在机架上方的基台和工作台装置，所述工作台装置包括第一工作台组件和与第一工作台组件相连的第二工作台组件，所述第一工作台组件设置在基台上并相对基台沿Y方向运动，所述第二工作台组件与第一工作台组件位于同一水平方向。本实用新型专利技术提供一种光学检测设备，结构简单，能适用多种型号尺寸的印制板的加工，大大提高了加工范围。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及印制板的检测领域，尤其涉及一种能对印制板进行自动扫描的光学检测设备。
技术介绍
现在，对印刷线路板的精度要求越来越高，印制板一般经过:镀铜、镀锡-扫描、检修-剪板-钻孔-线路、电路-二次检修等工艺，印制板经过镀铜、镀锡工艺后后，印制板会存在开路、断路、掉油、缺口等等缺陷，这些缺陷往往通过肉眼是看不到的，需要通过专门的光学检测设备来进行扫描缺陷，光学检测设备扫描印制板，将存在的缺陷记录储存，储存的信息传送给下一道工序进行修正。现有技术中，光学检测设备还存在如下的不足:(1)工作台面过小，无法供对于尺寸稍长的印制板加工，加工范围小；(2)现有的吸气装置的各个组件直接放置在机架上，运输和维修极其不便；(3)用于支撑检修真空平台的支撑架是通过折弯形成，并与机架焊接连接，使得用于放置检修真空平台的腔体小，使得用来吸住印制板的平台面积小，造成吸附力弱、气压流动不均匀，从而吸力不均匀，印制板不能平稳地被吸住，无法精确地定位印制板上的缺陷，操作员在操作过程中不稳定，易造成印制板的损坏。
技术实现思路
本技术针对现有技术中的不足，提供一种光学检测设备，结构简单，能适用多种型号尺寸的印制板的加工，大大提高了加工范围。为了解决上述技术问题，本技术通过下述技术方案得以解决:—种光学检测设备，包括机架、设置在机架上方的基台和工作台装置，所述工作台装置包括第一工作台组件和与第一工作台组件相连的第二工作台组件，所述第一工作台组件设置在基台上并相对基台沿Y方向运动，所述第二工作台组件与第一工作台组件位于同一水平方向上。进一步的，所述第二工作台组件包括与基台相连的至少一个支撑架和设置在支撑架上方的支架组件。进一步的，还包括设置在第一工作台组件上的连接架，所述支架组件一端与连接架相连，另一端通过连接块与支撑架相连。进一步的，所述第一工作台组件通过第一滑动装置相对基台沿Y方向运动，所述第一滑动装置包括至少两个设置在基台上且呈平行设置的导轨一和设置在工作台装置上的且与导轨一滑动配合的滑块一以及驱动所述工作台装置相对基台运动的第一驱动机构。进一步的，所述第一工作台组件为真空平台，包括与所述基台相连的支撑平台和设置在支撑平台上的工作平台。进一步的，所述支撑平台上设有空腔，所述工作平台与所述支撑平台的空腔形成用于吸住工件的真空腔，所述工作平台上设有与真空腔相通的吸附孔。进一步的，还包括与工作台装置相连的吸气装置，所述吸气装置包括吸气组件和容纳所述吸气组件的箱体，所述吸气组件包括风机、三通阀和消音器，所述三通阀分别与风机、消音器以及外界相连，所述消音器的出口通过管道一与真空腔相连。本技术取得如下的有益效果:在原有的工作台的延长线上还设有第二工作台组件，能用于更大尺寸范围的印制板的加工，大大提高了工作范围，且结构简单。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。【附图说明】此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中:图1为本技术一种光学检测设备实施例的结构示意图；图2为本技术一种去除壳体的光学检测设备实施例的结构示意图；图3为本技术一种光学检测设备实施例的主视图；图4为本技术第二工作组件的结构示意图；图5为本技术一种去除扫描机构的光学检测设备实施例的结构示意图；图6为本技术工作台装置与第一滑动装置连接的结构示意图；图7为本技术工作台装置与吸气装置连接的结构示意图；图8为本技术工作台装置的剖视图；图9为本技术吸气装置的结构示意图。【具体实施方式】为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例的附图，对本技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底” “内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。如图1和2所示，作为本技术的实施例，一种光学检测设备，包括机架100、设置在机架100上方的基台200、设置在基台200上并相对基台200沿Y方向运动的工作台装置300和设置在工作台装置300上方的横梁结构400以及设置在横梁结构400上的扫描机构500，在扫描机构500和横梁结构400上方加盖壳体600，防止上方的灰尘等杂物进入到检测仪内部，影响检测仪的检测，同理机架100周围也加盖壳体600，防止下方的灰尘等杂物进入到检测仪内部，影响检测仪的检测，壳体600优选由钣金结构制成，加工简单，大大提高工作效率。在本实施例中，工作台装置300包括要相对基台200沿Y方向运动，扫描机构500要相对横梁结构400沿X方向运动，因此，承载工作当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学检测设备，包括机架、设置在机架上方的基台和工作台装置，其特征在于：所述工作台装置包括第一工作台组件和与第一工作台组件相连的第二工作台组件，所述第一工作台组件设置在基台上并相对基台沿Y方向运动，所述第二工作台组件与第一工作台组件位于同一水平方向。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张方德，邵和兴，
申请(专利权)人：浙江欧威科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33