基质辅助激光解析离子源进出样装置制造方法及图纸

技术编号:12909120 阅读:157 留言:0更新日期:2016-02-24 15:16
本发明专利技术公开了一种基质辅助激光解析离子源进出样装置,包括真空密封腔以及设置在真空密封腔内沿其水平导轨左右移动的运动平台,在运动平台上方设置有用于放置离子源靶板的靶槽,在真空密封腔外设置有与其内腔相连通的分子泵;真空密封腔的上盖板一侧开设有与靶槽形状相匹配的通槽,位于通槽一侧的上盖板板面上铰接的密封压盖内侧开设有用于放置离子源样品的凹槽;在运动平台的顶部对称设置有靶槽定位柱,靶槽活动放置在靶槽定位柱上;与通槽位置相对应的真空密封腔底板上设置有用于推送和顶起靶槽的推送顶起机构。本发明专利技术结构简单、坚固耐用,使用寿命长,避免了采用步进电机传动带来的故障率较高的缺陷,大大降低了生产和使用成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及基质辅助激光解析(MALDI)离子源
,尤其是涉及一种基质辅助激光解析离子源进出样装置
技术介绍
基质辅助激光解析离子源是对固态样品进行解析的过程,样品在常压下制作,形成固体,经过进样机构进入真空系统,由定位机构进行精确定位,使样品在一个特定的区域内进行解析。解析过程中,激光在极短的时间对样品提供高的能量,对它们进行极快的加热,使离子源中的基质分子能有效地吸收激光的能量,并间接地传给样品分子,样品分子因此得到电离,然后离子在高压作用下进入检测器,完成进样。基质辅助激光解析(MALDI)离子源进样装置对于整个设备是至关重要的。待测样品(多为生物样品)不能直接从常压环境中在极短的时间内转变为高真空环境,因此进样装置需要保证样品从常压环境逐步进入到高真空环境,让检测样品有个适应过程,这样就不会对样品解析造成大的影响。为解决上述技术问题,中国专利技术专利(专利号201220117195.4,专利技术名称《基质辅助激光解析离子源进样装置》)提供了一种多级进样即样品通过第一级进样组件、第二级进样组件和密封门组件的配合,能够将样品从常压环境平稳的送入高真空环境内,使样品在进样中逐渐适应真空度,保证了样品的检测质量。但是,整体结构较为复杂,同时由于各级进样组件均是通过步进电机带动工作,易出现故障,导致生产及使用成本较高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种结构简单,坚固耐用的基质辅助激光解析离子源进出样装置。为实现上述目的,本专利技术可采取下述技术方案: 本专利技术所述的基质辅助激光解析离子源进出样装置,包括真空密封腔以及设置在所述真空密封腔内沿其水平导轨左右移动的运动平台,在所述运动平台上方设置有用于放置离子源靶板的靶槽,在所述真空密封腔外设置有与其内腔相连通的分子栗; 所述真空密封腔的上盖板一侧开设有与所述靶槽形状相匹配的通槽,位于所述通槽一侧的上盖板板面上铰接的密封压盖内侧开设有用于放置离子源样品的凹槽;在所述运动平台的顶部对称设置有靶槽定位柱,所述靶槽活动放置在所述靶槽定位柱上; 与所述通槽位置相对应的真空密封腔底板上设置有用于推送和顶起靶槽的推送顶起机构。所述推送顶起机构包括推送架和顶起架: 所述推送架包括固定在所述真空密封腔底板上的推送架底座,以及对称铰接在所述推送架底座后部向右侧倾斜的的支撑杆,所述支撑杆的顶部水平铰接有托放所述靶槽的托台;所述推送架底座的前部对称铰接有V形结构的定位板,在所述定位板的两侧顶部分别设置有左滚轮和右滚轮; 所述顶起架包括卡放在所述推送架底座后部的基座以及对称设置在所述基座两侧开口向右的U形支杆,在所述基座后部向上延伸设置有纵向支杆,所述U形支杆和纵向支杆之间铰接有两连杆机构,所述两连杆机构中间的连接横轴上套装有顶套,自所述纵向支杆的顶部向右下方延伸设置的框架底部设置有水平挡柱;在所述U形支杆的下部设置有限位开关; 靠近所述推送顶起机构的运动平台底部间隔设置有与两侧所述定位板位置相对应的第一挡块,在两第一挡块之间设置有与所述水平挡柱位置相对应的带有挂钩的第二挡块。所述密封压盖向外延伸设置有抬压把手。本专利技术的优点在于以简单的连杆机构实现了离子源靶槽的推送和顶起,利用真空密封腔的上盖板、靶槽和密封压盖之间围成的密封空间作为低真空腔,原有的真空密封腔作为高真空腔,可使样品从常压环境平稳的进入高真空环境,保证了样品的检测质量。同时,本专利技术结构简单、坚固耐用,使用寿命长,避免了采用步进电机传动带来的故障率较高的缺陷,大大降低了生产和使用成本。【附图说明】图1是本专利技术的结构示意图。图2是图1中推送架的结构示意图。图3是图1中顶起架的结构示意图。图4是图1中运动平台的结构示意图。图5~图11是本专利技术的进出样装置工作时运动平台和推送架、顶起架之间的位置关系不意图。【具体实施方式】如图1、4所示,本专利技术所述的基质辅助激光解析离子源进出样装置,包括真空密封腔1以及设置在真空密封腔内沿其水平导轨左右移动的运动平台2,在运动平台2上方设置有用于放置离子源靶板的靶槽3,在真空密封腔外设置有与其内腔相连通的分子栗4 ;在真空密封腔的上盖板5 —侧开设有与靶槽形状相匹配的通槽6,位于通槽一侧的上盖板板面上铰接的密封压盖7内侧开设有用于放置离子源样品的凹槽8 ;在运动平台2的顶部对称设置有靶槽定位柱9,靶槽3活动放置在靶槽定位柱9上;与通槽3位置相对应的真空密封腔1底板上设置有用于推送和顶起靶槽3的推送顶起机构。工作时,运动平台2 (顶部放有靶槽3)从检测位左移至推送顶起机构处,利用推送顶起机构将靶槽3送入真空密封腔的上盖板5上开设的通槽6中,打开密封压盖7,先将离子源靶板放入靶槽3中,再将离子源样品放入靶槽3内的离子源靶板上,然后合上密封压盖7,这时,离子源样品正好置于密封压盖7内侧的凹槽8,此时由真空密封腔的上盖板5、靶槽3和密封压盖7之间围成的密封空间即形成低真空腔,经过短暂停留(约为十几秒左右),推送顶起机构回落,靶槽3从通槽6中退回进入真空密封腔1内(高真空腔),靶槽3再次放置在运动平台2上,右移运行至检测位置后即可进行解析。由于样品从外部的常压环境经过低真空腔后再进入高真空环境,保证了样品的检测质量。为实现对靶槽的推送和顶起,本专利技术采用了由推送架和顶起架构成的推送顶起机构: 如图2所示,推送架包括固定在真空密封腔底板上的推送架底座101,以及对称铰接在推送架底座101后部向右侧倾斜的的支撑杆102,支撑杆102的顶部水平铰接有托放靶槽的托台103 ;推送架底座10当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基质辅助激光解析离子源进出样装置,包括真空密封腔(1)以及设置在所述真空密封腔内沿其水平导轨左右移动的运动平台(2),在所述运动平台(2)上方设置有用于放置离子源靶板的靶槽(3),在所述真空密封腔外设置有与其内腔相连通的分子泵(4);其特征在于:所述真空密封腔的上盖板(5)一侧开设有与所述靶槽形状相匹配的通槽(6),位于所述通槽一侧的上盖板板面上铰接的密封压盖(7)内侧开设有用于放置离子源样品的凹槽(8);在所述运动平台(2)的顶部对称设置有靶槽定位柱(9),所述靶槽(3)活动放置在所述靶槽定位柱(9)上;与所述通槽(3)位置相对应的真空密封腔(1)底板上设置有用于推送和顶起靶槽的推送顶起机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡克亚张彤吴鹏鹏宋家玉张瑞峰李向广王家杰李传华郭光辉李康康王晓锦曹洁茹刘伟伟刘聪吴学炜
申请(专利权)人:安图实验仪器郑州有限公司
类型:发明
国别省市:河南;41

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