本实用新型专利技术提供一种带有表面刻度的平板探测器，包括：一平板探测器，所述平板探测器的探测面板上设置有局部采集区域，所述探测面板上设置有与所述局部采集区域对应的正面刻度，所述平板探测器的侧边上设置有与所述局部采集区域对应的侧边刻度。本实用新型专利技术的带有表面刻度的平板探测器通过增加局部采集区域及其正面刻度和侧边刻度实现从待检测物的正面和侧面对局部图像采集进行精确定位，提高了平板探测器的局部图像采集质量和检测的灵活性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及平板探测领域，特别是涉及一种带有表面刻度的平板探测器。
技术介绍
X射线探测器经历了百年的发展，由传统的胶片式逐渐发展至当今的数字式，这其中又经历了 CR探测器、(XD X射线探测器、(XD拼接式X射线探测器以及目前最为主流的X射线平板探测器。X射线平板探测器可以捕获X光，将被测物体的X射线影像转变为数字图像以便于查看、分析、存储以及传播，其被广泛应用于医疗、生物、材料和工业检测等领域。X射线平板探测器可分为直接成像式和间接成像式两种，直接成像式探测器直接将X射线转变为电信号，而间接成像式探测器结构由闪烁材料或荧光材料层、具有光电二极管作用的非晶硅层以及TFT阵列构成，先采用一层闪烁体或荧光材料将X射线变为可见光，再由可见光探测器将其转变为电信号。在获取电信号后，探测器通过滤波、放大以及模数转换后，将数据按照一定的格式传送给计算机进行显示和存储。平板探测器通过整个探测面板对待检测物进行图像采集，但是当仅对待检测物的局部进行检测，例如待检测物的四分之一区域，此时就无法实现局部图像采集。为此，平板探测器增加了非全屏图像数据采集功能，型号为NDT0505的平板探测器就设计了 zoom功能，可以通过软件的参数配置修改软件的采集功能，实现局部的图像矩阵数据采集。但是，型号为NDT0505的平板探测器缺少标示引导，没有精确地对局部图像采集区域进行划分，因此当对待检测物摆位时无法实现精确地摆位。此外，在客户使用的时候，客户有的时候会在侧面观察放置在探测器上的物体，如果此时采用zoom功能进行图像数据采集，在这种情况下，同样缺少标示引导，无法实现精确摆位。因此，如何解决平板探测器局部采集图像及局部图像的精确定位已成为本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种带有表面刻度的平板探测器，用于解决现有技术中平板探测器无法局部采集图像、局部图像定位不精确以及摆位困难等问题。为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种带有表面刻度的平板探测器，所述带有表面刻度的平板探测器至少包括:—平板探测器，所述平板探测器的探测面板上设置有局部采集区域，所述探测面板上设置有与所述局部采集区域对应的正面刻度，所述平板探测器的侧边上设置有与所述局部采集区域对应的侧边刻度。优选地，所述正面刻度包括位于所述局部采集区域外侧且相互垂直的第一刻度及第二刻度，其中，所述第一刻度的零点对应于所述局部采集区域的中心，所述第一刻度的零点的两侧分别标有正刻度和负刻度，所述第二刻度的零点对应于所述局部采集区域的中心。更优选地，所述第一刻度的精度由零点向两侧逐渐减小。优选地，所述侧边刻度包括位于所述平板探测器两相邻侧边的第三刻度及第四刻度，其中，所述第三刻度的零点对应于所述局部采集区域的中心，所述第三刻度的零点的两侧分别标有正刻度和负刻度，所述第四刻度的零点对应于所述局部采集区域的中心。更优选地，所述第三刻度的精度由零点向两侧逐渐减小。更优选地，所述侧边刻度为设置于所述平板探测器的侧边的凹槽。优选地，所述侧边刻度上标记有读数。如上所述，本技术的带有表面刻度的平板探测器，具有以下有益效果:本技术的带有表面刻度的平板探测器通过增加局部采集区域及其正面刻度和侧边刻度，实现从待检测物的正面和侧面对局部图像采集进行精确定位，提高了平板探测器的局部图像采集质量和检测的灵活性。【附图说明】图1显示为本技术的带有表面刻度的平板探测器的立体示意图。图2显示为本技术的带有表面刻度的平板探测器的主视图。图3?图4显示为本技术的带有表面刻度的平板探测器的局部放大图。元件标号说明1带有表面刻度的平板探测器11局部采集区域12正面刻度121第一刻度122第二刻度13侧边刻度131第三刻度132第四刻度【具体实施方式】以下通过特定的具体实例说明本技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点与功效。本技术还可以通过另外不同的【具体实施方式】加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本技术的精神下进行各种修饰或改变。请参阅图1?图4。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本技术的基本构想，遂图式中仅显示与本技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。如图1?图4所示，本技术提供一种带有表面刻度的平板探测器1，所述带有表面刻度的平板探测器1至少包括:一平板探测器，所述平板探测器包括探测面板、背部盖板、位于所述探测面板和所述背部盖板之间的控制电路，以及四个侧边。四个侧边分别为上侦_、下侧边、左侧边以及右侧边，所述上侧边和所述下侧边与X轴平行，所述左侧边和所述右侧边与Y轴平行。所述平板探测器的探测面板上设置有局部采集区域11，所述探测面板上设置有与所述局部采集区域11对应的正面刻度12，所述平板探测器的侧边上设置有与所述局部采集区域11对应的侧边刻度13，通过所述正面刻度12以及所述侧边刻度13可实现局部图像采集的精确定位。如图1?图2所示，在本实施例中，所述探测面板上设置有矩形的局部采集区域11，所述局部采集区域11的面积为所述探测面板的四分之一。所述局部采集区域11的形状以及面积可根据实际需要做具体的设定当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种带有表面刻度的平板探测器，其特征在于，所述带有表面刻度的平板探测器至少包括：一平板探测器，所述平板探测器的探测面板上设置有局部采集区域，所述探测面板上设置有与所述局部采集区域对应的正面刻度，所述平板探测器的侧边上设置有与所述局部采集区域对应的侧边刻度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王杰杰，于祥国，
申请(专利权)人：上海奕瑞光电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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