本发明专利技术公开一种用于红外测试中的承载装置，包括：承载组件，包括用于承载待测试的样品的斜面及遮光板，其中，所述遮光板上设置有通孔，所述待测的样品接收来自所述通孔的光；挡光组件，邻近于所述通孔设置，用于改变所述通孔的通光面积；偏振元件，固定设置在所述遮光板的入光侧，用于调节入射到所述通孔的光的偏振模式。本发明专利技术的承载装置，可以实现红外光在待测试的样品中的波导传输，保证红外探测器接收到的红外光均为经待测试的样品吸收后透过的红外光，并且可保证待测试的样品放置位置的可重复性，能够减少其他多余背景光及光学干涉导致的影响，提高待测试的样品的吸收效率，获得高信噪比的待测试的样品对红外光的吸收光谱与透射光谱。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及红外测试领域，具体地说，涉及一种用于红外测试中的承载装置。
技术介绍
现有技术中，红外测试系统主要包括傅里叶红外光谱仪、测试载台、光学偏振元件、光学聚焦元件、制冷系统、真空系统及电学仪表等组成部分。红外吸收或红外透射测试的基本原理是红外光源经过迈克尔逊干涉仪产生干涉光并垂直入射到样品截面，样品吸收相应的红外波段，其余透过的红外光被对应波段的红外探测器探测接收并转换为电信号传送到计算机，计算机经过傅里叶变换得到样品的红外吸收光谱或红外透射光谱。此外，红外干涉光经过样品的传输光路通常很短，吸收效率不高，红外探测器探测到的信号对比强度较弱，分析样品的红外干涉光不能获得足够准确的样品信息。量子阱红外探测器是一种常用的红外探测器，但是受到量子选择定则的限制，垂直入射到量子阱结构样品表面的红外光无法被吸收，需要引入一定的耦合方式。波导耦合是一种常用的高效光耦合方式，红外光以预定的倾斜角入射到样品内部，在样品内部进行多次反射以提高样品对红外光的吸收效率，而后利用红外测试系统对量子阱结构样品的红外吸收特性及红外探测器的光电性能进行有效地表征。为了实现波导耦合，需要将样品的某个截面磨成45°角或者将两个相对截面磨成平行的45°角，并使用具有45°角的斜面的承载装置辅助测试人员进行测试。然而，现有的承载装置承载待测试的样品，使得在待测试的样品对红外光的吸收与透射的测试中数据不够准确，并且多次测试不易重复。
技术实现思路
为了解决上述现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种用于红外测试中的承载装置，其包括:承载组件，包括用于承载待测试的样品的斜面及遮光板，其中，所述遮光板上设置有通孔，所述待测的样品接收来自所述通孔的光；挡光组件，邻近于所述通孔设置，用于改变所述通孔的通光面积；偏振元件，固定设置在所述遮光板的入光侧，用于调节入射到所述通孔的光的偏振模式。进一步地，所述承载台还包括:固定元件，设置在所述斜面上，用于固定承载在所述斜面上的所述待测试的样品。进一步地，所述斜面上设置有第一测量标记及与所述第一测量标记垂直的第二测量标记，其中，所述第一测量标记与所述第二测量标记用于测量所述待测试的样品的位置坐标。进一步地，所述承载组件还包括直角三角台，其中，所述直角三角台具有所述斜面、在第二方向上的第二直角面以及在第一方向上的第一直角面，所述遮光板与所述第一直角面固定连接，其中，所述第一方向与所述第二方向相互垂直。进一步地，所述挡光组件包括第一方向挡光片及第二方向挡光片，其中，所述第一方向挡光片用于减小所述通孔在第一方向上的通光直径，所述第二方向挡光片用于减小所述通孔在第二方向上的通光直径。进一步地，所述承载台还包括:固定孔，其贯穿所述直角三角台的相对的两个平行侧面，用于与支撑架固定连接。进一步地，所述偏振元件包括环形底座及与所述环形底座相对设置的环形起偏件，其中，所述环形底座包括固定杆，所述环形起偏件包括通槽，所述固定杆置于所述通槽中，其中，通过调节所述固定杆在所述通槽中的位置来调节入射到所述通孔的光的偏振模式。进一步地，所述环形底座固定设置在所述遮光板的入光侧面上，以环绕所述通孔，其中，所述环形底座的与所述入光侧面相对的表面上设置有凹槽，所述第一方向挡光片设置在所述凹槽中。进一步地，所述环形起偏件的侧端设置有旋转件，其中，所述旋转件用于旋转所述环形起偏件，以使所述固定杆沿着所述通槽转动，从而调节入射到所述通孔的光的偏振模° °本专利技术的用于红外测试中承载装置，可以实现红外光在待测试的样品中的波导传输，保证红外探测器接收到的红外光均为经过待测试的样品吸收后透过的红外光，并且可保证待测试的样品放置位置的可重复性，能够减少其他多余背景光及光学干涉导致的影响，提高待测试的样品的吸收效率，获得高信噪比的且更准确的待测试的样品对红外光的吸收光谱与透射光谱。此外，该承载装置结构简单灵活，安装方便，并可用来测试样品对不同偏振方向红外光的吸收特性。【附图说明】通过结合附图进行的以下描述，本专利技术的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚，附图中:图1是根据本专利技术的实施例的用于红外测试中的承载装置的侧视示意图；图2是图1的左视示意图；图3是图1的右视示意图。【具体实施方式】以下，将参照附图来详细描述本专利技术的实施例。然而，可以以许多不同的形式来实施本专利技术，并且本专利技术不应该被解释为限制于这里阐述的具体实施例。相反，提供这些实施例是为了解释本专利技术的原理及其实际应用，从而使本领域的其他技术人员能够理解本专利技术的各种实施例和适合于特定预期应用的各种修改。图1是根据本专利技术的实施例的用于红外测试中的承载装置的侧视示意图。图2是图1的左视意图。图3是图1的右视意图。参照图1至图3，根据本专利技术的实施例的用于红外测试中的承载装置包括:直角三角台10、遮光板20、第一方向挡光片31、第二方向挡光片32及偏振兀件40。直角三角台10包括:用于承载待测试的样品80的斜面11、在第二方向上的第二直角面12、在第一方向上的第一直角面13以及相对平行的第一平行侧面14与第二平行侧面15。其中，斜面11与第一直角面13的夹角优选为45°，但本专利技术并不限制于此。在本实施例中，第一方向可为水平方向，第二方向可为垂直方向，但本专利技术并不限制于此。遮光板20与第二直角面12固定连接，并且遮光板20的底端与第一直角面13所在平面平齐，遮光板20的顶端高于斜面11的另一端112。这样使得斜面11的一端111与遮光板20的底端处于同一平面(即第一直角面13所在平面)，并使斜面11的另一端112抵靠在遮光板20上。遮光板20上具有用于通光的通孔21，其中，该通孔21位于抵靠在遮光板20上的斜面11的另一端112之上。第一方向挡光片31沿第一方向邻近于通孔21设置，用于沿第一方向减小通孔21的通光面积。第二方向挡光片32沿第二方向邻近于通孔21设置，用于沿第二方向减小通孔21的通光面积。这样，通过第一方向挡光片31沿第一方向减小通孔21的通光面积及通过第二方向挡光片32沿第二方向减小通孔21的通光面积，来使得通孔21的通光面积减小，从而保证通过通孔21的光仅入射至待测试的样品80的侧面81上。换句话说，通过减小通孔21的通光面积，使得通孔21的通光面积小于待测试的样品80的侧面81的面积。此外，在本实施例中，样品80的侧面81与另一侧面82，其中，另一侧面82与斜面11的夹角可为45°。偏振元件40固定设置在遮光板20的入光侧面22上，用于调节入射到通孔21的光的偏振模式。这里，偏振元件40可通过旋转偏振角度来将入射到通孔21的光调节为垂直偏振光(即沿第二方向振动的光)或水平偏振光(即沿第一方向振动的光)。当然，在本专利技术中，偏振元件40也可固定设置在遮光板20的入光侧面22与红外光发射器之间，同样可以达到上述的目的。此外，为了便于将入射到通孔21的光调节为垂直偏振光或水平偏振光，偏振元件40包括环形底座41及环形起偏件42。环形底座41固定设置在遮光板20的入光侧面22上，以环绕通孔21，并且其上设置至少两个固定杆411。此外，环形底座41的与入光侧面22相对的表面当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于红外测试中的承载装置，其特征在于，包括：承载组件，包括用于承载待测试的样品的斜面及遮光板，其中，所述遮光板上设置有通孔，所述待测的样品接收来自所述通孔的光；挡光组件，邻近于所述通孔设置，用于改变所述通孔的通光面积；偏振元件，固定设置在所述遮光板的入光侧，用于调节入射到所述通孔的光的偏振模式。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：付凯，高华杰，熊敏，李海军，曾春红，张宝顺，
申请(专利权)人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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