氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法技术

本发明专利技术涉及氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法。该方法包括以下步骤：步骤一：从氧化钨粉体中任取n个样品，对n个样品中的每一个测量m次比表面积值，由此形成n个比表面积值组，n、m均为正整数；步骤二：对于具有异常的比表面积值的比表面积值组，重新测量m次比表面积值，直到n个比表面积值组中的每一组均没有异常的比表面积值；步骤三：计算n个比表面积值组的每一组的比表面积平均值，得到具有n个比表面积平均值的平均值组；步骤四：处理平均值组，得到没有异常的比表面积平均值的数组；步骤五：计算得到数组的数组平均值，数组平均值为氧化钨粉体标准样品的比表面积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及合金领域，特别涉及氧化钨粉体标准样品的比表面积表征方法。
技术介绍
比表面积是评价粉体材料性能的一项重要指标，而且需要通过仪器进行准确测量。对于硬质合金原料粉体，例如氧化钨粉、钨粉、碳化钨粉而言，通常需要分析氮吸附比表面积，以评价粉体的品质和性能。为了能准确地测量粉体的比表面积，必须要使用比表面积标准样品对分析仪器进行校准，并且对分析方法进行评价等。目前，通常使用的比表面积标准样品多达几十种，这些标准样品的材料主要是炭黑、氧化铝、二氧化钛、二氧化硅等。但是，表征这些材料的比表面积的方法非常繁琐，比表面积标准样品的制备也就非常不方便。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提出了一种氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法。根据本专利技术的氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法，包括以下步骤：步骤一：从氧化钨粉体中任取n个样品，对n个样品中的每一个测量m次比表面积值，由此形成n个比表面积值组，n、m均为正整数；步骤二：对于具有异常的比表面积值的比表面积值组，重新测量m次比表面积值，直到n个比表面积值组中的每一组均没有异常的比表面积值；步骤三：计算n个比表面积值组的每一组的比表面积平均值，得到具有n个比表面积平均值的平均值组；步骤四：处理平均值组，得到没有异常的比表面积平均值的数组；步骤五：计算得到数组的数组平均值，数组平均值为氧化钨粉体标准样品的比表面积。根据本专利技术的方法，仅需要测量氧化钨粉体标准样品的多个比表面积，并且对这些比表面积值进行统计处理，就能够得到氧化钨粉体标准样品的比表面积。这种表征方法仅需要比表面积测试仪，并不需要其他的实验设备，从而大大简化了表征方法，比表面积标准样品的制备也就非常方便。此外，通过步骤二可以除去异常的比表面积值，由此保证了所得到的氧化钨粉体标准样品的比表面积的准确性。在一个实施例中，在步骤二中，对n个比表面积值组中的每一组进行格拉布斯检验，当所检验的比表面积值组的统计量G小于临界值G0.05时，所检验的比表面积值组没有异常的比表面积值。在一个实施例中，在步骤二中，对n个比表面积值组中的每一组进行狄克逊检验，当所检验的比表面积值组的统计量r1、rn小于临界值f(0.05,n)时，所检验的比表面积值组没有异常的比表面积值。在一个实施例中，在步骤三中，比表面积平均值是算术平均值。在一个实施例中，在步骤四中，对平均值组进行格拉布斯检验，当所检验的统计量G小于临界值G0.05时，平均值组没有异常的比表面积平均值。在一个实施例中，在步骤四中，对平均值组进行狄克逊检验，当所检验的统计量r1、rn均小于临界值f(0.05,n)时，平均值组没有异常的比表面积平均值。在一个优选地实施例中，当平均值组具有异常的比表面积平均值时，除去异常的比表面积平均值，从而得到没有异常的比表面积平均值的数组。这样，除去了异常的比表面积平均值，由此保证了所得到的氧化钨粉体标准样品的比表面积的准确性。在另一个优选的实施方案中，当平均值组具有异常的比表面积平均值时，重新测量异常的比表面积平均值对应的比表面积值组中的m个比表面积值，然后进行步骤二、三和四，直到得到没有异常的比表面积平均值的数组。根据这种方法，不但除去了异常的比表面积平均值，而且总的统计数据量并没有减少，从而有助于进一步保证所得到的氧化钨粉体标准样品的比表面积的准确性。在一个实施例中，在步骤五中，对数组进行科克伦检测，当所检验的统计量C小于临界值C0.01时，该数组平均值是算术平均值。在一个实施例中，当所检验的统计量C大于临界值C0.01时，数组平均值是加权平均值。在本申请中，用语“格拉布斯检验”、“狄克逊检验”和“克伦检测”均是本领域的技术人员所熟知的检测方式，为了简单起见，不在详细描述其检测步骤。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：(1)本专利技术的方法仅需要测量氧化钨粉体标准样品的多个比表面积，并且对这些比表面积值进行统计处理，就能够得到氧化钨粉体标准样品的比表面积。这种表征方法仅需要比表面积测试仪，并不需要其他的实验设备，从而大大简化了表征方法，比表面积标准样品的制备也就非常方便。(2)在本专利技术的方法中，删除了各个步骤中的异常值，保证了所得到的氧化钨粉体标准样品的比表面积的准确性。具体实施方式下面将根据实施例对本专利技术作进一步说明。实施例1：从第一氧化钨粉体中任取11个样品，在相同的实验条件下使用惰性气体吸附法测量每个样品的比表面积值，其中每一个样品测量8次。这样就形成了11个比表面积值组，每个比表面积值组中有8个比表面积值，如表1所示。表1接下来，对11个比表面积值组中的每一组进行狄克逊检验，以判断该比表面积值组中有没有异常的比表面积值。表1显示了狄克逊检验的结果。从表1中可看出，所得到的所有的r1和r8的值均小于f(0.05,8)的值，也就是说11个比表面积值组中都没有异常的比表面积值。接下来，计算11个比表面积值组的每一组的比表面积的算术平均值，得到具有11个比表面积平均值的平均值组。如表2所示。接下来，对平均值组进行格拉布斯检验，以判断该平均值组中有没有异常的比表面积平均值。经计算，该平均值组的统计量Gmax值为2.030，Gmin值为1.729，而在格拉布斯检验中临界值G0.05的值为2.355，即平均值组的格拉布斯统计量小于临界值G0.05。因此，该平均值组内是没有异常的比表面积平均值的数组。表2接下来，对该数组进行科克伦检测。经计算，该数组的统计量Cmax为0.2845，而在科克伦检测中，临界值C0.01为0.2893。因此，该数组的科克伦统计量小于临界值C0.01。在这种情况下，第一氧化钨粉体的比表面积是该数组的算术平均值，即为2.844m2/g。实施例2：在实施例2中，从第二氧化钨粉体中任取9个样品，在相同的实验条件下使用惰性气体吸附法测量每个样品的比表面积值，其中每一个样品测量8次。这样就形成了9个比表面积值组，每个比表面积值组中有8个比表面积值，如表3所示。表3接下来，对9个比表面积值组中的每一组进行格拉布斯检验，以判断该比表面积值组中有没有异常的比表面积值。表3显示了格拉布斯检验的结果。从表3中可看出，所得到的所有的Gmax和Gmin的值均小于G0.05的值，也就是说9个比表面积值组中都没有异常的比表面积值。接下来，计算9个比表面积值组的每一组的比表面积的算术平均值，得到具...

【技术保护点】
一种氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法，包括以下步骤：步骤一：从所述氧化钨粉体中任取n个样品，对所述n个样品中的每一个测量m次比表面积值，由此形成n个比表面积值组，n、m均为正整数；步骤二：对于具有异常的比表面积值的比表面积值组，重新测量m次比表面积值，直到n个比表面积值组中的每一组均没有异常的比表面积值；步骤三：计算所述n个比表面积值组的每一组的比表面积平均值，得到具有n个比表面积平均值的平均值组；步骤四：处理所述平均值组，得到没有异常的比表面积平均值的数组；步骤五：计算得到所述数组的数组平均值，所述数组平均值为所述氧化钨粉体标准样品的比表面积。

【技术特征摘要】
1.一种氧化钨粉体比表面积标准样品的表征方法，包括以下步骤：
步骤一：从所述氧化钨粉体中任取n个样品，对所述n个样品中的每一个测
量m次比表面积值，由此形成n个比表面积值组，n、m均为正整数；
步骤二：对于具有异常的比表面积值的比表面积值组，重新测量m次比表面
积值，直到n个比表面积值组中的每一组均没有异常的比表面积值；
步骤三：计算所述n个比表面积值组的每一组的比表面积平均值，得到具有
n个比表面积平均值的平均值组；
步骤四：处理所述平均值组，得到没有异常的比表面积平均值的数组；
步骤五：计算得到所述数组的数组平均值，所述数组平均值为所述氧化钨粉
体标准样品的比表面积。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤二中，对所述n
个比表面积值组中的每一组进行格拉布斯检验，当所检验的比表面积值组的统计
量G小于临界值G0.05时，所检验的比表面积值组没有异常的比表面积值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤二中，对所述n
个比表面积值组中的每一组进行狄克逊检验，当所检验的比表面积值组的统计量
r1、rn均小于临界值f(0.05,n)时，所检验的比表面积值组没有异常的比表面积值。
4.根据权利要求1到3中任一项所述的方法，其特征在于，在所述步骤三
中，所述比表面积...

【专利技术属性】
技术研发人员：张颖，蒙世合，张卫东，董亮，彭宇，
申请(专利权)人：株洲硬质合金集团有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43