一种视野失真综合测试尺制造技术

本发明专利技术公开一种视野失真综合测试尺，包括第一测试尺以及第二测试尺，所述第二测试尺的长度为第一测试尺的一半，所述第二测试尺的一端转动连接在所述第一测试尺的中间位置。本发明专利技术中的综合测试尺采用折叠式的结构设计，分为转动连接的第一测试尺和第二测试尺，从而减小了尺寸，也方便了携带，满足了售后装机人员、维护/维修人员在装机现场完成一系列相关的测试和调试的需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及医疗影像设备领域，尤其涉及一种应用在数字X射线摄影系统中的视野失真综合测试尺。
技术介绍
目前，数字X射线摄影系统中通常采用“视野失真综合测试卡”来检测系统的有效区域。“视野失真综合测试卡”作为一种综合性标准工具，可以很好的测量探测器的有效区域，还可以辅助调试光野和X射线野的对中，所以非常实用。但是现有的“视野失真综合测试卡”存在一个缺点，就是测试卡需要覆盖整个探测器板面，所以尺寸较大，不方便携带，若需要外出装机和系统维护检修，就更不方便携带。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种视野失真综合测试尺，旨在解决现有的综合测试卡其尺寸大、不方便携带的问题。本专利技术的技术方案如下：一种视野失真综合测试尺，其中，包括第一测试尺以及第二测试尺，所述第二测试尺的长度为第一测试尺的一半，所述第二测试尺的一端转动连接在所述第一测试尺的中间位置。所述的视野失真综合测试尺，其中，第一测试尺和第二测试尺的刻度线用65μm厚的铜皮加工制成。所述的视野失真综合测试尺，其中，第一测试尺和第二测试尺的厚度为2mm。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺的刻度线从中间位置对称设置。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的刻度线上设置有从0到23cm之间的刻度。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的刻度线上从16到21cm之间的最小刻度设置为0.2cm。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的刻度线上从21到23cm之间的最小刻度设置为0.1cm。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的主体材料为环氧树脂。所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺采用PCB板制板的方式制作。有益效果：本专利技术中的综合测试尺采用折叠式的结构设计，分为转动连接的第一测试尺和第二测试尺，从而减小了尺寸，也方便了携带，满足了售后装机人员、维护/维修人员在装机现场完成一系列相关的测试和调试的需求。附图说明图1为本专利技术一种视野失真综合测试尺第一状态的结构示意图。图2为本专利技术一种视野失真综合测试尺第二状态的结构示意图。图3为本专利技术一种视野失真综合测试尺的分解结构示意图。具体实施方式本专利技术提供一种视野失真综合测试尺，为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术为了现有的测试尺其尺寸较大，不方便携带的问题，提供了一种简易的视野失真综合测试尺。该测试尺采用折叠式结构设计，可以满足售后装机人员、维护/维修人员在装机现场完成一系列相关的测试和调试的需求。请参阅图1，图1为本专利技术的视野失真综合测试尺的结构示意图，如图所示，其包括：第一测试尺100以及第二测试尺200，所述第二测试尺200的长度为第一测试尺100的一半，所述第二测试尺200的一端转动连接在所述第一测试尺100的中间位置。本专利技术采用折叠式的结构，在需要使用第二测试尺200时，将第二测试尺200转出张开，如图2所示，即可使用，从而实现同时测量不同角度的长度，实现X射线下的有效区域检测。在携带或不需要使用时，可将第二测试尺200转入到第一测试尺100上，即将第二测试尺200回收，方便携带和运输等，实现测试尺的小型及便携化。所述第一测试尺100以及第二测试尺200均采用PCB板制板的方式制作测试尺，所以该本专利技术的测试尺极易复制加工并且成本较为低廉，实现其可复制和广泛性应用PCB加工工艺。所述第一测试尺100以及第二测试尺200的刻度线采用单面2oz(65μm厚)铜皮加工制成，以实现X射线下的有效区域检测。所述第一测试尺100以及第二测试尺200的厚度为2mm。本专利技术的第一测试尺100以及第二测试尺200均采用环氧树脂作为测试尺的主体材料，其成本较低，有利于推广使用，并且还有助于加工成型。所述第一测试尺100的刻度线从中间位置对称设置，即可以以中间位置为起点，两边均能进行测量。而第二测试尺200的长度为第一测试尺100的一半，所以相当于有三个同样长度的测试工具，如图3所示。第二测试尺200的刻度是从连接位置为起点，从0开始。所述第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上设置有从0到23cm之间的刻度。其中第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上从0到16cm之间的最小刻度为0.5cm。而从16到21cm之间的最小刻度设置为0.2cm。所述第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上从21到23cm之间的最小刻度设置为0.1cm。即越离中心越远，其最小刻度也越小，这样有利于提高实际测量过程中的精度。综上所述，本专利技术通过折叠式的测试尺结构，可以有效实现传统的“视野失真测试综合卡”的测试功能，并且结构简单，成本低、体积小，便于携带。应当理解的是，本专利技术的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本专利技术所附权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种视野失真综合测试尺，其特征在于，包括第一测试尺以及第二测试尺，所述第二测试尺的长度为第一测试尺的一半，所述第二测试尺的一端转动连接在所述第一测试尺的中间位置。

【技术特征摘要】
1.一种视野失真综合测试尺，其特征在于，包括第一测试尺以及第二
测试尺，所述第二测试尺的长度为第一测试尺的一半，所述第二测试尺的
一端转动连接在所述第一测试尺的中间位置。
2.根据权利要求1所述的视野失真综合测试尺，其特征在于，第一测
试尺和第二测试尺的刻度线用65μm厚的铜皮加工制成。
3.根据权利要求1所述的视野失真综合测试尺，其特征在于，第一测
试尺和第二测试尺的厚度为2mm。
4.根据权利要求1所述的视野失真综合测试尺，其特征在于，所述第
一测试尺的刻度线从中间位置对称设置。
5.根据权利要求1所述的视野失真综合测试尺，其特征在于，所述第
一测试尺和第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：周涛，
申请(专利权)人：深圳安科高技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44