本实用新型专利技术是一种压敏电阻芯片分选机，包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置，所述检测装置包括装在机座上的底盘，底盘四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口，每个出料口处均装有喷枪，在底盘内装有旋转托盘，在出料口前方的旋转托盘上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，进料装置包括加料斗，加料斗的出料口下方设有倾斜设置的滑板，滑板的前端设置在出料口后方的旋转托盘上方。本装置大大提升了分选效率，而且节约了人力资源，一个人可以同时控制多台机器进行操作，整体结构简单，分选方便，精确度高。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种分选机，特别涉及一种压敏电阻芯片分选机。
技术介绍
压敏电阻裸银芯片制作完后需要进行检测，检测其泄漏电流，即在参考电压的作用下，压敏电阻中流过的电流。然后对压敏电阻芯片进行分选。传统的方法是工人拿着检测器对芯片进行一个一个检测，之后再手动将芯片分开，这种方式需要的人力较多，而且工作效率十分低下，同时人为因素也比较高，随着疲劳度等因素的影响，使得误看错看的概率提升。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种设计合理，检测方便的压敏电阻芯片分选机。本技术所要解决的技术问题是通过以下的技术方案来实现的，本技术是一种压敏电阻芯片分选机，其特点是:包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置，所述检测装置包括装在机座上的底盘，底盘四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口，每个出料口处均装有喷枪，喷枪的喷嘴朝向出料口方向；在底盘内装有旋转托盘，沿旋转托盘的边沿均匀设有若干芯片模槽，在出料口前方的旋转托盘上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，所述每个芯片模槽中设有与下检测探针配合的检测孔；所述进料装置包括加料斗，加料斗的出料口下方设有倾斜设置的滑板，滑板的前端设置在出料口后方的旋转托盘上方，在靠近出料口处的滑板上方设有橡胶刮板；所述分选机还包括控制装置，所述控制装置与喷枪、上检测探针和下检测探针相连。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:所述底盘向下倾斜设置，倾斜角度为40-60°。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:上检测探针和下检测探针均装在探针杆上，所述探针杆与升降机构相连。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:在上检测探针和下检测探针前方的旋转托盘上方设有光电感应器。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:所述加料斗为振动加料斗。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:所述每个加料斗出料口下方对应设有一个集料盒，集料盒与出料口之间通过连接通道相接。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的压敏电阻芯片分选机中:所述控制装置为单片机。本技术通过检测装置和进料装置配合使用进行分选，检测装置上通过上检测探针和下检测探针压在压敏电阻芯片的上下面上，从而测试压敏电阻芯片的泄漏电流，然后通过喷枪将相应电压的芯片吹入对应的出料口中进行收集。与现有技术相比，本装置大大提升了分选效率，而且节约了人力资源，一个人可以同时控制多台机器进行操作，整体结构简单，分选方便，精确度高。【附图说明】图1是本技术的俯视结构示意图。图2是本技术的侧视结构示意图。【具体实施方式】以下参照附图，进一步描述本技术的具体技术方案，以便于本领域的技术人员进一步地理解本专利技术，而不构成对其权利的限制。参照图1和图2，一种压敏电阻芯片分选机，包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置。所述检测装置包括装在机座上的底盘8，底盘8向下倾斜设置，倾斜角度为40-60°。底盘8四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口 9，每个出料口 9处均装有喷枪5，喷枪5的喷嘴朝向出料口 9方向。所述每个出料口 9下方对应设有一个集料盒，集料盒与出料口 9之间通过连接通道相接。在底盘8内装有旋转托盘3，沿旋转托盘3的边沿均匀设有若干芯片模槽2。在出料口 5前方的旋转托盘3上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，所述每个芯片模槽2中设有与下检测探针配合的检测孔。上检测探针和下检测探针均装在探针杆4上，所述探针杆4与升降机构相连，在底盘8上设有供上检测探针和下检测探针上下移动缺口。在上检测探针和下检测探针前方的旋转托盘3上方设有光电感应器1，用于检测芯片模槽中是否有芯片。所述进料装置包括加料斗6，加料斗6为振动加料斗。加料斗6的出料口下方设有倾斜设置的滑板7，滑板7的前端设置在出料口后方的旋转托盘3上方，在靠近加料斗出料口处的滑板7上方设有橡胶刮板。所述分选机还包括控制装置，控制装置为单片机。所述控制装置与喷枪、上检测探针和下检测探针相连。工作时，将待检测压敏电阻芯片放入到加料斗6中，通过滑板7落入到旋转托盘3的芯片模槽2中，当旋转托盘3带动压敏电阻芯片转至探针处，上检测探针穿过芯片模槽2的检测孔向上，下检测探针向下压在压敏电阻芯片的银面上，测压敏电阻芯片的漏电流，检测结果输入到控制装置，控制装置发出信号，启动相应出料口处的喷枪5，将旋转至该出料口 9处的芯片吹入到对应的集料盒中。【主权项】1.一种压敏电阻芯片分选机，其特征在于:包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置，所述检测装置包括装在机座上的底盘，底盘四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口，每个出料口处均装有喷枪，喷枪的喷嘴朝向出料口方向；在底盘内装有旋转托盘，沿旋转托盘的边沿均匀设有若干芯片模槽，在出料口前方的旋转托盘上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，所述每个芯片模槽中设有与下检测探针配合的检测孔；所述进料装置包括加料斗，加料斗的出料口下方设有倾斜设置的滑板，滑板的前端设置在出料口后方的旋转托盘上方，在靠近出料口处的滑板上方设有橡胶刮板；所述分选机还包括控制装置，所述控制装置与喷枪、上检测探针和下检测探针相连。2.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:所述底盘向下倾斜设置，倾斜角度为40-60°。3.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:上检测探针和下检测探针均装在探针杆上，所述探针杆与升降机构相连。4.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:在上检测探针和下检测探针前方的旋转托盘上方设有光电感应器。5.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:所述加料斗为振动加料斗。6.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:所述每个加料斗出料口下方对应设有一个集料盒，集料盒与出料口之间通过连接通道相接。7.根据权利要求1所述的压敏电阻芯片分选机，其特征在于:所述控制装置为单片机。【专利摘要】本技术是一种压敏电阻芯片分选机，包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置，所述检测装置包括装在机座上的底盘，底盘四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口，每个出料口处均装有喷枪，在底盘内装有旋转托盘，在出料口前方的旋转托盘上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，进料装置包括加料斗，加料斗的出料口下方设有倾斜设置的滑板，滑板的前端设置在出料口后方的旋转托盘上方。本装置大大提升了分选效率，而且节约了人力资源，一个人可以同时控制多台机器进行操作，整体结构简单，分选方便，精确度高。【IPC分类】B07C5/344, B07C5/36【公开号】CN204892412【申请号】CN201520654199【专利技术人】魏光辉, 朱木典, 贾志伟, 刘延星 【申请人】江苏世星电子科技有限公司【公开日】2015年12本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种压敏电阻芯片分选机，其特征在于：包括检测装置，在检测装置一侧设有进料装置，所述检测装置包括装在机座上的底盘，底盘四周设有挡板，挡板的一侧设有若干出料口，每个出料口处均装有喷枪，喷枪的喷嘴朝向出料口方向；在底盘内装有旋转托盘，沿旋转托盘的边沿均匀设有若干芯片模槽，在出料口前方的旋转托盘上方设有两个与压敏电阻芯片上下表面配合的上检测探针和下检测探针，所述每个芯片模槽中设有与下检测探针配合的检测孔；所述进料装置包括加料斗，加料斗的出料口下方设有倾斜设置的滑板，滑板的前端设置在出料口后方的旋转托盘上方，在靠近出料口处的滑板上方设有橡胶刮板；所述分选机还包括控制装置，所述控制装置与喷枪、上检测探针和下检测探针相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：魏光辉，朱木典，贾志伟，刘延星，
申请(专利权)人：江苏世星电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。