本发明专利技术的一种CCD全自动检测计数包装机，包括机架、玻璃盘转体，及环绕玻璃盘转体的圆周外设置有振动盘、第一导轮、第二导轮、光纤检测机构、CCD水平检测机构、CCD第一上下检测机构、CCD第二上下检测机构、CCD下上检测机构、下料盒机构、第一吹气电磁阀、第二吹气电磁阀、次品吹气电磁阀、次品下料轨道、第一良品下料轨道、第二良品下料轨道、包装机与包装成品输送带。本发明专利技术的CCD水平检测机构可水平检测产品的尺寸，CCD第一上下检测机构可从上向下检测产品尺寸及表面不良，CCD第二上下检测机构可45度检测产品尺寸及表面不良，CCD下上检测机构可从下到上检测产品尺寸及产品表面不良，误判率为1000000之1，其对良品、次品进行下料，两条下料轨道可24小时互换不停机计数出料包装。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种C⑶全自动检测计数包装机。
技术介绍
传统对CCD的外观缺损进行检测主要是通过人工目测观察、人工筛选的操作方式来进行的，人工目测观察、人工筛选的操作方式是由人的主观意识控制的，而且每个人的主观意识的标准不一致。当生产者采用人工目测的这种检测方法不但容易产生较大的误差，造成筛选精度低，筛选效果差，无法检测工件外观的大小，工作效率低，成本高，其还无法实现每次打包装的工件是等数包装的。因此，针对传统对CCD的外观检测方法存在上述技术问题的不足，本申请人研发一种于机架上面设置有玻璃盘转体，玻璃盘转体的圆周外设置有振动盘、第一导轮、第二导轮、光纤检测机构、CCD水平检测机构、CCD第一上下检测机构、CXD第二上下检测机构、CXD下上检测机构、下料盒机构、包装机与包装成品输送带，第一导轮和第二导轮可导正待检测工件的摆放轨迹，CCD第一上下检测机构、光纤检测机构、CCD水平检测机构、CCD下上检测机构与CCD第二上下检测机构可对工件不同方向的外观及尺寸进行检测；所述下料盒机构可对良品与不良品进行分选下料，其通过第一吹气电磁阀和第二吹气电磁阀对良品进行一次吹气下料，并通过第一良品下料轨道和第二良品下料轨道进行交替定额工件下料至包装机进行良品包装，并把包装好、等数目的成品一袋袋通过包装成品输送带进行成品输送，而次品则通过次品吹气电磁阀吹送由次品下料轨道进行传送回收，其智能化、自动化操作程度高，工作效率高，效果好，成本低，其检测精准度高，误判率为1000000之I的CXD全自动检测计数包装机确属必要。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种可导正待检测工件的摆放轨迹，可对工件不同方向的外观与尺寸进行全方位检测，可对良品与不良品进行分选下料，使良品通过第一良品下料轨道和第二良品下料轨道进行交替定额工件下料至包装机，良品在包装机进行打包装时还具有确保每包工件是等数包装的功能，而打包装好的成品一袋袋通过包装成品输送带进行成品输送，不良品则通过次品吹气电磁阀吹送由次品下料轨道进行回收，其智能化、自动化操作程度高，工作效率高，效果好，成本低，其检测精准度高，误判率为1000000之I的一种CCD全自动检测计数包装机。本专利技术是通过以下技术方案来实现的: 一种CCD全自动检测计数包装机，包括机架，及设置在机架上面的玻璃盘转体，及环绕玻璃盘转体的外圆周设置有振动盘，及设置在振动盘侧边的第一导轮，及设置在第一导轮侧边的第二导轮，及设置在第二导轮侧边的光纤检测机构，及设置在光纤检测机构侧边、具有对产品进行水平检测尺寸功能的CCD水平检测机构，及设置在CCD水平检测机构侧边、用于从上向下检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第一上下检测机构，及设置在CCD第一上下检测机构侧边、用于45度放置检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第二上下检测机构，及设置在CCD第二上下检测机构侧边、用于从下向上检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD下上检测机构，及设置在CCD下上检测机构侧边的下料盒机构，及设置在机架一侧的次品下料轨道，及设置在机架另一侧、与下料盒机构连接分别设置有第一良品下料轨道与第二良品下料轨道，及与第一良品下料轨道和第二良品下料轨道的下端连接设置有包装机，及与包装机的底部连接设置有包装成品输送带。作为优选，所述玻璃盘转体的上方、与所述下料盒机构的顶部连接设置有第一吹气电磁阀，所述第一吹气电磁阀的一侧设置有第二吹气电磁阀，所述第一吹气电磁阀的另一侧设置有次品吹气电磁阀。作为优选，所述第一良品下料轨道与第二良品下料轨道进行交替定额工件下料操作。作为优选，所述次品吹气电磁阀通过次品下料轨道进行次品回收运动。本专利技术的一种CCD全自动检测计数包装机，包括机架，及设置在机架上面的玻璃盘转体，及环绕玻璃盘转体的外圆周设置有振动盘，及设置在振动盘侧边的第一导轮，及设置在第一导轮侧边的第二导轮，及设置在第二导轮侧边的光纤检测机构，及设置在光纤检测机构侧边、具有对产品进行水平检测尺寸功能的CCD水平检测机构，及设置在CCD水平检测机构侧边、用于从上向下检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第一上下检测机构，及设置在CCD第一上下检测机构侧边、用于45度放置检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第二上下检测机构，及设置在CCD第二上下检测机构侧边、用于从下向上检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD下上检测机构，及设置在CCD下上检测机构侧边的下料盒机构，及设置在机架一侧的次品下料轨道，及设置在机架另一侧、与下料盒机构连接分别设置有第一良品下料轨道与第二良品下料轨道，及与第一良品下料轨道和第二良品下料轨道的下端连接设置有包装机，及与包装机的底部连接设置有包装成品输送带。本专利技术于机架上面设置有玻璃盘转体，玻璃盘转体的圆周外设置有第一导轮、第二导轮、光纤检测机构、CCD第一上下检测机构、CCD水平检测机构、CCD下上检测机构、CCD第二上下检测机构、下料盒机构与振动盘，所述第一导轮和第二导轮可导正待检测工件的摆放轨迹，所述光纤检测机构、CXD第一上下检测机构、C⑶水平检测机构、C⑶下上检测机构和C⑶第二上下检测机构可对工件的外观与尺寸大小进行不同方向的检测；所述下料盒机构可对良品与不良品进行分选下料，所述第一吹气电磁阀和第二吹气电磁阀可对良品进行一次吹气下料，良品通过第一良品下料轨道和第二良品下料轨道进行交替定额工件下料至包装机，包装机不但实现了可对良品进行打包，其还具有检测每包工件是否等数包装的功能，包装好的成品一袋袋通过包装成品输送带进行输送，而次品则通过次品吹气电磁阀吹送由次品下料轨道传送进行回收，其智能化、自动化操作程度高，检测精准度高，工件外表尺寸检测精度达到0.01mm，工件外表尺寸检测范围大小为:1mm — 30mm，工作效率高，工件检测效率每秒达到1000个以上，打包机的打包速度为:2 — 5秒/包，效果好，工件的检测误判率为1000000之1，成本低。【附图说明】为了易于说明，本专利技术由下述的较佳实施例及附图作以详细描述。图1为本专利技术的一种CXD全自动检测计数包装机的立体图。图2为本专利技术的一种C⑶全自动检测计数包装机的另一方向的立体图。【具体实施方式】 本实施例中，如图1至图2所示，本专利技术的一种CXD全自动检测计数包装机，包括机架1，及设置在机架I上面的玻璃盘转体2，及环绕玻璃盘转体2的外圆周设置有振动盘9，及设置在振动盘9侧边的第一导轮31，及设置在第一导轮31侧边的第二导轮32，及设置在第二导轮32侧边的光纤检测机构4，及设置在光纤检测机构4侧边、具有对产品进行水平检测尺寸功能的CCD水平检测机构5，及设置在CCD水平检测机构5侧边、用于从上向下检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第一上下检测机构61，及设置在CCD第一上下检测机构61侧边、用于45度放置检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第二上下检测机构62，及设置在CCD第二上下检测机构62侧边、用于从下向上检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD下上检测机构7，及设置在CCD下上检测机构7侧边的下料盒机构8，及设置在机架I 一侧的次品下当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种CCD全自动检测计数包装机，其特征在于：包括机架，及设置在机架上面的玻璃盘转体，及环绕玻璃盘转体的外圆周设置有振动盘，及设置在振动盘侧边的第一导轮，及设置在第一导轮侧边的第二导轮，及设置在第二导轮侧边的光纤检测机构，及设置在光纤检测机构侧边、具有对产品进行水平检测尺寸功能的CCD水平检测机构，及设置在CCD水平检测机构侧边、用于从上向下检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第一上下检测机构，及设置在CCD第一上下检测机构侧边、用于45度放置检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD第二上下检测机构，及设置在CCD第二上下检测机构侧边、用于从下向上检测产品尺寸或检测产品表面不良的CCD下上检测机构，及设置在CCD下上检测机构侧边的下料盒机构，及设置在机架一侧的次品下料轨道，及设置在机架另一侧、与下料盒机构连接分别设置有第一良品下料轨道与第二良品下料轨道，及与第一良品下料轨道和第二良品下料轨道的下端连接设置有包装机，及与包装机的底部连接设置有包装成品输送带。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：卢运保，
申请(专利权)人：卢运保，
类型：发明
国别省市：广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。