本实用新型专利技术涉及一种计算机控制电光调制检测仪，光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)，所述光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)并列设置，中心处于一线。本实用新型专利技术提供的计算机控制电光调制检测仪使入射光通过一系列调制光学元件，通过对电光晶体对的调制，可计算出全部的斯托克斯参量，从而实现了电光调制分析测量。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种对偏振光进行检测的仪器，尤其涉及一种计算机控制电光调 制检测仪，属于偏振检测领域。
技术介绍
在光学遥感领域，偏振检测作为强度检测的一个补充，可以把信息量从三维扩充 到七维，有助于提高目标探测和地物识别的准确度。气溶胶偏振探测仪作为一种偏振遥感 工具，具有探测范围大，空间分辨率高和测量精度高等特点，已广泛应用于气象监测、环境 监测和大气辐射特性等领域的研究。偏振检测作为强度检测的一个有益补充，可以把信息 量从三维（光强、光谱和空间）扩充到七维（光强、光谱、空间、偏振度、偏振方位角、偏振椭 率和旋转方向），有助于提高目标探测和地物识别的准确度。近些年来，国内外研究人员开 展了大量的地物偏振特性测量研究及偏振成像测量系统的设计，极大的推动了偏振检测技 术的发展。但是目前对于偏振检测方面仍旧处于不成熟的阶段。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，解决好现有技术的问题，弥补现有目前市场上现有产 品的不足。 本技术提供了一种计算机控制电光调制检测仪，主要包括光源、准直镜、第一 电光晶体、第二电光晶体、检偏器、聚光镜、探测器和计算机，所述光源、准直镜、第一电光晶 体、第二电光晶体、检偏器、聚光镜和探测器并列设置，中心处于一线，所述光源、检偏器和 探测器分别与计算机连接。 优选的，上述光源为单色光源，检偏器由偏光棱镜构成。 优选的，上述第一晶体的感应主轴和检偏器的透光轴平行。 优选的，上述第一电光晶体和第二电光晶体的感应主轴成45°。 优选的，上述准直镜、第一电光晶体、第二电光晶体和聚光镜分别设置在不同的转 动轴上。 本技术提供的计算机控制电光调制检测仪使入射光通过一系列调制光学元 件，通过对电光晶体对的调制，可计算出全部的斯托克斯参量，从而实现了电光调制分析测 量。【附图说明】 图1为本技术结构示意图。 附图标记：1-光源；2-准直镜；3-第一电光晶体；4-第二电光晶体；5-检偏器； 6_聚光镜；7-光电探测器；8-计算机。【具体实施方式】 为了便于本领域普通技术人员理解和实施本技术，下面结合附图及具体实施 方式对本技术作进一步的详细描述。 本技术提供的计算机控制电光调制检测仪主要包括光源1、准直镜2、第一电 光晶体3、第二电光晶体4、检偏器5、聚光镜6、探测器7和计算机8,光源1、准直镜2、第一 电光晶体3、第二电光晶体4、检偏器5、聚光镜6和探测器7并列设置，中心处于一线，光源 1、检偏器5和探测器7分别与计算机8连接。 其中，光源1为单色光源，检偏器5由偏光棱镜构成。第一晶体3的感应主轴和检 偏器5的透光轴平行。第一电光晶体3和第二电光晶体4的感应主轴成45°。准直镜2、 第一电光晶体3、第二电光晶体4和聚光镜6分别设置在不同的转动轴上。 本技术的工作原理是：计算机8控制光源1、检偏器5和探测器7,待测单色光 经准直镜2后变成平行光，相继通过纵向调制的电光晶体（3、4)，检偏器5后，再由聚光镜6 把待测光波聚在光电探测器7上。第一电光晶体3的感应主轴和检偏器5的透光轴平行， 电光晶体（3、4)的感应主轴成45°。这时透过检偏器5的输出光强为 式中，InT2S检偏器5的主透射比，为通过第一电光晶体3、第二电光晶体4后两 正交偏振分量的相位差，由于电光晶体对的调制，通过上式可计算出全部的斯托克斯参量。 以上所述之【具体实施方式】为本技术的较佳实施方式，并非以此限定本实用新 型的具体实施范围，本技术的范围包括并不限于本【具体实施方式】，凡依照本技术 之形状、结构所作的等效变化均在本技术的保护范围内。【主权项】1. 一种计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述检测仪主要包括光源（I)、准直 镜（2)、第一电光晶体（3)、第二电光晶体（4)、检偏器（5)、聚光镜（6)、探测器（7)和计算机 (8)，所述光源（1)、准直镜（2)、第一电光晶体（3)、第二电光晶体（4)、检偏器（5)、聚光镜 (6)和探测器（7)并列设置，中心处于一线，所述光源（1)、检偏器（5)和探测器（7)分别与 计算机⑶连接。2. 根据权利要求1所述的计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述光源（1)为 单色光源，检偏器（5)由偏光棱镜构成。3. 根据权利要求1或2所述的计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述第一电 光晶体（3)的感应主轴和检偏器（5)的透光轴平行。4. 根据权利要求1-3之一所述的计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述第一 电光晶体⑶和第二电光晶体（4)的感应主轴成45°。5. 根据权利要求1-3之一所述的计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述准直 镜（2)、第一电光晶体（3)、第二电光晶体（4)和聚光镜（6)分别设置在不同的转动轴上。【专利摘要】本技术涉及一种计算机控制电光调制检测仪，光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)，所述光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)并列设置，中心处于一线。本技术提供的计算机控制电光调制检测仪使入射光通过一系列调制光学元件，通过对电光晶体对的调制，可计算出全部的斯托克斯参量，从而实现了电光调制分析测量。【IPC分类】G01J4/00, G02F1/03【公开号】CN204832710【申请号】CN201520339951【专利技术人】刘志伟 【申请人】刘志伟【公开日】2015年12月2日【申请日】2015年5月20日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种计算机控制电光调制检测仪，其特征在于：所述检测仪主要包括光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)、探测器(7)和计算机(8)，所述光源(1)、准直镜(2)、第一电光晶体(3)、第二电光晶体(4)、检偏器(5)、聚光镜(6)和探测器(7)并列设置，中心处于一线，所述光源(1)、检偏器(5)和探测器(7)分别与计算机(8)连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘志伟，
申请(专利权)人：刘志伟，
类型：新型
国别省市：福建;35
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