继电器接触电阻测量装置，包括继电器插座和测量模块，所述的继电器插座上开设有与继电器的每个触点引脚分别对应设置且用于定位安装继电器的插孔，所述的测量模块包括至少一个可与插孔相对应设置并与触点引脚对应连接的测量电路。测量模块还包括基准电压电路和信号处理电路，所述的基准电压电路可与触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，测量电路的输入和输出分别与触点引脚及信号处理电路相连接，并且测量电路可将检测到的测量电压的信号输入至信号处理电路从而完成测量判断。本实用新型专利技术提供一种工作效率高、连接结构简单、测量结果准确的继电器接触电阻测量装置。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及低压电器领域，特别是一种继电器接触电阻测量装置。
技术介绍
目前，在继电器组装生产的过程中会使用接触电阻测量设备完成继电器触头电阻的校验工作，但是现有的接触电阻测量设备采用的是数显式接触电阻测量仪，此种设备测量周期长且每次只能测量一组接触电阻，从而降低了测量效率及测量准确性，进一步影响了生产效率。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种工作效率高、连接结构简单、测量结果准确的继电器接触电阻测量装置。为实现上述目的，本技术采用了如下技术方案:一种继电器接触电阻测量装置，包括继电器插座I和测量模块5，所述的继电器插座I上开设有与继电器4的每个触点引脚分别对应设置且用于定位安装继电器4的插孔110，所述的测量模块5包括至少一个可与插孔110相对应设置并与触点引脚对应连接的测量电路540。测量模块5还包括基准电压电路510和信号处理电路，所述的基准电压电路510可与触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，测量电路540的输入和输出分别与触点引脚及信号处理电路相连接，并且测量电路540可将检测到的测量电压的信号输入至信号处理电路从而完成测量判断。进一步，所述的信号处理电路包括至少一个分别与测量电路540对应连接的放大电路530，每个放大电路530还分别与的电压比较电路550和指示电路520相连接，所述放大电路530的输入与测量电路540的输出相连接用于将基准电压电路510在触点引脚上产生的测量电压的信号进行放大处理，所述电压比较电路550的输入与放大电路530的输出相连接用于将比较电压信号与放大电压信号相比较，所述指示电路520的输入与电压比较电路550的输出相连接用于显示比较测量结果。进一步，所述的插孔110内还设有用于夹持安装触点引脚的金属簧片，所述的金属簧片与测量电路540的输入之间串联设有分压电阻。进一步，所述的基准电压电路510包括稳压芯片U1，所述稳压芯片Ul的输入端Vin与输入电压VCC相连接，所述的输入电压VCC通过第二电容C2接地，稳压芯片Ul的控制输入端0N/0FF和公共端GND分别接地，稳压芯片Ul的输出端Vout通过二极管Dl接地，稳压芯片Ul的输出端Vout还与电感LI的一端相连接，所述电感LI的另一端是与稳压芯片Ul的反馈输入端FeedBack相连接的基准电压输出端V5，并且基准电压输出端V5与地之间还并联设有第一电容Cl、第三电容C3及第一发光二极管D6，所述的基准电压输出端V5可分别与触点引脚和信号处理电路相连接。进一步，所述的放大电路530包括第一运算放大器U2、第二运算放大器U3、第三运算放大器U4和第四运算放大器U5，所述第一运算放大器U2的正向输入端与测量电路540的测量输出端DETl相连接，第一运算放大器U2的正向输入端通过串联设置的第一电阻Rl和第二电阻R3与基准电压电路510的基准电压输出端V5相连接，第一运算放大器U2的输出端分别与其反向输入端及第二运算放大器U3的正向输入端相连接，所述第二运算放大器U3的反向输入端通过第四电阻R21接地，第二运算放大器U3的输出端与其反向输入端之间还设有第五电阻R29，所述第三运算放大器U4的正向输入端与第二运算放大器U3的输出端相连接，第三运算放大器U4的反向输入端通过第六电阻R22接地，第三运算放大器U4的输出端与其反向输入端之间还设有第七电阻R30，所述第四运算放大器U5的正向输入端与第三运算放大器U4的输出端相连接，第四运算放大器U5的输出端与其反向输出端相连接，并且第四运算放大器U5的输出端与放大电路530的放大输出端DOl相连接，所述的放大输出端DOl与电压比较电路550相连接用于输出放大电压信号。进一步，所述的电压比较电路550包括第五运算放大器U6，所述第五放大器U6的正向输入端与放大电路530的放大输出端DOl相连接，第五放大器U6的反向输入端与电位器R37中间的引脚相连接，所述电位器R37两端的引脚分别与基准电压电路510的基准电压输出端V5和地相连接，第五运算放大器U6的输出端通过第九电阻R45与其正向输入端相连接，并且第五运算放大器U6的输出端与指示电路520的第二发光二极管D2相连接，比较电路550输入的放大电压信号可与电位器R37产生的比较电压信号进行比较并使得第二发光二极管D2导通。进一步，所述的继电器插座I上设有与继电器4底部两侧的触点引脚分别对应设置的两组插孔组130，每组插孔组130由至少两行及两列的插孔110组成，并且每个触点引脚可分别与插孔组130的其中一列的其中一个插孔110对应匹配安装。进一步，所述的插孔110开设在继电器插座I表面的凸台100上，并且所述凸台100的表面可与继电器4的底部相接触。进一步，所述继电器插座I上开设有十四个插孔110，其中十二个插孔110呈三行四列排布并可对应安装继电器四组触点的常开触点引脚、常闭触点引脚及公共端引脚，另外两个插孔110可对应安装继电器的电源引脚，并且测量模块5包括四组分别与每列插孔110逐一对应设置的测量电路540，每组测量电路540还分别与信号处理电路相连接。本技术的继电器接触电阻测量装置通过相对应设置的继电器插座和测量模块，实现了继电器接触电阻的简便测量，提高了测量工作的效率同时保证了测量的准确性。此外，通过继电器插座上的插孔，实现了继电器在测量过程中的稳定安装，使得测量装置结构简单同时提高了测量过程的稳定性。【附图说明】图1是本技术的结构示意图；图2是本技术的基准电压电路的电路示意图；图3是本技术的放大电路的电路示意图；图4是本技术的比较电路和指示电路的电路连接图；图5是本技术的继电器插座的结构示意图；图6是本技术的继电器插座与继电器安装的结构示意图；图7是本技术的继电器插座的结构俯视图。【具体实施方式】以下结合附图1至7给出本技术的实施例，进一步说明本技术的继电器接触电阻测量装置【具体实施方式】。本技术的继电器接触电阻测量装置不限于以下实施例的描述。本技术的继电器接触电阻测量装置包括继电器插座I和测量模块5，如图1所示的继电器插座I上开设有用于安装继电器4的插孔110。所述的测量模块5包括提供基准电压的基准电压电路510、与插孔110对应设置且用于产生测量电压的信号的测量电路540及处理电压的信号处理电路，所述的信号处理电路还包括产生放大电压信号的放大电路530、将放大电压信号与比较电压信号进行比较的电压比较电路550和用于显示测量结果的指示电路520。具体地，继电器插座I上开设有与继电器4的每个触点引脚分别对应设置的插孔110，所述的测量模块5包括至少一个可与插孔110相对应设置并与触点引脚对应连接的测量电路540。测量模块5还包括基准电压电路510和信号处理电路，所述的基准电压电路510可与触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，测量电路540的测量输入端和测量输出端DETl分别与触点引脚及信号处理电路相连接，并且测量电路540可将检测到的测量电压的信号输入至信号处理电路从而完成测量判断。测量模块保证了测量过程的准确性及稳定性，同时对应设置的插孔和测量电路实现了同时测量继电器的全部触点引脚从而提高本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种继电器接触电阻测量装置，包括继电器插座(1)和测量模块(5)，其特征在于：所述的继电器插座(1)上开设有与继电器(4)的每个触点引脚分别对应设置且用于定位安装继电器(4)的插孔(110)，所述的测量模块(5)包括至少一个可与插孔(110)相对应设置并与触点引脚对应连接的测量电路(540)；测量模块(5)还包括基准电压电路(510)和信号处理电路，所述的基准电压电路(510)可与触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，测量电路(540)的输入和输出分别与触点引脚及信号处理电路相连接，并且测量电路(540)可将检测到的测量电压的信号输入至信号处理电路从而完成测量判断。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李维，于雪峰，杨耀克，蒲启成，
申请(专利权)人：浙江正泰电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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