本发明专利技术题为用于改进准直灵敏度的系统和方法。提供一种准直仪组合件(100)，其中包括平行孔准直仪(120)和针孔准直仪(150)。平行孔准直仪(120)包括限定其间的平行孔(124)的多个壁(122)，其中平行孔(124)设置在中心开口(126)周围。针孔准直仪(150)包括在主体(152)中形成的针孔(154)，其中针孔准直仪(150)设置在中心开口(126)之内。
【技术实现步骤摘要】
一般来说，本文所公开的主题涉及用于诊断医疗成像、例如核医学（NM)成像的设 备和方法。
技术介绍
在匪成像中，具有多个探测器或探测器头的系统可用来对受检者进行成像，例如 扫描感兴趣区域。例如，探测器可定位成与受检者相邻以获取匪数据，其用来生成受检者 的三维（3D)图像。 单光子发射计算机断层扫描（SPECT)系统可具有移动探测器头，例如定位成聚焦 到感兴趣区域的伽玛探测器。例如，多个伽玛照相装置可移动（例如旋转）到不同角位置， 以用于获取图像数据。所获取的图像数据然后用来生成3D图像。 探测器头的大小可限制用于放置探测器的可得到的可用面积、例如碲化镉锌 (CZT)晶圆。灵敏度（例如所接收辐射相对于所发射辐射的比例）可受到探测器头的大小 和/或CZT晶圆的布置限制。改进灵敏度的常规方式可使用较厚探测器或者设置在直接相 互堆叠的一般相同或相似的层中的探测器。这类常规方式不可提供预期或所需灵敏度。
技术实现思路
在一个实施例中，提供一种准直仪组合件，其中包括平行孔准直仪和针孔准直仪。 平行孔准直仪包括限定其间的平行孔的多个壁，其中平行孔设置在中心开口周围。针孔准 直仪包括在主体中形成的针孔，其中针孔准直仪设置在中心开口之内。 在另一个实施例中，提供一种旋转头探测器组合件，其包括支臂和探测器头。探测 器头通过枢轴附连到支臂，并且配置成指向源。探测器头包括多个核医学（NM)成像探测器 和至少一个针孔准直仪。多个核医学（NM)成像探测器配置成从源接收辐射，其中每个匪 成像探测器定位成通过匪成像探测器的至少一部分直接从源接收辐射。至少一个针孔准 直仪定位成对NM成像探测器的至少一个所接收的辐射进行准直。 在另一个实施例中，提供一种用于形成准直仪组合件的方法。该方法包括提供一 种包括限定其间的平行孔的多个壁的平行孔准直仪，其中平行孔设置在中心开口周围。该 方法还包括提供一种包括在主体中形成的针孔的针孔准直仪。此外，该方法包括将针孔准 直仪定位在平行孔准直仪的中心开口中，以形成准直仪组合件。 技术方案1 :一种准直仪组合件，包括： 平行孔准直仪，包括限定其间的平行孔的多个壁，所述平行孔设置在中心开口周围；以 及针孔准直仪，包括在主体中形成的针孔，所述针孔准直仪设置在所述中心开口之内。 技术方案2 :如技术方案1所述的准直仪组合件，其中，所述多个壁限定从所述多 个壁的底部延伸到所述多个壁的顶部的高度，其中所述针孔准直仪在所述中心开口中设置 成接近所述高度的中点。 技术方案3 :如技术方案1所述的准直仪组合件，其中，所述中心开口具有大体正 方形截面。 技术方案4 :如技术方案1所述的准直仪组合件，还包括定位成接收经过所述平行 孔准直仪的所述平行孔的辐射的第一探测器以及定位成接收经过所述针孔准直仪的辐射 的第二探测器，所述第一探测器包括与所述平行孔准直仪的所述中心开口对应的探测器中 心开口，所述第一探测器设置成接近所述平行孔准直仪的探测器端，所述第二探测器与所 述平行孔准直仪的所述探测器端间隔距离。 技术方案5 :如技术方案1所述的准直仪组合件，其中，所述平行孔准直仪具有第 一空间分辨率，以及所述针孔准直仪具有第二空间分辨率，其中所述第一空间分辨率和所 述第二空间分辨率大致相同。 技术方案6 :-种旋转头探测器组合件，包括： 支臂；以及 探测器头，通过枢轴附连到所述支臂，所述探测器头配置成指向源，所述探测器头包 括： 多个核医学（NM)成像探测器，配置成从所述源接收辐射，每个NM成像探测器定位成通 过所述NM成像探测器的至少一部分直接从所述源接收辐射；以及 至少一个针孔准直仪，定位成对所述匪成像探测器的至少一个所接收的辐射进行准 直。 技术方案7 :如技术方案6所述的旋转头探测器组合件，还包括平行孔准直仪，其 中包括限定其间的平行孔的多个壁，所述平行孔设置在中心开口周围，其中所述至少一个 针孔准直仪包括在主体中形成的针孔，所述至少一个针孔准直仪设置在所述中心开口中。 技术方案8 :如技术方案7所述的旋转头探测器组合件，其中，所述多个壁限定从 所述多个壁的底部延伸到所述多个壁的顶部的高度，其中所述针孔准直仪在所述中心开口 中设置成接近所述高度的中点。 技术方案9 :如技术方案7所述的旋转头探测器组合件，其中，所述中心开口具有 大体正方形截面。 技术方案10 :如技术方案7所述的旋转头探测器组合件，其中，所述匪成像探测 器包括定位成接收经过所述平行孔准直仪的所述平行孔的辐射的第一探测器以及定位成 接收经过所述针孔准直仪的辐射的第二探测器，所述第一探测器包括与所述平行孔准直仪 的所述中心开口对应的探测器中心开口，所述第一探测器设置成接近所述平行孔准直仪的 探测器端，所述第二探测器与所述平行孔准直仪的所述探测器端间隔距离。 技术方案11 :如技术方案7所述的旋转头探测器组合件，其中，所述平行孔准直仪 具有第一空间分辨率，以及所述针孔准直仪具有第二空间分辨率，其中所述第一空间分辨 率和所述第二空间分辨率大致相同。 技术方案12 :如技术方案6所述的旋转头探测器，其中，所述匪成像探测器的至 少一部分不是相互平行的。 技术方案13 :如技术方案6所述的旋转头探测器组合件，其中，至少一个匪成像 探测器定位在所述源与至少一个另一 NM成像探测器的一部分之间。 技术方案14 :如技术方案6所述的旋转头探测器，还包括至少两个平行孔准直仪， 其中包括限定其间的平行孔的多个壁，其中所述至少一个针孔准直仪的开口通过所述至少 两个平行孔准直仪的侧面来组成。 技术方案15 :-种方法，包括： 提供平行孔准直仪，其包括限定其间的平行孔的多个壁，所述平行孔设置在中心开口 周围； 提供包括在主体中形成的针孔的针孔准直仪； 将所述针孔准直仪定位在所述平行孔准直仪的所述中心开口中，以形成准直仪组合 件。 技术方案16 :如技术方案16所述的方法，还包括： 将第一探测器定位成接近所述平行孔准直仪的探测器端，所述第一探测器定位并且配 置成接收经过所述平行孔准直仪的所述平行孔的辐射，所述第一探测器包括与所述平行孔 准直仪的所述中心开口对应的探测器中心开口；以及 将第二探测器定位成离开所述平行孔准直仪的所述探测器端距离，所述第二探测器配 置成接收经过所述针孔准直仪的辐射。 技术方案17 :如技术方案16所述的方法，还包括： 将第一模拟前端（AFE)在操作上耦合到所述第一探测器；以及 将第二AFE在操作上耦合到所述第二探测器。 技术方案18 :如技术方案17所述的方法，还包括将共享数字读出板（DRV)在操作 上耦合到所述第一 AFE和所述第二AFE。 技术方案19 :如技术方案16所述的方法，还包括将所述准直仪组合件定位在旋转 头探测器单元中。 技术方案20 :如技术方案15所述的方法，还包括将所述针孔准直仪在所述中心开 口中定位成接近所述平行孔准直仪的高度的中点。【附图说明】 图Ia-Ic提供按照一实施例的准直仪组合件的视图。 图2是示出按照一实施例的探测器组合件的示意框图。 图3是示出按照各个实施例的探测器头的旋转的简图。 图4是示出按照各个实施例的探测器组合件的简图。 图5是示出按照各个实施例的另一个探测器组合件的简图。 图6是示出按照各个本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种准直仪组合件(100)，包括：平行孔准直仪(120)，包括限定其间的平行孔(124)的多个壁(122)，所述平行孔(124)设置在中心开口(126)周围；以及针孔准直仪(150)，包括在主体(152)中形成的针孔(154)，所述针孔准直仪(150)设置在所述中心开口(126)之内。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：A撒哈，A奥芬，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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