串联四极型质量分析装置制造方法及图纸

在控制部（50）的处理条件参数存储部（51）设置表示碰撞池(31)内的CID气压和用于收集数据的驻留时间之间的对应关系的驻留时间算出表（51a）。在该表（51a），CID气压越高驻留时间越长。一旦指示实施MRM测定模式，控制部（50）就会根据此时的CID气压决定驻留时间，并以如下方式控制数据收集部（41），即：在该驻留时间期间，积算来自离子检测器（34）的检测信号并求出积算值。如果碰撞池(31)的CID气压较高，则离子的速度下降变得显著，离子强度的上升变得缓慢，但是如果驻留时间变长，则对积算值的缓慢的上升的影响会相对减轻，积算值的精度上升。由此，能够提高定量精度。

【技术实现步骤摘要】
串联四极型质量分析装置本申请为以下专利申请的分案申请：申请号：201280077238.3国际申请日：2012年11月22日进入中国国家阶段日期：2015年05月22日专利技术名称：串联四极型质量分析装置
本专利技术涉及一种由碰撞诱导解离(CID＝Collision-InducedDissociation)等使具有特定质荷比m/z的离子解离并对由此生成的子离子(碎片离子)进行质量分析的串联四极型质量分析装置。
技术介绍
为了进行分子量大的物质的确认或其结构的解析，作为质量分析的一种方法，已知有MS/MS分析(也称为串联分析)方法。结构相对简单且廉价的串联四极型质量分析装置(也称为三重四极型质量分析装置)是被广泛利用的能进行MS/MS分析的质量分析装置中的一种。如专利文献1所公开的那样，串联四极型质量分析装置一般将使离子解离的碰撞池夹在中间而在其前后分别具备四极质量过滤器，在前段四极质量过滤器从源自目标化合物的各种离子中选择母离子，在后段四极质量过滤器根据质荷比分离子离子。碰撞池是密闭性相对较高的箱状构造体，在其内部导入氩气或氮气等CID气体。由前段四极质量过滤器选择的母离子具有适宜的碰撞能而被导入至碰撞池内，在碰撞池内与CID气体碰撞，发生碰撞诱导解离而生成子离子。在碰撞池内的离子的解离效率依赖于离子所具有的碰撞能的大小和/或碰撞池内的CID气压等。因此，通过了后段四极质量过滤器的子离子的检测灵敏度也依赖于碰撞能的大小和/或CID气压。在串联四极型质量分析装置中，为了以高精度和高灵敏度进行已知化合物的定量分析，大多实施在前段和后段四极质量过滤器的两方分别通过的离子的质荷比是固定的多重反应监测(MRM＝MultipleReactionMonitoring)模式下的测定。因此，在以往的串联四极型质量分析装置中，碰撞池内的CID气压以在MRM测定模式下能够获得尽可能高的检测灵敏度的方式被设定为由制造商一方预先调整了的值(通常是数mTorr左右)。当然，也能够通过用户手动调整CID气体供给压，来例如对特定的化合物进行与上述预先设定的条件下相比还要高灵敏度的测定。一般，由于碰撞池内的CID气压越高，离子与CID气体接触的机会增加，因此离子的解离效率变高。另一方面，由于与CID气体的碰撞会导致离子动能的衰减，因此离子的飞行速度会整体下降。在MRM测定模式的情况下，由于在某一程度的时间内，实施具有某一种质荷比的母离子的解离、以及具有某一种质荷比的子离子的选择和检测，因此如上所述的碰撞池的离子的飞行速度的下降对离子强度的影响应当相对较小。然而，实际上，即使是在MRM测定模式下，如果升高CID气压，则与CID气压较低的情况相比，也会明显出现离子强度的下降。其结果，会出现如下问题，即：在与目标化合物对应的质荷比的质量色谱图上无法获得足够大的峰，定量精度下降。此外，在串联四极型质量分析装置中，除上述的MRM测定模式以外，还准备有如下多种测定模式，如：母离子扫描测定模式、子离子扫描测定模式、中性丢失扫描测定模式等在前段和后段四极质量过滤器的两方进行离子选择的测定模式；以及在前段和后段四极质量过滤器的任一方不进行离子选择(即让离子径直通过而不留下)而在另一方进行质量扫描的测定模式等。除了不在碰撞池内进行CID的测定模式，一般无论在哪种测定模式，如上所述，碰撞池内的CID气压以在MRM测定模式下能够获得尽可能高的检测灵敏度的方式被设定为由制造商一方预先调整了的值。然而，在这种控制下，对于在前段四极质量过滤器进行规定质荷比范围内的扫描的母离子扫描测定模式和/或中性丢失扫描测定模式，存在由如上所述的碰撞池内的离子的飞行速度下降引起的、质谱图(MS/MS谱图)上的目标离子峰的质荷比偏差变大的倾向。由于碰撞池内的离子的飞行速度的下降的程度也依赖于离子的大小(通常对应于质荷比)，因此，质谱图上的质荷比偏差的程度未必固定，不容易通过求出偏离量而进行校正。由于即使是具有相同质荷比的离子，其飞行速度的偏差也变大，因此在质量质谱图上会引起峰宽变宽而使质量分辨能力下降的问题。进而，此外，MRM测定模式在液相色谱图质量分析装置或气相色谱图质量分析装置大多利用于多成分同时分析，但是如果测定对象化合物的数目变多，则应同时同步检测的母离子、子离子的组数增加。因此，有必要快速切换在前段四极质量过滤器通过的离子的质荷比，如果这样，那么如上所述的离子强度的下降的影响就变得更加显著。另一方面，即使是在减少测定对象化合物的数目而想以高灵敏度对各化合物进行测定的情况下，灵敏度的提升也有限。现有技术文献专利文献1：国际公开第2009/095958号单行本
技术实现思路
本专利技术是为解决上述问题而完成的，其第1个目的是提供一种在MRM测定等时，能够减轻在提升碰撞池内的CID气压的情况下产生的灵敏度下降的串联四极型质量分析装置。此外，本专利技术的第2个目的是提供一种能够减轻由母离子扫描测定和/或中性丢失扫描测定等获得的质谱图的质荷比偏差的串联四极型质量分析装置。进而，本专利技术的第3个目的是提供一种例如在进行多成分同时分析时，在测定对象化合物的数目较多而需要进行高速测定的情况和/或测定对象化合物的数目相对较少而想要进行高灵敏度测定的情况等下，能够实施与测定状况和/或目的对应的恰当的测定的串联四极型质量分析装置。为了完成上述第1个目的而完成的本专利技术的第1方式是提供一种串联四极型质量分析装置，该串联四极型质量分析装置具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测该被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)气体调整部，其以将所述碰撞池内的气压设为所期望的状态的方式调整供给至该碰撞池内的气体的供给压或供给流量；以及b)控制部，其在实施多重反应监测测定模式的测定时，根据由所述气体调整部设定的气体供给压、供给流量、或目标气压而使获取信号的驻留时间的长度改变，该信号是针对源自一种化合物的母离子和子离子的由所述检测部获得的信号。此外，为了完成上述第1个目的而完成的本专利技术的第2方式是提供一种串联四极型质量分析装置，该串联四极型质量分析装置具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测该被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)气体调整部，其以将所述碰撞池内的气压设为所期望的状态的方式，调整供给至该碰撞池内的气体的供给压或供给流量；以及b)控制部，其在实施多重反应监测测定模式的测定时，根据由所述气体调整部设定的气体供给压、供给流量、或目标气压而使稳定时间的长度改变，该稳定时间是在获取了针对源自一种化合物的母离子和子离子的由所述检测部获得的信号后，为了进行母离子或子离子中的至少一方是不同的测定而改变了施加于前段和/或后段四极质量过滤器的电压时的电压稳定为止的充裕时间。在上述第1和第2方式的串联四极型质量分析装置中，检测部是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种串联四极型质量分析装置，其特征在于，具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测该被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)模式设定部，其用于供用户设定想要实施的测定模式；b)气体供给部，其将所述规定气体供给至所述碰撞池内；以及c)控制部，其以根据由所述模式设定部设定的测定模式而让所述碰撞池内的CID气压改变的方式控制所述气体供给部。

【技术特征摘要】
1.一种串联四极型质量分析装置，其特征在于，具备：前段四极质量过滤器，其在各种离子中将具有特定质荷比的离子选择为母离子；碰撞池，其通过使所述母离子与规定气体碰撞而使该母离子解离；后段四极质量过滤器，其在由该解离而生成的各种子离子中选择具有特定质荷比的离子；以及检测部，其检测被选择了的子离子，该串联四极型质量分析装置还具备：a)模式设定部，其用于供用户设定想要实施的测定模式；b)气体供给部，其将所述规定气体供给至所述碰撞池内；以及c)控制部，其以根据由所述模式设定部设定的测定模式而让所述碰撞池内的CID气压改变的方式控制所述气体供给部；所述控制部在被设定的测定模式是在前段四极质量过滤器进行质量扫描且在所述碰撞池内使离子解离的测定模式的情况下，与在前段四极质量过滤器不进行质量...

【专利技术属性】
技术研发人员：上田学，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP