本发明专利技术涉及具有高级触发能力的测试和测量仪器。一种测试和测量仪器，包括被配置成接收被测试信号的输入，被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件的用户输入，被配置成对第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号的第一触发解码器，被配置成对发生在第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号的第二触发解码器，以及被配置成响应于第一触发信号而获取被测试信号并且基于第二触发信号使第一触发信号生效还是无效而存储所获取的被测试信号的获取系统。
【技术实现步骤摘要】
本公开一般地涉及经触发的测试和测量仪器的领域，并且更具体地涉及用于现代测试和测量仪器的高级触发系统。
技术介绍
示波器是工程师用于获取和显示来自被测试电路的特定测试点的感兴趣波形的电子测试和测量仪器。最早的示波器没有触发能力，并且因而不能够产生感兴趣波形的稳定显示。触发电路被添加到早期的模拟示波器以通过总是响应于检测到触发事件而开始示波器屏幕上的波形的绘制来对显示提供稳定性。因此，触发事件的发生将会导致波形以稳定的方式显示在屏幕上的相同地方。现代实时数字存储示波器(DSO)也采用触发系统来实现稳定显示，但是它们以实质上不同的方式进行操作。DSO连续地获取采样点并且将其存储在环形布置的获取存储器中。也就是说，当获取存储器中最后的存储器位置被填充时，存储器指针被重置到获取存储器的顶部，并且采样继续被获取和存储。在接收到触发事件之前收集的采样被称为预触发数据。触发事件的检测设置用于获取的“零”时间位置，并且随后所收集的采样被称为后触发数据。另一触发将不被接受，直到后触发数据的获取完成。换言之，触发系统采用使得工程师能够捕获相对于时间上的特定事件的信号(对其进行触发)的技术。该技术通常被用于对高速数字电路进行故障排除(即调试)以标识导致那些电路的不适当操作的事件。所期望的触发事件可以是发生在时间上的单个点处的未预料到的模拟或数字操作的结果(异常)或作为逻辑序列的结果。已经使得现代DSO能够对多种多样的事件进行触发。最常选择的触发是边沿触发，其针对正向或负向垂直转变的发生而检查被测试信号。此外，本领域中已知的高级触发的列表包括:毛刺(glitch)、矮波(runt)、脉冲宽度、电平、型式、状态、设立和保持违规、逻辑限定、超时、预定窗口、预定周期、时间限定转变、时间限定型式和串行数据触发。序列触发在本领域中也是已知的并且在必须从两个不同事件来触发仪器时是有用的。在已知序列触发系统中，主(或A)触发事件选自可能的触发事件的菜单，并且延迟(或B)触发事件被占用(engaged)。在序列触发中A触发使示波器准备(arm)在接收到B触发时进行触发。序列触发的形式在逻辑分析仪现有技术中也是已知的。然而，逻辑分析仪触发是基于时钟的、不连续的。也就是说，逻辑分析仪以其采样时钟对触发事件进行采样。在示波器中，触发事件以模拟形式应用于触发比较器；不牵涉时钟。在示波器中要求连续类型的触发以便示波器精确定位关于所接收的数据的时间上的触发点。而且，逻辑分析仪不响应于“模拟”触发(即要求与诸如上升时间、下降时间、窗口、矮波等之类的至少两个阈值的比较的那些触发)。最后，逻辑分析仪不采用除DC耦合之外的耦合模式。不幸的是，甚至具有所有以上叙述的触发功能的DSO也不能对如在当今愈加复杂的电路中发现的某些复合事件进行触发。通过引用以其全部内容并入本文的美国专利N0.7，191，079讨论了 Pinpoint?触发的概念，其将序列触发的概念扩展至允许针对要在序列中识别的第一(或“A”)事件类型的多个选择、针对要在序列中识别的第二 (或“B”)事件类型的多个选择以及包括第三(或“C”)事件和/或从A事件的超时以重置序列。然而，在所有这些情况中，单个A事件(不牵涉序列)或在A事件之后适当序列化的B事件成为触发事件(用于所捕获的波形的时间参考)。换言之，A触发使示波器准备在接收到B触发事件时进行触发。所公开的技术解决现有技术的这些限制。
技术实现思路
根据所公开的技术的实施例的测试和测量仪器包括被配置成接收被测试信号的输入、被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件的用户输入、被配置成对第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号的第一触发解码器、被配置成对发生在第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号的第二触发解码器、以及被配置成响应于第一触发信号而获取被测试信号并且基于第二触发信号是否由第二触发解码器生成而存储所获取的被测试信号的获取系统。所公开的技术的其他实施例包括一种用于触发被测试信号的获取的方法，包括接收被测试信号，接收第一触发事件和第二触发事件，对第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号，对发生在第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号，以及响应于第一触发信号而获取被测试信号并且基于是否生成第二触发信号而存储所获取的被测试信号。【附图说明】图1是根据所公开的技术的实施例的测试和测量仪器的电路的框图。图2是用于所公开的技术的实施例的触发电路的框图。图3和4是根据所公开的技术的实施例的状态机示图。图5-9是实现所公开的技术的测试和测量仪器的示例屏幕截图。【具体实施方式】在不一定按比例的附图中，所公开的系统和方法的相同或对应元素由相同的参考标记所标注。图1示出了根据本专利技术的测试和测量仪器100的高级别框图。测试和测量仪器100包括用于从用户电路接收被测试信号(SUT)的输入102。尽管为了简单起见而被示为单个连接器，但是输入102实际上包括数目为η的输入通道(其中η为任何合理数目，但是通常为1、2、4或8)。η个信号线被应用于输入块104，该输入块104表示包括缓冲放大器、衰减电路等等以用于调节输入信号的测试和测量仪器100的“前端”。输入块104具有用于通过数目为t的线向多路复用器(Mux)阵列单元106提供信号的第一输入107，和用于向获取系统110提供经调节的输入信号的第二输出端子108，其中信号采样被重复地取得、被转换成数字形式并且被存储在获取系统110内的环形获取存储器中。Mux阵列106具有耦合到外部触发输入(Trigger-1n)连接器104以用于接收外部应用的触发信号(如果有的话)的第二输入。Mux阵列106向触发比较器单元116的第一输入114应用数目为m的信号。触发比较器单元116具有被耦合以从控制器(为了简单起见未示出)接收数目为P的阈值的第二输入118。触发比较器单元116可由用户编程以检测许多不同的触发条件，如以下将详细解释的那样。触发比较器单元116在检测到预定触发条件时生成输出信号，并且通过数目为r的线将输出信号耦合至触发机120的输入。作为响应，触发机120向获取系统110提供信号以将输入信号的特定部分与触发事件相关联。有利地，触发比较器单元116还包括可以由用户经由前面板控制或菜单选择所选择的各种耦合布置(即DC耦合、AC耦合、高频抑制等)。触发比较器单元116还包括一些斜率控制。响应于触发事件的检测，获取电路110继续获取针对一些预定数目的采样的后触发数据，然后停止。在这点上，所获取的数据可以被移动至储存存储器122并且可以由波形变换系统124处理以用于在显示器126上的显示。图2示出图1的触发机120的事件解码器部分200的简化图示。要注意的是，事件解码器200包括事件解码器和限定器A 202、事件解码器和限定器B 204、重置事件解码器206、以及超时计数器208。事件解码器和限定器A 202的输出信号被触发锁存器210锁存并且经由可编程延迟元件212应用到B触当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试和测量仪器，包括：输入，其被配置成接收被测试信号；用户输入，其被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件；第一触发解码器，其被配置成对所述第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号；第二触发解码器，其被配置成对发生在所述第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号；以及获取系统，其被配置成响应于所述第一触发信号而获取所述被测试信号并且基于所述第二触发信号是否由所述第二触发解码器生成而存储所获取的被测试信号。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：DG克尼林，DL凯莉，JH安德鲁斯，MA马丁，PA史密斯，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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