一种可区分折射符号的高灵敏度测量材料光学非线性的方法技术

本发明专利技术公开了一种高灵敏度测量材料光学非线性泵浦探测方法，把激光束分为两束，样品位置处于偏离透镜焦点后一定距离，使远场光斑的变化达到最大。泵浦光经时间延迟作用到待测样品上，使非线性样品产生非线性吸收和非线性折射；出射的探测光经分光镜分为两束，一束进入第一探测器，另一束通过一个中心和光轴重合的圆形挡板后进入第二探测器；其特征在于：在所述探测光光路中，远场放置一个中心和光轴重合的圆形挡板，样品处于透镜焦点后的一定距离，使远场光斑的变化达到最大。其测量步骤为：①放上待测样品，用两个探测器分别收集不同时刻探测光的能量；②对不同延迟时间的探测光能量曲线进行处理，获得光学非线性参数。按本发明专利技术方法工作的测量系统灵敏度非常高、数据处理简单，非线性吸收和折射可以同时测量而不需要分开进行、可区分非线性折射的符号、测量结果精确等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用光学手段在来测试或分析材料的方法，具体涉及一种研宄材 料的非线性光学物理机制以及测量其光学物理参数的方法，属于非线性光子学材料和非线 性光学信息处理领域。
技术介绍
非线性光学领域的飞速发展离不开对光学非线性材料的研宄。寻找各种用途的理 想光学非线性材料是非线性光学领域的一个非常重要的任务。具有大的光学非线性系数和 超快光响应的材料被认为是用于制造高速光电设备的新兴材料，在光学工程领域，如全光 开关等元器件中有着巨大的潜在应用价值。而对光学非线性材料的研宄则需要借助于各种 光学非线性测量技术。光学非线性测量技术是研宄非线性光学材料的关键技术之一。在光 学非线性样品中，一般情况下不止一种非线性机制，通常会存在二种甚至更多的非线性机 制相互作用，而一般的非线性测量技术不能很简单地把各种光学非线性机制区分开。Z扫描 方法（MansoorSheik-Bahae,AliA.Said,Tai-HuiWei,DavidJ.Hagan,E.ff.Van Stryland."Sensitivemeasurementofopticalnonlinearitiesusi本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可区分折射符号的高灵敏度测量材料光学非线性的方法，把激光束分为两束，一束光强比较强，一束光强比较弱；光强较强一束为泵浦光，较弱的一束为探测光，泵浦光经过时间延迟作用到待测样品9上，使处于基态的非线性样品产生非线性吸收和非线性折射；所述待测样品9位于探测光光路中离透镜8焦平面后面一段距离的位置，出射的探测光经一分光镜10分为两束，一束进入第一探测器12，另一束通过一个中心和光轴重合的一个圆形挡板后进入第二探测器，其特征在于：样品不处于两个透镜的焦平面进行测量，而是离焦平面一段距离；在探测光路的样品后的远场位置放置一个圆形不透光挡板，其测量步骤为：①放上待测样品，用两个探测器分别收集不同时刻探...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋瑛林，杨俊义，
申请(专利权)人：苏州微纳激光光子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32