【技术实现步骤摘要】
本技术涉及到一种载能离子减能辐照装置，主要应用于高能离子束辐照环境中的载能离子辐照材料实验，特别适合于核材料、半导体器件等辐照实验。
技术介绍
重离子具有辐照损伤大的优点，可以快速的在材料当中引入可控缺陷，目前许多核材料和航空器件的寿命评估也涉及到了缺陷的累积，相比于中子产生的缺陷，运用重离子辐照的方法，可以快速的引入缺陷，并且引入的缺陷数量可控。要想模拟中子辐照产生的缺陷，需要在材料中形成均匀的辐照损伤区域，由于重离子辐照能量损失存在一定的能量末端峰值，并不是随深度出现线性损伤区域，本试验装置可以在加速器束线的终端把普通的高能单一能量束流降低到所需的210种能量，使能量沉积缺陷散开在块体材料的表面到一定深度的体积内，从而在材料中形成了均匀的体缺陷。实现了真正的缺陷深度分布均匀性，更能真实的模拟了中子辐照损伤和空间辐射损伤。利用此减能装置，可以在同一时间实现了 210种以内的能量辐照实验，这大大提高了离子束辐照实验的效率。运用此项技术，在一次实验中几乎可以覆盖非常广泛的能量范围。综上所述，本试验装置的诞生大大提高了辐照实验的效率，拓宽了离子辐照实验的应用...
【技术保护点】
一种载能离子减能辐照装置，其特征在于包括有在支架底盘上设有电机，电机左侧输出轴上设有左侧转动输出盘通过左侧传动皮带驱动左侧转盘带动轴，以带动左侧旋转圆盘，左侧固定圆盘与转盘支架连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宋银，张崇宏，杨义涛，
申请(专利权)人：中国科学院近代物理研究所，
类型：新型
国别省市：甘肃;62
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