高速磁振荡装置制造方法及图纸

一种高速振荡系统，用于非接触光学扫描在线性生产过程中运动的细长产品，以确定其尺寸属性和表面外形完整性。该系统被设计成增加扫描频率并且由此能够测量产品的直径或者尺寸，以及其表面完整性，并且能够以在当前市场上的系统不能实现的方式挑出产品结构中的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高速振荡系统，用于在线性生产过程中运动的细长产品的非接触光学扫描，以确定其尺寸属性和表面外形完整性。
技术介绍
优选地通过非接触方法来测量在连续的线性加工中制造的工业品，例如丝线、缆线、管、绳以及类似的细长产品，以确定产品的总的尺寸以及外形的表面完整性。这些测量通常发生在产品正在各种加工中被制造时，包括:在塑料缆线、管等的情况下的挤压，或者在丝线、金属管等的情况下的拉丝机加工。在制造点处测量是有必要的，首先用于确保符合规格要求，其次用于检查完工产品的表面完整性。用于线性制造的细长产品的主要测量是所述产品的直径或者尺寸，并且优选地由光学非接触装置进行。以类似的方式由光学装置完成所述产品的质量控制或者表面完整性，由此要审查所述产品的外形以确保所述产品的表面不存在损伤或者缺陷，例如峰谷等。在设想本专利技术时存在的现有技术中，存在两种可选的光学系统，一种用于所述产品的尺寸测量，另一种系统用于检查所述产品的表面完整性。这些已有技术的系统在本文的后面会进行说明。
技术实现思路
本专利技术的目的是，通过利用增加光学尺寸测量装置的扫描频率的设备和方法，消除已有技术的问题和缺陷，所述设备和方法能够在产品的制造过程期间测量运动产品的直径或者尺寸，同时检查产品的表面完整性。一种用于正在连续线性加工中被制造的产品的高频扫描的设备，包括:两个高频发生器，用于提供等幅但反相的输出频率；具有反射面的磁薄片，安装用于在扭转轴上振荡；光源，用于使得光射线从所述光源投射到所述薄片上；一对感应线圈，可操作地与所述发生器关联，由此在所述发生器的影响下产生相对极性的电磁力，以振荡所述薄片，引导连续帘状平行射线沿着产品行进的线性路径横过所述产品，用于在所述发生器的所述频率下扫描所述产品；检测器装置，用于在所述产品的另一侧上接收所述平行光射线在所述产品由此通过之后的所述最终形式；和分析装置，用于分析所述最终光射线的所述形式并且适于提供所述产品的尺寸测量值和表面完整性。【附图说明】参照附图现在将说明本专利技术，其中:图1以透视图示出了本专利技术的一个优选实施例的主要元件。图2和图3示出了图1的侧视图，说明了本专利技术的操作原理。图4.1和图4.2具体地示出了本专利技术的操作原理。图5示出了本专利技术用于在挤压产品中测量尺寸以及表面不完整性。图6示出了已有技术的装置。图7示出了在挤压加工中形成的具有表面缺陷的电缆的一部分。图8.1和图8.2分别示出了由帘状射线扫描的产品的截面图和在扫描产品之后的射线的光谱分析的图形显示。图9示出了用于在行进的产品上进行尺寸和表面完整性测量的完整的系统。图10示出了用于显示产品扫描得到的直径、表面缺陷和统计学结果的数据登录台。图11示出了关于产品的扫描是单面外形系统的测量系统的侧视图。图12是图11示出的系统的替代形式，但是能够围绕产品振荡运动，和；图13示出了显示在图10示出的数据登录台上的由测量系统检测的各种不完整性。【具体实施方式】图1-7示出的本专利技术的优选实施例。在下面的说明中，引用了图1-7，当使用设备的相同的项目时，它们以相同的参考数字被提及。注意:每分的米数=米/分每秒的米数=米/秒每秒的毫米数=毫米/秒每秒的圈数=圈/秒每秒的扫描次数=扫描/秒参照图1，其示出了高频振荡系统，包括:由扭转轴2支撑以加⑴和减㈠方式被磁化的薄片1，优选的两个高频发生器3和4。发生器3、4链中的每个链接到R，R被连接到感应线圈5、6，感应线圈5、6分别产生EMF (电磁力)7，该EMF使得磁薄片I卷入，由此线圈5被引导到薄片I的正半部，线圈6被引导到薄片I的负半部。发生器3和4以这样的方式通过连接8被同步:使得发生器3、4的输出频率是相同的，但是反相的(参见图2)。图2示出了图1的侧视图，其中，线圈5和6紧邻薄片I的每个半部，为了使得线圈5作用在薄片I的正半部，线圈6作用在薄片I的负半部。线圈5的EMF7具有如图2所示的波形9，其是驱动薄片I的振荡的主要力，而线圈6的EMF7具有波形10，其为薄片I的振荡提供了相对的控制力(负反馈)。波形10的作用首先保证了薄片I振荡的稳定性，其次控制了薄片I的角摆动运动11(A+B)。如之前提到的，波形9和10被同步到同一频率12，但是，波形9的振幅13大于波形10的振幅14。薄片I的振荡如下发生:当波形9处于其循环的负(阴影)半部时，它吸附薄片I的正侧，从(点线)示出的中部位置通过角度11A，而当波形10处于其循环的正(阴影)半部时，也吸附薄片I的负侧，因而根据需要提供了所需相对控制。图3示出了薄片I的位置，当波形9处于其循环的正(阴影)半部时，由此它使得薄片I的正半部被排斥通过角度11B，当波形10处于其负(阴影)半部时，也排斥薄片I的负半部，再次根据需要提供了所需控制。扭转轴2给薄片I的运动施加了波形9必须克服的相对的阻力，以产生所需的摆动运动。图4.1示出了薄片I在其轴2上的磁薄片振荡的总的角摆动的角度，其为11(A+B)。当系统处于不操作状态时，扭转轴2使得薄片I返回到静止位置15。图4.2示出了在操作中的发生器3/4，由此线圈5/6在薄片I上的作用会使得薄片I在其轴3上与发生器3、4同一频率12如16所示“来回”振荡通过角度摆动11 (A+B)。因为薄片I以“来回”运动的方式振荡，所以这等同于频率12的每一次单循环2次扫描。这是非常有益的益处，因为它使得发生器3/4的频率加倍。可使用该原理实现的振荡频率12尚达20，000圈/秒，其等同于薄片I的40，000扫描/秒，因而在用于广品的尺寸测量以及它们的表面完整性的工业应用上具有显著的益处。图5示出了在工业应用中的本专利技术的系统，其中在此是电缆、电线、塑料管、软管等的产品在其制造过程中(未示出)在线性行进路径17中正在前进，该系统包括:具有反射面的磁薄片1，其由扭转轴2支撑在支架18.1中；在壳体18.2中具有关联的感应线圈5、6 (未示出)的两个高频发生器3、4(未示出)。来自例如为激光LED (发光二极管)的光源20的光的射线19被引导到薄片I的反射面上，并且通过振荡薄片I的作用，产生了一连串的连续射线21。射线21被引导到透镜22上，该透镜22使得射线21转换成片状或者帘状的平行扫描射线23，该平行的扫描射线在产品的行进路径17上从产品的一侧横过产品P。定位在产品P的另一侧上的透镜24接收从此穿过之后的射线23并且使得射线23聚焦到单元25上，单元25分析该聚焦的射线23，以提供产品16的尺寸以及表面完整性属性。为了更加具体地说明本专利技术的优势，参照图6和图7，其中本专利技术会与已知的已有技术形成对比。图6示出了已有技术的系统，包括从光源S间歇发出光射线的马达M驱动的多面已知的多面反射扫描系统G。对于本领域的技术人员显而易见的是，该系统的扫描频率受到马达M的旋转速度和从光源S接收光束的反射多面体G上的面的数量的限制。实际上，使用该原理的系统能实现高达800扫描/秒。[0当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于高频扫描在连续线性加工中正被制造的产品的设备，包括：两个高频发生器，用于提供等幅但反相的输出频率；具有反射面的磁薄片，安装用于在扭转轴上振荡；光源，用于使得光射线从所述光源投射到所述薄片上；一对感应线圈，可操作地与所述发生器关联，由此在所述发生器的影响下产生相对极性的电磁力，以振荡所述薄片并且引导连续帘状平行射线在产品行进的线性路径中横过所述产品，用于在所述发生器的所述频率下扫描所述产品；检测器装置，用于在所述产品的另一侧上接收所述平行光射线在由此通过所述产品之后的所述最终形式；和分析装置，用于分析所述最终光射线的所述形式并且适于提供所述产品的尺寸测量值和表面完整性。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：J·基里亚基斯，
申请(专利权)人：质子产品国际有限公司，
类型：发明
国别省市：英国;GB