光电传感器测试装置、包括光电传感器的辐射检测装置以及选择用于辐射检测装置的光电传感器的方法制造方法及图纸

一种光电传感器测试装置可以用于测试光电传感器。光模块可以产生对应于闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光的模拟光。受测试的光电传感器可以产生可以被分析的输出。特定光电传感器可以被确定为具有更高量子效率、更高信噪比或另一性能标准并且被选择用于辐射检测装置中，所述辐射检测装置具有可以产生闪烁光的闪烁器。相比于仅仅分析发射光谱和数据手册以及被考虑的光电传感器的其它信息，光电传感器测试装置可以提供选择光电传感器的更精确方式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光电传感器测试装置、包括光电传感器的辐射检测装置以及选择用于辐射检测装置的光电传感器的方法
本专利技术涉及光电传感器测试装置和辐射检测装置，并且更特别地涉及使用光电传感器测试装置来选择用于具有光电传感器的辐射检测装置中的光电传感器，并且涉及选择用于辐射检测装置的光电传感器，以及光电传感器测试装置和辐射检测装置自身的方法。
技术介绍
辐射检测装置可以包括闪烁器和光电传感器。光电传感器应当匹配由闪烁器输出的闪烁光。由于光电传感器制造商可能没有使闪烁器执行测试，因此会出现问题。因此，光电传感器制造商可能不知道哪个光电传感器对于特定闪烁器工作最佳。使用单个光源(如白光源或蓝光源)测试光电传感器。在选择用于具有闪烁器的辐射检测装置的光电传感器方面的改进是期望的。
技术实现思路
本专利技术提供了一种测试多个光电传感器的方法，其包括：生成具有对应于闪烁器发射光谱的模拟发射光谱的模拟光，所述闪烁器发射光谱对应于来自闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光，其中使用多个光源执行生成模拟光，其中在生成所述模拟光的至少一部分期间，生成包括同时发射来自所述多个光源中的至少两个不同颜色类型的光源的光；响应接收模拟光获得来自第一光电传感器的第一输出，其中所述第一光电传感器具有在第一波长处的最高量子效率；响应接收模拟光获得来自第二光电传感器的第二输出，其中所述第二光电传感器具有在第二波长处的最高量子效率；确定所述第一输出和所述第二输出中的哪一个对应于更高量子效率或更高信噪比；以及在所述第一光电传感器和所述第二光电传感器之间，选择具有更高量子效率或更高信噪比的特定光电传感器用于光耦合到所述闪烁器。本专利技术提供了一种辐射检测装置，其包括：闪烁器，所述闪烁器能够发射具有闪烁器发射光谱的闪烁光，所述闪烁器发射光谱具有在特定波长处的发射峰值；光学地耦合到所述闪烁器的第一光电传感器，其中：所述第一光电传感器具有在第一波长处的最高量子效率；第二光电传感器具有在第二波长处的最高量子效率；所述特定波长在所述第一波长和所述第二波长之间并且离开所述第一波长和所述第二波长的每一个至少25nm；并且所述第一光电传感器相比于所述第二光电传感器响应接收模拟光具有更高量子效率或更高信噪比，所述模拟光具有对应于所述闪烁器发射光谱的模拟发射光谱；并且所述第二光电传感器不光学地耦合到所述闪烁器。本专利技术提供了一种测试多个光电传感器的光电传感器测试装置，所述光电传感器测试装置包括：光模块，所述光模块包括配置成发射具有在不同波长处的发射峰值的光的多个光源；光控制器，所述光控制器配置成控制所述多个光源以生成具有对应于闪烁器发射光谱的模拟发射光谱的模拟光，所述闪烁器发射光谱对应于来自闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光，其中所述光控制器配置成使得光能够从所述多个光源中的至少两个不同颜色类型的光源发射；组件，所述组件配置成确定多个光电传感器内的第一光电传感器和第二光电传感器中的哪个特定光电传感器具有更高量子效率或更高信噪比，其中所述第一光电传感器具有在第一波长处的最高量子效率，且其中所述第二光电传感器具有在第二波长处的最高量子效率。附图说明实施例作为例子被示出并且不受附图限制。图1包括作为来自锗酸铋闪烁器的闪烁光的波长的函数的强度的曲线图的图示。图2包括作为来自CsI(T1)闪烁器的闪烁光的波长的函数的强度的曲线图的图示。图3包括根据实施例的用于评价光电传感器的性能的光电传感器测试装置的示意图。图4包括根据实施例的测试光电传感器的方法的工艺流程图。图5包括作为来自锗酸铋闪烁器和多个不同光源的光的波长的函数的强度的曲线图的图示。图6包括根据实施例的包括选定光电传感器的辐射检测装置的示意图。图7包括当使用多个不同光源时作为BGO闪烁器和模拟光(计算和测量)的函数的强度的曲线图的图示。熟练技术人员应当领会图中的元件为了简单和清楚而示出并且不必按照比例绘制。例如，图中的一些元件的尺寸可以相对于其它元件放大以帮助改善本专利技术的实施例的理解。相同附图标记在不同图中的使用指示相似或相同项。具体实施方式以下描述与附图组合被提供以帮助理解本文中公开的教导。以下论述将聚焦于教导的具体实现方式和实施例。该聚焦被提供以帮助描述教导并且不应当被理解为限制教导的范围或可应用性。当在本文中使用时，术语“颜色类型”旨在表示与光电传感器或光源关联的主要颜色。例如，相比于其它光谱(如绿光光谱或红光光谱)，蓝色光电传感器对蓝光光谱中的波长的光具有其最大敏感度。在另一例子中，相比于蓝光光谱或红光光谱，绿光源具有在绿光光谱中的波长处的它的发射峰值。术语“闪烁器发射光谱”旨在表示作为来自闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光的波长的函数的强度谱。术语“紫外”和“UV”均旨在表示具有在190nm到400nm的范围内的波长或波长的光谱的辐射。术语“包括”、“包含”、“具有”或它们的任何其它变型旨在涵盖非排他包括。例如，包括一系列特征的工艺、方法、制品或装置不必仅仅被限制到那些特征，而是可以包括未明确列出的其它特征或这样的工艺、方法、制品或装置固有的其它特征。此外，除非相反地明确说明，“或”表示兼或而不是异或。例如，条件A或B由以下的任何一个满足：A为真(或存在)并且B为假(或不存在)，A为假(或不存在)并且B为真(或存在)，以及A和B都为真(或存在)。“一”的使用用于描述本文中所述的元件和部件。这样做仅仅是为了方便和赋予本专利技术的范围的一般意义。该描述应当被理解为包括一个或至少一个并且单数也包括复数，反之亦然，除非显而易见它具有另外含义。除非另外限定，本文中使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术所属的领域中的普通技术人员的通常理解相同的含义。材料、方法和例子仅仅是示例性的并且不旨在限制。在本文中未描述的范围内，关于具体材料和加工行动的许多细节是常规的并且可以在闪烁和辐射检测领域内的教科书和其它资源中找到。光电传感器测试装置可以用于测试光电传感器以确定哪个特定光电传感器相比于测试的任何其它光电传感器更好地适合于特定应用。光电传感器测试装置可以包括多个光源，所述光源可以被控制以模拟对应于特定闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光的光。闪烁光的衍生光的例子可以包括波长移动光。在实施例中，如果光电传感器将在具有特定闪烁器的辐射检测装置中使用，则不同光源的组合可以同时被启动以更接近地模拟将由光电传感器接收的光。此外，如果需要或期望的话，波长移动器可以与光源中的任何一个或多个一起使用。光电传感器测试装置可以在DC模式或脉冲模式下操作。然而熟练技术人员理解如何在这样的模式下操作光电传感器，其也可以访问http://sales.hamamatsu.com/assets/pdf/catsandguides/PMT_82-87.pdf。在实施例中，光电传感器测试装置可以包括其它部件，如前置放大器或放大器、数模转换器、光谱分析器、多通道分析器、控制模块等。量子效率、信噪比、另一合适的参数或它们的任何组合可以用作用于选择光电传感器的标准。在选择光电传感器之后，光电传感器可以是包括对应于模拟光的特定闪烁器的辐射检测装置的一部分。辐射检测装置可以包括关于光电传感器测试装置所述的任何部件，区别在于多个不同光源由包括闪烁器并且可选地包括光耦合部件的组件替换。光电传感器测试装置和方法特别好地适合于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，其包括：生成具有对应于闪烁器发射光谱的模拟发射光谱的模拟光，所述闪烁器发射光谱对应于来自闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光，其中使用多个光源执行生成模拟光，其中在生成的至少一部分期间，生成包括同时发射来自所述多个光源中的至少两个不同颜色类型的光源的光；响应接收模拟光获得来自第一光电传感器的第一输出；响应接收模拟光获得来自第二光电传感器的第二输出；确定所述第一输出和所述第二输出中的哪一个对应于更高量子效率或更高信噪比；以及在所述第一光电传感器和所述第二光电传感器之间，选择具有更高量子效率或更高信噪比的特定光电传感器用于光耦合到所述闪烁器。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.09.30 US 61/707995;2012.10.25 US 61/7185071.一种测试多个光电传感器的方法，其包括：生成具有对应于闪烁器发射光谱的模拟发射光谱的模拟光，所述闪烁器发射光谱对应于来自闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光，其中使用多个光源执行生成模拟光，其中在生成所述模拟光的至少一部分期间，生成包括同时发射来自所述多个光源中的至少两个不同颜色类型的光源的光；响应接收模拟光获得来自第一光电传感器的第一输出，其中所述第一光电传感器具有在第一波长处的最高量子效率；响应接收模拟光获得来自第二光电传感器的第二输出，其中所述第二光电传感器具有在第二波长处的最高量子效率；确定所述第一输出和所述第二输出中的哪一个对应于更高量子效率或更高信噪比；以及在所述第一光电传感器和所述第二光电传感器之间，选择具有更高量子效率或更高信噪比的特定光电传感器用于光耦合到所述闪烁器。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一波长和所述第二波长之间的差值在150nm内。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述闪烁器具有在所述第一波长和所述第二波长之间的特定波长处的发射峰值，其中所述特定波长离开所述第一波长和所述第二波长的每一个至少25nm。4.根据权利要求2所述的方法，其中所述闪烁器具有在特定波长处的发射峰值，并且所述特定波长不在所述第一波长和所述第二波长之间。5.根据权利要求1或2所述的方法，其中：所述多个光源包括第一光源和相比于所述第一光源属于不同颜色类型的第二光源；在第一时间点，以第一光强度操作所述第一光源，并且以第二光强度操作所述第二光源，其中所述第一光强度和所述第二光强度大于零；并且在第二时间点，所述第一光源、所述第二光源或所述第一光源和所述第二光源两者的光强度不同于在所述第一时间点时的光强度。6.根据权利要求5所述的方法，其中在所述第二时间点：以不同于所述第一光强度的第三光强度操作所述第一光源；并且以所述第二光强度操作所述第二光源。7.根据权利要求5所述的方法，其中在所述第二时间点：以所述第一光强度操作所述第一光源；并且以不同于所述第二光强度的第四光强度操作所述第二光源。8.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中所述第一光电传感器相比于所述第二光电传感器响应接收所述模拟光具有更高量子效率。9.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中使用多个发光二极管生成所述模拟光。10.根据权利要求9所述的方法，其中所述多个发光二极管包括以下的任何组合：蓝光发光二极管、绿光发光二极管、黄光发光二极管、红光发光二极管和UV光发光二极管。11.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中所述多个光源包括白光源、UV光源、红外光源或它们的任何组合。12.根据权利要求2所述的方法，其中所述第一波长和所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·杜拉，J·M·弗兰克，
申请(专利权)人：圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US