液晶模组不良信息预先提示方法技术

技术编号:11704720 阅读:133 留言:0更新日期:2015-07-09 04:17
本发明专利技术公开了一种液晶模组不良信息预先提示方法,该方法为上位机通过网络连接图形发生器,用户通过上位机的不良液晶模组提示信息编辑界面编辑不良液晶模组提示信息初始化文件,实现不同液晶模组的不良提示信息提示功能,上位机程序通过解析用户自定义编辑的不良液晶模组提示信息初始化文件,把适合当前液晶模组的不良提示信息提示给用户,不再需要编辑大量的上位机程序内部代码,提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
液晶模组不良信息预先提示方法
本专利技术涉及液晶模组测试
,具体地指一种液晶模组不良信息预先提示方法。
技术介绍
目前,由于某些批次的液晶模组因为工艺问题出现不良高发,无法改善,需要上位机软件通过PanelID(液晶模组ID地址)进行区分,弹出对话框显示当前的PanelID和对应的不良信息,提示操作员进行筛选,但是现有方法存在以下几个方面的弊端:(1)上位机程序内部代码根据宏定义实现不同批次液晶模组不同不良提示的兼容,代码量大,维护不方便;(2)不同产线对应特定版本上位机程序,不方便管理;(3)应用环境多,上位机程序需要频繁改动。
技术实现思路
本专利技术的目的就是要提供一种液晶模组不良信息预先提示方法,该方法解决了目前为了应对产线液晶模组差异而频繁修改上位机程序的问题,灵活兼容各种应用环境的不良液晶模组提示信息需求,减少了上位机程序的代码量。为实现此目的,本专利技术所设计的液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:根据待测的各个液晶模组的不良状态在上位机上层应用软件的不良液晶模组提示信息编辑界面中编辑多组不良信息预先提示所需要的信息,每组不良信息预先提示所需要的信息包括测试文件名称信息、过滤字符串信息、起始位置信息、液晶模组不良状态提示信息,编辑完毕后,每组不良信息预先提示所需要的信息保存为一个不良液晶模组提示信息初始化文件,每个不良液晶模组提示信息初始化文件以该不良液晶模组提示信息初始化文件内部的测试文件名称信息为文件名;步骤2:在液晶模组开始测试之前,上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析,并根据解析的结果给出用户提示;步骤3:根据上位机程序给出的上述用户提示,检查对应的液晶模组不良状态。本专利技术的有益效果:1、本专利技术减少了上位机程序的代码量;以前的不良液晶模组提示信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现,每当增加新的不良液晶模组提示信息,就要在上位机上层应用程序中以添加代码,而本专利技术只需在不良液晶模组提示信息初始化文件(.idf文件)中完成新不良液晶模组提示信息的添加,无需修改上层应用程序代码,减少代码量。2、本专利技术减少了上位机程序版本数量,减少上位机程序修改频率,方便管理;以前的不良液晶模组提示信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现,每当增加新的不良液晶模组提示信息,就要出一个版本的上层应用程序,而本专利技术只需在不良液晶模组提示信息初始化文件(.idf文件)中完成新不良液晶模组提示信息的添加,无需修改上层应用程序代码,减少了上位机程序的版本数量。3、本专利技术的不良液晶模组提示信息初始化文件可扩展性强;如果需要其他形式的不良液晶模组提示信息,只需在不良液晶模组提示信息初始化文件里添加新的键值,在上层添加新的解析方法即可。附图说明图1为本专利技术的应用环境的设备结构框图。图2为本专利技术中的上位机不良液晶模组提示信息编辑界面。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步的详细说明:本专利技术所基于的设备如图1所示,包括依次连接的上位机、图形发生器和液晶模组。本专利技术的实现方式为上位机通过网络连接图形发生器,用户通过上位机的不良液晶模组提示信息编辑界面编辑不良液晶模组提示信息初始化文件,实现不同液晶模组的不良提示信息提示功能,上位机程序通过解析用户自定义编辑的不良液晶模组提示信息初始化文件,把适合当前液晶模组的不良提示信息提示给用户,不再需要编辑大量的上位机程序内部代码,提高了工作效率。本专利技术的具体方法,包括以下步骤:步骤1:根据待测的各个液晶模组的不良状态,用户在上位机上层应用软件的不良液晶模组提示信息编辑界面中编辑多组不良信息预先提示所需要的信息(如图2所示),每组不良信息预先提示所需要的信息包括测试文件名称信息(FileName)、过滤字符串信息(FilterString)、起始位置信息(StartPosition)、液晶模组不良状态提示信息(PromptInfor,即对应液晶模组的不良状态提示),编辑完毕后,每组不良信息预先提示所需要的信息保存为一个.idf(IdFilter的缩写)不良液晶模组提示信息初始化文件,每个不良液晶模组提示信息初始化文件以该不良液晶模组提示信息初始化文件内部的测试文件名称信息为文件名(即当前测试文件名称信息为1-Wire时,对应的不良液晶模组提示信息初始化文件为1-Wire.idf);步骤2:在液晶模组开始测试之前,上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号(通过过滤字符串信息判断)对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析,并根据解析的结果给出用户提示(此步骤由上位机上层应用软件和图形发生器共同完成);步骤3:用户根据上位机程序给出的上述用户提示,检查对应的液晶模组不良状态,用户针对出现的不良状态重量对液晶模组进行相应的处理(此步骤由上位机上层应用软件和图形发生器共同完成)。上述技术方案中,所述液晶模组不良状态提示信息包括液晶模组色差不良状态提示信息、液晶模组外观不良状态提示信息、液晶模组像素点(Pixel)不良状态提示信息、液晶模组像素线(Line)不良状态提示信息和/或液晶模组电流值不良状态提示信息。上述技术方案的步骤2中上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析的具体过程为:当前测试文件名称信息为1-Wire时,上位机上层应用软件自动读取文件名为1-Wire.idf的不良液晶模组提示信息初始化文件,文件名为1-Wire.idf的不良液晶模组提示信息初始化文件的过滤字符串信息的过滤字符串为ab/cd/ef,起始位置信息为0,液晶模组不良状态提示信息为液晶模组电流值不良状态提示信息,如果当前液晶面板号的起始两个字符为ab或cd或ef(即“abxxx”或“cdxxx”或“efxxx”),则表示当前液晶模组为不良液晶模组,上位机程序会把液晶模组电流值不良状态提示信息弹窗提示给用户,并且把当前液晶面板号的过滤字符标红加大突出显示,如果当前液晶面板号的起始两个字符不是ab、cd和ef其中的任何一个,表示该液晶模组不属于不良液晶模组,不做任何提示。上述技术方案中,所述过滤字符串信息为要在液晶面板号(PanelID)里过滤的字符串,可以有多个要过滤的字符串,相邻的两个字符串之间用“/”分割开。上述技术方案中,所述起始位置信息为上述要过滤的字符串的起始位置。上述技术方案中,每个液晶模组的不良状态对应一组或多组不良信息预先提示所需要的信息。本专利技术通过人工自定义编辑不良液晶模组提示信息初始化文件,把以前上位机程序内部所做的工作移到外部初始化文件,快速修改不良液晶模组提示信息,灵活便捷。本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。本文档来自技高网...
液晶模组不良信息预先提示方法

【技术保护点】
一种液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:根据待测的各个液晶模组的不良状态在上位机上层应用软件的不良液晶模组提示信息编辑界面中编辑多组不良信息预先提示所需要的信息,每组不良信息预先提示所需要的信息包括测试文件名称信息、过滤字符串信息、起始位置信息、液晶模组不良状态提示信息,编辑完毕后,每组不良信息预先提示所需要的信息保存为一个不良液晶模组提示信息初始化文件,每个不良液晶模组提示信息初始化文件以该不良液晶模组提示信息初始化文件内部的测试文件名称信息为文件名;步骤2:在液晶模组开始测试之前,上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析,并根据解析的结果给出用户提示;步骤3:根据上位机程序给出的上述用户提示,检查对应的液晶模组不良状态。

【技术特征摘要】
1.一种液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:根据待测的各个液晶模组的不良状态在上位机上层应用软件的不良液晶模组提示信息编辑界面中编辑多组不良信息预先提示所需要的信息,每组不良信息预先提示所需要的信息包括测试文件名称信息、过滤字符串信息、起始位置信息、液晶模组不良状态提示信息,编辑完毕后,每组不良信息预先提示所需要的信息保存为一个不良液晶模组提示信息初始化文件,每个不良液晶模组提示信息初始化文件以该不良液晶模组提示信息初始化文件内部的测试文件名称信息为文件名;步骤2:在液晶模组开始测试之前,上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号对相应的不良液晶模组提示信息初始化文件进行解析,并根据解析的结果给出用户提示;步骤3:根据上位机程序给出的上述用户提示,检查对应的液晶模组不良状态。2.根据权利要求1所述的液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于:所述液晶模组不良状态提示信息包括液晶模组色差不良状态提示信息、液晶模组外观不良状态提示信息、液晶模组像素点不良状态提示信息、液晶模组像素线不良状态提示信息和/或液晶模组电流值不良状态提示信息。3.根据权利要求2所述的液晶模组不良信息预先提示方法,其特征在于:所述步骤2中上位机上层应用软件根据当前液晶模组的液晶面板号...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭骞李昂刘荣华雷新军严运思帅敏陈凯沈亚非
申请(专利权)人:武汉精测电子技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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