高度量测装置及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种高度量测装置及其方法，适用于具有反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。

【技术实现步骤摘要】
高度量测装置及其方法
本专利技术涉及一种高度量测装置与其方法，特别是涉及一种应用激光测距的高度量测装置与其方法。
技术介绍
一般市面上量测身高的仪器包括：手动身高测量计、电子身高体重秤、婴儿身长计、机械式身高体重秤、BMI身高体重计等。为了准确量得身高，在使用身高体重计的时候，往往需要由旁人协助操作。此外，为了能适用于所有人，身高体重计通常需要比人还要高，因此会具有很大的体积，而不便于携带使用。
技术实现思路
有鉴于以上的问题，本专利技术提出一种高度量测装置与其方法，此高度量测装置以激光测距法量测第一长度(天花板的高度)与关于天花板以及待测物的第二长度，而后依据第一长度与第二长度可以计算待测物的高度。此高度量测装置无需占用非常大的空间，而可以被整合至体重计中，因此便于携带并运用于具有天花板的环境。依据本专利技术一实施例的一种高度量测方法，适用于具有第一反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至第一反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光，其中第一反射光直接反射于第一反射面。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被第一反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光，其中第二反射光是被待测物与第一反射面所反射。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。依据本专利技术一实施例的一种高度量测装置，适用于具有反射面的环境，此高度量测装置包含基板、至少一个激光发射模块、至少一个光检测模块与控制模块。基板具有基板上表面，用以承载待测物。激光发射模块配置于基板上表面的发射位置，用以沿第一光径发射第一激光至天花板，并沿第二光径发射第二激光，第二激光被天花板反射至待测物。光检测模块配置于基板上表面的检测位置，用以判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光与对应于第二激光的第二反射光，以选择性地产生对应于第一反射光的第一数据与对应于第二反射光的第二数据，其中第一反射光直接反射于天花板而第二反射光是被待测物与天花板所反射。控制模块分别电性连接至激光发射模块与光检测模块，用以依据第一数据与第二数据分别计算第一长度值与第二长度值，并依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。综上所述，依据本专利技术至少一实施例所提出的高度量测装置及其方法，以激光测距法量测第一长度(基板到第一反射面的距离)与第二长度(第一反射面与待测物的距离)，而后依据第一长度与第二长度可以计算待测物的高度。此高度量测装置无需占用非常大的空间，而可以被整合至体重计中，因此便于携带并运用于具有反射面的环境。以上关于本
技术实现思路
的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本专利技术的精神与原理，并且提供本专利技术的权利要求更进一步的解释。附图说明图1A为本专利技术一实施例的高度量测装置俯视示意图。图1B为对应于图1A的剖面示意图。图1C为本专利技术另一实施例的高度量测装置俯视示意图。图2为本专利技术一实施例的高度量测装置功能方块图。图3A为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图3B为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图3C为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图3D为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图3E为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图3F为本专利技术一实施例中以余弦辐射体(Lambertradiator)来说明图3E的技术的示意图。图3G为本专利技术一实施例的高度量测装置误操作示意图。图4为本专利技术一实施例的时间光强度示意图。图5A为本专利技术一实施例的高度量测装置操作示意图。图5B为本专利技术另一实施例的高度量测装置操作示意图。图6为本专利技术一实施例的高度量测方法流程图。附图符号说明1高度量测装置11第一激光发射模块13第一光检测模块15第二激光发射模块17第二光检测模块18基板19控制模块201第一光径203、205、207、209第二光径22反射面24使用者h1第一长度值h2高度d1第二长度值d3第三长度值t1、t2时间Ith强度阈值θ、θ1、θ2夹角具体实施方式以下在实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭示的内容、权利要求及附图，本领域技术人员可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本专利技术的观点，但非以任何观点限制本专利技术的范畴。依据本专利技术一实施例的一种高度量测装置请参照图1A与图1B，图1A是依据本专利技术一实施例的高度量测装置俯视示意图，图1B是对应于图1A的剖面示意图。如图1A所示，高度量测装置1可包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15、第二光检测模块17与基板18。第一激光发射模块11与第二激光发射模块15分别位于基板18的基板上表面的第一发射位置与第二发射位置。而第一光检测模块13与第二光检测模块17分别位于基板18的基板上表面的第一检测位置与第二检测位置。于另一实施例中，请参照图1C，其是依据本专利技术另一实施例的高度量测装置俯视示意图。如图1C所示，高度量测装置1可包含多个第一激光发射模块11、多个第一光检测模块13与基板18。对应于图1A的高度量测装置请一并参照图2，其是依据本专利技术一实施例的高度量测装置功能方块图。如图2所示，高度量测装置1可以包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15、第二光检测模块17与控制模块19(未绘示于图1A但绘示于图2)。控制模块19分别电性连接至第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15与第二光检测模块17。然而，于另一实施例中，高度量测装置1可以只包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13与控制模块19。控制模块19分别电性连接至第一激光发射模块11与第一光检测模块13。在对应于图2的一实施例中，可以用第一激光发射模块11以第一光径发射第一激光，而用第二激光发射模块15以第二光径发射第二激光。其中，以第一光径为例，第一光径关联于第一激光发射模块11所在的第一发射位置以及一个第一发射角度，因此第一激光发射模块11可以藉由调整第一发射位置(例如移动第一激光发射模块11或是选择另一个第一激光发射模块)或是调整第一发射角度来调整/改变第一光径。以同样的原则，可以用第二激光发射模块来调整第二光径。依据本专利技术的精神，前述多个激光发射模块可以是二氧化碳激光器、一氧化碳激光器、金属蒸气激光器、金属卤化物激光器、盐酸激光器、碘激光器或其他可用来发射激光进行测距的激光器，本专利技术不以此为限。在对应于图2的一实施例中，可以第一光检测模块13来判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光，以选择性地产生对应于第一反射光的第一数据。以第二光检测模块17来判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光，以选择性地产生对应于第二反射光的第二数据。更明确地说，以第一光检测模块13为例，第一光检测模块13可以包含一个光耦合单元与一个比较单元。当光耦合单元接收到特定频率的光(以本专利技术为例，是第一激光的频率)时，会产生第一耦合讯号。而比较单元就把第一耦合讯号与第一强度阈值进行比较，当第一耦合讯号的电流或者电压大于第一强度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高度量测方法，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测方法包含：沿一第一光径发射一第一激光；判断是否接收到对应于该第一激光的一第一反射光，其中该第一反射光是被该第一反射面所反射；若接收到该第一反射光，依据对应于该第一反射光的一第一数据，计算一第一长度值；沿一第二光径发射一第二激光；判断是否接收到对应于该第二激光的一第二反射光，其中该第二反射光是被该待测物与该第一反射面所反射；若接收到该第二反射光，依据对应于该第二反射光的一第二数据，计算一第二长度值；以及至少依据该第一长度值与该第二长度值，计算该待测物的一待测物高度。

【技术特征摘要】
2013.12.20 TW 1021474751.一种高度量测方法，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测方法包含：沿一第一光径发射一第一激光；判断是否接收到对应于该第一激光的一第一反射光，其中该第一反射光是被该第一反射面所反射；若接收到该第一反射光，依据对应于该第一反射光的一第一数据，计算一第一长度值；沿一第二光径发射一第二激光；判断是否接收到对应于该第二激光的一第二反射光，其中该第二反射光是被待测物与该第一反射面所反射；若接收到该第二反射光，依据对应于该第二反射光的一第二数据，计算一第二长度值；以及至少依据该第一长度值与该第二长度值，计算该待测物的一待测物高度。2.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一反射面选自由一天花板、一墙面与一挡板所组成的群组其中之一。3.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光的步骤中为一第一强度阈值与一第一时间阈值判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光。4.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光的步骤中，若未接收到该第一反射光，则修正该第一光径以重新发射该第一激光。5.如权利要求4所述的高度量测方法，其中该第一光径关联于一第一发射位置与一第一发射角度，并且修正该第一光径至少修正该第一发射位置或该第一发射角度。6.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第二激光的该第二反射光的步骤中为一第二强度阈值与一第二时间阈值判断。7.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第二激光的该第二反射光的步骤中，若未接收到该第二反射光，则修正该第二光径以重新发射该第二激光。8.如权利要求7所述的高度量测方法，其中该第二光径关联于一第二发射位置与一第二发射角度，并且修正该第二光径至少修正该第二发射位置或该第二发射角度。9.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射时间与该第一反射光被接收的一第一接收时间，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射时间与该第二反射光被接收的一第二接收时间，并且在依据该第一数据，计算该第一长度值的步骤中为该第一发射时间与该第一接收时间计算该第一长度值，并且在依据该第二数据，计算该第二长度值的步骤中为该第二发射时间与该第二接收时间计算该第二长度值。10.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射相位与该第一反射光被接收的一第一接收相位，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射相位与该第二反射光被接收的一第二接收相位，并且在依据该第一数据，计算该第一长度值的步骤中为该第一发射相位与该第一接收相位计算该第一长度值，并且在依据该第二数据，计算该第二长度值的步骤中为该第二发射相位与该第二接收相位计算该第二长度值。11.如权利要求1所述的高度量测方法，还包含：沿一第三光径发射一第三激光；判断是否接收到对应于该第三激光的一第三反射光，其中该第三反射光是被该待测物与该第一反射面所反射；以及若接收到该第三反射光，依据对应于该第三反射光的一第三数据，计算一第三长度值；其中，在计算该待测物的该待测物高度的步骤中为该第一长度值、该第二长度值与该第三长度值，计算该待测物高度。12.一种高度量测装置，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测装置包含：一基板，具有一基板上表面，用以承载一待测物；至少一激光发射模块，配置于该基板上表面...

【专利技术属性】
技术研发人员：张耀宗，李佳宪，林百洋，钟顺麒，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71