检测系统的运作方法技术方案

本发明专利技术公开了一种检测系统的运作方法，该检测系统具有一检测机以及一探针模块，且该探针模块一第一探针组及一第二探针组，且该第一探针组与该第二探针组中的一个可与该检测机连接；该运作方法包括下列步骤：先连接该检测机与该第一探针组，并校正该检测系统后，将该第一探针组与一待测物抵接，并对该待测物进行电性检测；而后，将该第一探针组与该待测物分离，并分离该检测机与该第一探针组；之后，连接该检测机与该第二探针组，并重新校正该检测系统，且将该第二探针组与该待测物抵接，以对该待测物进行电性检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测系统，特别是一种。
技术介绍
按，随着电子产品发展日渐蓬勃，为确保电子产品出厂时的质量，制造、组装及出厂前，通常都会通过检测系统检测电子产品的各精密电子元件间的电性连接是否确实。而为使检测能更加准确，检测系统组装好探针组后，会先将其探针抵接于一校正片上，进行检测数值的补偿(如归零)。然而，此种运作方法仅在测试初始时执行，且之后因应不同测试需求而更换探针时，仍以初始的检测数值进行补偿，而易有误差产生，导致测试结果不够精准。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的用于提供一种，可使每次更换探针组后，皆能具有准确的检测结果。缘以达成上述目的，本专利技术有一种提供，该检测系统具有一检测机以及一探针模块，且该探针模块一第一探针组以及一第二探针组，且该第一探针组与该第二探针组中的一个可与该检测机电性连接；该运作方法包括下列步骤:A、连接该检测机与该第一探针组；B、校正该检测系统；C、将该第一探针组与一待测部位抵接，并对该待测部位进行电性检测；D、将该第一探针组与该待测物分离；E、分离该检测机与该第一探针组；F、连接该检测机与该第二探针组；G、重新校正该检测系统。由此，通过每次更换探针组后，便实时进行校正的设计，便可使该检测系统所得的检测结果更加地准确。【附图说明】图1为检测系统的架构图；图2为本专利技术的运作方法的流程图。【附图标记说明】10 检测机12 导线121公接头30 探针组34a第一探针组34b第二探针组341母接头342母接头【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术作进一步的详细说明。请参图1所示，检测系统包括依序电性连接的一检测机10以及一探针模块30，该检测机10上设有一同轴的导线12，且该导线12 —端设有一以导体制成的公接头121。该探针组30则包括不同测量间距的一第一探针组34a与一第二探针组34b，且该第一探针组34a与该第二探针组34b上分别设有一以导体制成的母接头341、342。如此一来，该检测机10便可依据测量点的间距须求，将该导线12上的公接头121与该第一探针组34a或该第二探针组34b上的母接头341、342连接，使得该第一探针组34a或该第二探针组34b可通过该导线12与该检测机10电性连接。当然，在其他实施方式中，除使用可重复插拔的公母接头的设计外，亦可通过如夹具或其它可进行重复结合与分离的结构设计来达到连接的目的。由此，请参阅图2，当该检测系统欲进行检测时，便可执行以下运作方法来确保检测时的准确度，而该运作方法包括下列步骤:A、连接该导线12上的公接头121与该第一探针组34a上的母接头341，使该导线12与该第一探针组34a电性连接。B、校正该检测系统。在本实施例中，利用将该第一探针组34a的针尖分次抵接于一校正片(图未示)的短路接点、断路接点以及阻抗接点上以进行对应短路测量、断路测量以及阻抗测量，并依据测量所得的数值进行对应的数值校正(如归零、数值偏移补偿等)，以达到校正该检测系统的目的。C、将该第一探针组34a的针尖与一待测物的待测部位抵接，而后，该检测机10产生检测信号将通过该导线12传导给该第一探针组34a，而将检测信号输出至该待测物后，再回传至该第一探针组34a，并再通过该导线12传导回该检测机10而形成一信号回路。如此一来，该检测机10便可依据回传的测试信号判定该待测部位电气特性是否正常，进而达到对该待测物进行电性检测的目的。D、检测完前述的该待测部位后，则将该第一探针组34a的针尖与该待测物分离。E、而后，当该检测系统欲检测该待测物的另一待测部位，而该另一待测部位的测量间距与在步骤C的待测部位的测量间距不同时，则将该第一探针组34a上的母接头341与该导线12上的公接头121分离，使该第一探针组34a与该导线12之间呈现断路。F、连接该导线12上的公接头121与该第二探针组34b，使该导线12与该第二探针组34b电性连接。G、将该第二探针组34b的针尖分次抵接于该校正片的短路接点、断路接点以及阻抗接点上以进行短路测量、断路测量以及阻抗测量，并依据测量所得的数值进行对应的数值校正(如归零、数值偏移补偿等)，以重新校正该检测系统。H、校正完成后，便可将该第二探针组34b与该待测物的该另一待测部位抵接，而后，该检测机10产生检测信号将通过该导线12传导给该第二探针组34b，而将检测信号输出至该待测物后，再回传至该第二探针组34b，并再通过该导线12传导回该检测机10而形成一信号回路，该检测机10便可依据回传的测试信号判定该另一待测部位电气特性是否正常，进而达到对该待测物进行电性检测的目的。由此，通过上述的方法设计，检测系统在每次更换探针组34a、34b后，便可实时地进行数值校正，如此一来，便可避免各探针组34a、34b间的电气特性差异造成测量结果产生误差，进而使该检测系统所得的检测结果能更加地准确。当然，在实际实施上，探针组初始的设定通常都是符合标准的，而使得上述的步骤H的电性检测步骤，亦可在步骤F之后、步骤G之前执行，并当检测出的良率持续过低时，再进行步骤G的校正流程即可。此外，本专利技术除适用于两组探针组34a、34B的检测系统外，亦可适用于其他具有三组以上探针组的检测系统。以上所述的具体实施例，对本专利技术的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，应理解的是，以上所述仅为本专利技术的具体实施例而已，并不用于限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.一种，该检测系统具有一检测机以及一探针模块，且该探针模块一第一探针组以及一第二探针组，且该第一探针组与该第二探针组中的一个可与该检测机电性连接；该运作方法包括下列步骤: A、电性连接该检测机与该第一探针组； B、校正该检测系统； C、将该第一探针组与一待测部位抵接，并对该待测部位进行电性检测； D、将该第一探针组与该待测物分离； E、电性分离该检测机与该第一探针组； F、电性连接该检测机与该第二探针组； G、重新校正该检测系统。2.如权利要求1所述的，其特征在于，该检测机上设有一导线，且在步骤A中，连接该导线与该第一探针组，使该检测机与该第一探针组电性连接；且在步骤E中，分离该导线与该第一探针组，使该检测机与该第一探针组电性分离。3.如权利要求2所述的，其特征在于，该导线一端具有一公接头，而该第一探针组具有一对应的母接头，且在步骤A中，连接该公接头与该母接头，使该导线与该第一探针组连接；且在步骤E中，分离该公接头与该母接头，使该导线与该第一探针组分离。4.如权利要求1所述的，其特征在于，在步骤B中，利用将该第一探针组抵接于一校正片上以进行短路测量、断路测量以及阻抗测量至少其中之一，并依据测量所得的数值进行对应的补偿以校正该检测系统。5.如权利要求1所述的，其特征在于，该检测机上设有一导线，且在步骤F中，连接该导线与该第二探针组，使该检测机与该第二探针组电性连接。6.如权利要求2所述的，其特征在于，该导线一端具有一公接头，而该第二探针组具有一对应的母接头，且在步骤F中，连接该公接头与该母接头，使该导线与该第二探针组连接。7.如权利要求1所述的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测系统的运作方法，该检测系统具有一检测机以及一探针模块，且该探针模块一第一探针组以及一第二探针组，且该第一探针组与该第二探针组中的一个可与该检测机电性连接；该运作方法包括下列步骤：A、电性连接该检测机与该第一探针组；B、校正该检测系统；C、将该第一探针组与一待测部位抵接，并对该待测部位进行电性检测；D、将该第一探针组与该待测物分离；E、电性分离该检测机与该第一探针组；F、电性连接该检测机与该第二探针组；G、重新校正该检测系统。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：顾伟正，吕绍玮，魏豪，王友泽，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71