超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置及测量方法制造方法及图纸

一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，包括第一耦合镜、第二耦合镜、分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、互相关晶体、二倍频晶体、第四反射镜、第五反射镜、衍射元件、光电探测器和计算机；采用了互相关方法来实现超短脉冲的前沿和后沿的高分辨率测量，得到其时间波形和脉冲宽度；还采用了与时间轴正交的衍射元件实现超短脉冲的光谱测量，得到其光谱宽度，从而能够基于脉冲宽度和光谱宽度，得到被测脉冲的啁啾率，非常方便地满足物理实验对于时间波形的测量需求，以及超短脉冲激光系统对啁啾率的测量需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超短脉冲的时间波形和啁啾率测量装置及测量方法，包括皮秒量级和飞秒量级的单次超短脉冲。
技术介绍
超短脉冲的时间波形是物理实验中的一项重要技术参数，决定了超短脉冲与物质相互作用时的实时功率。啁啾率是超短脉冲激光系统的研制与调试中的一项重要技术参数，决定了脉冲宽度展宽和压缩的可行性。传统的激光脉冲的时间波形测量方法，有示波器和条纹相机两种。当采用16GHz的高速示波器进行脉宽测量时，综合考虑快响应光电管、屏蔽电缆线、以及相应的接口电路元器件的带宽，其上升沿响应为71.5ps，即时间分辨率大于71.5ps。当采用条纹相机时，其时间分辨率为2.85ps。当采用单次自相关仪时，极限分辨率能够达到7fs左右，能够用于皮秒级(10-12秒)和飞秒级(10-15秒)超短脉冲的脉冲宽度分析和测量。但是单次自相关仪在时间轴上关于中心位置呈对称结构，无法分辨脉冲的前沿和后沿，不具有时间波形测量能力。近年来基于自相关方法发展的频率分辨光学开法(Frequency-resolved Optical Gating，FROG)也无法分辨脉冲的前沿和后沿，因此也不具有时间波形和啁啾率测量能力。夏彦文在2009年申请了专利“一种用于高功率激光测试系统的光纤耦合方法”(申请号：CN200910215304)，用于纳秒级(10-9秒)时间波形测量，通过降低示波器的使用数量来降低成本。曹婧在2010年申请了专利“高功率激光器多路光纤采r>样时间波形测量装置”(申请号：CN201010129603)，也用于纳秒级(10-9秒)时间波形测量。吴正香在2013年申请了专利“超快光脉冲时间波形的测量装置”，(申请号：CN201310103586)采用了基于光波导的折射率偏转技术用于皮秒量级的时间波形测量。孙志红在2014年申请了专利“一种激光脉冲波形测量装置”，(申请号：CN201410115538)采用了基于光波导的多次反射技术用于皮秒量级的时间波形测量。牛振国在2014年申请了专利“单次超快脉冲时间波形和信噪比的测量装置”，(申请号：CN201410524967)采用了基于光波导的折射率偏转技术和光纤阵列技术用于皮秒级时间波形测量。皮秒量级超短脉冲的光谱宽度大约为1-6nm，飞秒量级超短脉冲的光谱宽度大约为20-50nm。啁啾率为脉冲宽度与光谱宽度的比值。超短脉冲的展宽和压缩过程中脉冲宽度发生变化，但是光谱宽度保持不变，因此啁啾率随着脉冲宽度的变化而变化。当啁啾率为线性时，超短脉冲能够被光栅所展宽和压缩。当啁啾率为非线性时，超短脉冲不能够被光栅所展宽和压缩。因此啁啾率的测量是超短脉冲的研究工作中非常重要的一项技术参数。目前啁啾率的测量手段是分别使用自相关仪测量超短脉冲的宽度、使用光谱仪测量超短脉冲的光谱，间接得到啁啾率。这将使整体光路结构复杂，增加了超短脉冲测量工作的复杂度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的不足，提供一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，基于互相关方法实现超短脉冲的前沿和后沿的高精度分辨，提供时间波形和脉冲宽度的分辨能力，同时具备光谱分辨能力，能够在同一套测量装置上直接测量超短脉冲的啁啾率。这将有助于快速判断被测脉冲啁啾率的线性程度，评价其是否具有可压缩性。本专利技术的技术解决方案是：一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，其特点在于，包括第一耦合镜、第二耦合镜、分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、互相关晶体、二倍频晶体、第四反射镜、第五反射镜、衍射元件、光电探测器和计算机；上述各部件的位置关系如下：沿被测超短脉冲方向依次是所述的第一耦合镜、第二耦合镜和分光镜，该分光镜将所述的被测超短脉冲分为反射脉冲和透射脉冲，在所述的反射脉冲方向依次是所述的第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜和互相关晶体，在所述的透射脉冲方向依次是所述的二倍频晶体、第四反射镜和互相关晶体，在所述的互相关晶体产生的互相关信号方向依次是所述的第五反射镜、衍射元件和光电探测器，该光电探测器的输出端与所述的计算机的输入端相连。所述的互相关晶体为非线性晶体，包括BBO、LBO、KDP或YCOB。所述的衍射元件(12)是光栅或棱镜。利用所述的测量装置进行超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量方法，其特点在于，该方法包括如下步骤：①利用互相关方法，得到互相关信号的前沿和后沿，然后换算为被测脉冲的前沿和后沿。互相关过程的公式如下：Ix(τ)＝∫I1(t-τ)I2(t)dt＝∫I(t-τ)1I12(t)dt   (1)式中，τ为时间延迟，Ix(τ)为互相关信号，I1(t)为反射脉冲，I2(t)为透射脉冲。在小信号转换条件下，互相关信号中的前沿与被测脉冲的前沿在时间位置和强度上具有一一对应的关系，从而可以根据互相关信号的宽度Δtx以及关系式Δtx＝1.225Δt，得到被测脉冲的脉冲宽度Δt和时间波形。②在垂直于时间轴的方向上为光谱轴，将互相关信号的前沿和后沿按照光谱成分的不同进行分离，并换算为被测脉冲的光谱宽度。由于互相关信号的前沿和后沿具有不同的光谱成分，因而经过衍射元件之后具有不同的衍射角，从而在光电探测器(14)的光谱轴上能够得到互相关信号的光谱宽度Δλx，然后根据关系式Δλx＝Δλ/15.6，得到被测脉冲的脉冲宽度Δλ。③基于脉冲宽度和光谱宽度的比值计算得到啁啾率(R＝Δt/Δλ)。上述步骤的要点是：1)通过二倍频晶体将透射脉冲变换为二倍频脉冲，在互相关晶体上产生互相关过程，因此被测脉冲的前沿和后沿，在互相关信号中表现为不同的形状，能够实现时间波形的分辨；2)基于超短脉冲的光谱宽度常见范围，选择衍射元件的工作参数，比如光栅常数d和光栅与光电探测器的间距L，使得互相关信号的前沿和后沿在色散分离后不超出光电探测器的测量范围。与现有技术相比，本专利技术的技术效果如下：不仅能够实现超短脉冲的时间波形和脉冲宽度的分析和测量，同时还能够实现啁啾率的直接测量，实现超短脉冲啁啾率的线性程度的快速分析和判断，评估脉冲宽度进一步压缩的可行性。这将非常方便地满足物理实验对于时间波形的测量需求，以及超短脉冲激光系统对啁啾率的测量需求。附图说明图1是本专利技术实施例1的结构简图，用于实现超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量功能；图2是本专利技术实施例2的结构简图，演示了超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量结果。具体实施方式下面结合实施例和附图对本专利技术作进一步说明，但不应以此限本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，其特征在于，包括第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)、分光镜(3)、第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)、互相关晶体(7)、二倍频晶体(8)、第四反射镜(9)、第五反射镜(11)、衍射元件(12)、光电探测器(14)和计算机(15)；上述各部件的位置关系如下：沿被测超短脉冲方向依次是所述的第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)和分光镜(3)，该分光镜(3)将所述的被测超短脉冲分为反射脉冲和透射脉冲，在所述的反射脉冲方向依次是所述的第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)和互相关晶体(7)，在所述的透射脉冲方向依次是所述的二倍频晶体(8)、第四反射镜(9)和互相关晶体(7)，在所述的互相关晶体(7)产生的互相关信号(10)方向依次是所述的第五反射镜(11)、衍射元件(12)和光电探测器(14)，该光电探测器(14)的输出端与所述的计算机(15)的输入端相连。

【技术特征摘要】
1.一种超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，其特征在于，包括第一耦
合镜(1)、第二耦合镜(2)、分光镜(3)、第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第
三反射镜(6)、互相关晶体(7)、二倍频晶体(8)、第四反射镜(9)、第五反射镜
(11)、衍射元件(12)、光电探测器(14)和计算机(15)；
上述各部件的位置关系如下：
沿被测超短脉冲方向依次是所述的第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)和分光
镜(3)，该分光镜(3)将所述的被测超短脉冲分为反射脉冲和透射脉冲，在所述
的反射脉冲方向依次是所述的第一反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)
和互相关晶体(7)，在所述的透射脉冲方向依次是所述的二倍频晶体(8)、第四反
射镜(9)和互相关晶体(7)，在所述的互相关晶体(7)产生的互相关信号(10)
方向依次是所述的第五反射镜(11)、衍射元件(12)和光电探测器(14)，该光电
探测器(14)的输出端与所述的计算机(15)的输入端相连。
2.根据权利要求1所述的超短脉冲的时间波形和啁啾率的测量装置，其特征
在于，所述的互相关晶体(7)为非线性晶体，包括BBO、LBO、KDP或YC...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳小平，朱宝强，朱健强，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31