马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具制造技术

技术编号:11562953 阅读:107 留言:0更新日期:2015-06-05 03:08
本实用新型专利技术公开了一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位,第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔,所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边,由于该泛用测试治具同时具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔,使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用,满足两种机台的工作定位需求,无需旋转套用同一排定位孔,提高了工作效率和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于印刷电路板制造用设备领域,具体涉及一种能够通用于马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台的泛用测试治具。
技术介绍
现有技术中,全新方位四倍密机台与玛尼亚测试机台所用的治具除定位孔以外,其他结构都是一样的,因此,一般共享泛用测试治具,但是目前泛用测试治具只有一排定位孔,而且该排定位孔是适用于马尼亚测试机台的,全新方位四倍密机台在使用泛用测试治具时需旋转后从左边套用原玛尼亚机台的定位孔,但是全新方位四倍密机台上的定位孔和马尼亚机台的定位孔还是有些不同的,如此,全新方位四倍密机台在架设治具时从机台侧面定位不稳定且不容易定位。
技术实现思路
为了解决上述问题,本技术提供了一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,该马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔,使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用,满足两种机台的工作定位需求,无需旋转套用同一排定位孔,提高了工作效率和稳定性,且结构简单、易于实施。本技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位,第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔,所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。本技术的有益效果是:本技术的泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位,第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔,并且马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边,由于该泛用测试治具同时具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔,使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用,满足两种机台的工作定位需求,无需旋转套用同一排定位孔,提高了工作效率和稳定性。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。【具体实施方式】以下通过特定的具体实例说明本技术的【具体实施方式】,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本技术的优点及功效。本技术也可以其它不同的方式予以实施,即,在不悖离本技术所揭示的范畴下,能予不同的修饰与改变。实施例:一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位1,第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔2,所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。【主权项】1.一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,其特征在于:所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位(I),第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔(2),所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。【专利摘要】本技术公开了一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位,第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔,所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边,由于该泛用测试治具同时具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔,使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用,满足两种机台的工作定位需求,无需旋转套用同一排定位孔,提高了工作效率和稳定性。【IPC分类】G01R1-02, G01R31-28【公开号】CN204374374【申请号】CN201420832571【专利技术人】李泽清 【申请人】竞陆电子(昆山)有限公司【公开日】2015年6月3日【申请日】2014年12月24日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具,其特征在于:所述泛用测试治具为方形板状,所述泛用测试治具设有两排定位孔,第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位(1),第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔(2),所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李泽清
申请(专利权)人:竞陆电子昆山有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1