本实用新型专利技术提供一种基板母板检测装置，包括固定架和光源，所述固定架包括架设于空间的地面上的固定架本体和固定于所述固定架本体四周的固定夹，基板母板放置于所述固定架上并通过所述固定夹固定于所述固定架上，所述光源为所述基板母板检测装置提供照明，所述基板母板检测装置还包括标尺结构，所述标尺结构包括两对标尺支架和两个互相垂直的标尺本体，所述标尺支架架设于所述固定架本体的四周，所述标尺本体可滑动地连接于所述标尺支架上且可沿所述标尺支架滑动至基板母板的Mura处，准确测量Mura的具体位置。上述基板母板检测装置结构简单，能够更准确测量基板母板的Mura的位置。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及液晶显示面板制造
，尤其涉及一种基板母板检测装置。
技术介绍
随着电子产品朝着轻、薄、小型化快速发展，各种携带式电子产品几乎都以液晶显示面板(Liquid Crystal Display，IXD)作为显示终端，特别是在摄录放影机、笔记本电脑、台式电脑、智能电视、移动终端或个人数字处理器等产品上，液晶显示面板已成为电子产品重要的组成部件。薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示面板作为液晶显示面板的一种，由于其具有功耗低、形薄、质轻、辐射小等优点，已经成为最广泛使用的液晶显示面板。薄膜晶体管液晶显示面板的制造过程，通常包括Array制程(阵列制程)、Cell制程(面板制程)、Module制程(模组制程)等三个复杂的过程，其中阵列制程还包括薄膜、黄光、蚀亥IJ、剥膜等多个繁琐的工序。为了确保阵列制程中基板母板的加工品质，需在阵列制程的每一个工序完成后进行样品抽检，抽检的基板母板可能存在肉眼可观察到的缺陷(俗称Mura或姆拉)，需通过确定Mura的具体位置，而对阵列制程的相应工序进行相应调整以便克服Mura的出现，进而确保整个阵列制程中的基板母板的产品品质。目前，液晶显示面板生产行业通常采用基板母板检测装置来对阵列制程中的基板母板进行抽样检测。图1是现有的基板母板检测装置的结构示意图，参见图1所示，基板母板检测装置40包括固定架41和光源42，固定架41包括中空的支架本体412以及设置于支架本体412四周的固定夹414，基板母板50放置于支架本体412上，并通过四周的固定夹414将基板母板50固定于支架本体412上，光源42 —般固定于支架本体412的上方悬空位置和/或前方悬空位置，通过光源42照射于基板母板50上而确定基板母板50上Mura的具体位置。然而，现有的基板母板检测装置一般无标尺或者仅有固定于固定架41四周上的不可动标尺43。无标尺的基板母板检测装置检测基板母板50上的Mura时，需通过手持直尺或卷尺等测量工具进行测量以确定Mura的具体位置，手持测量工具测量会出现较大的测量误差，同时还可能因操作不当而触碰基板母板50，而在基板母板50上留下手指印迹或者刮伤基板母板50 ;设置有不可动标尺43的基板母板检测装置40，虽能避免上述测量过程对基板母板50的触碰损伤，但是其仅能比较准确的测量靠近基板母板50边缘(靠近标尺43)的Mura，而相对标尺43比较远的Mura就很难准确的测量。
技术实现思路
鉴于上述状况，有必要提供一种结构简单、能够更准确测量基板母板上Mura的基板母板检测装置，以解决现有技术中的不足。本技术提供一种基板母板检测装置，包括固定架和光源，所述固定架包括架设于空间的地面上的固定架本体和固定于所述固定架本体四周的固定夹，基板母板放置于所述固定架上并通过所述固定夹固定于所述固定架上，所述光源为所述基板母板检测装置提供照明，所述基板母板检测装置还包括标尺结构，所述标尺结构包括两对标尺支架和两个互相垂直的标尺本体，所述标尺支架架设于所述固定架本体的四周，所述标尺本体可滑动地连接于所述标尺支架上且可沿所述标尺支架滑动至基板母板的Mura位置。优选地，所述标尺支架可升降。优选地，所述标尺支架包括管体和支架本体，所述管体的两端分别通过所述支架本体架设于所述固定架本体四周且平行于所述固定架本体。优选地，所述支架本体可升降，所述支架本体可带动与之连接的所述管体进行升降。优选地，所述标尺本体的两端设置有圆环，所述标尺本体通过所述圆环分别套设于平行的所述管体上且可沿所述管体方向滑动。优选地，所述支架本体为多段式升降结构。优选地，所述光源包括固定光源以及可移动光源，所述固定光源设置于所述固定架的上方悬空位置和/或前方悬空位置，所述可移动光源可移动至所述固定架的不同位置。优选地，所述固定架还包括支架，所述固定架本体通过所述支架架设于地面上方。优选地，所述支架的下端固定于地面上，所述支架的上端与所述固定架本体的侧壁铰接连接且铰接于O点。优选地，所述固定架本体为平面矩形框架结构，所述固定架本体上还设置有加强肋。如上所述，本技术实施例的技术方案带来的有益效果是:本技术的基板母板检测装置，由于包括标尺结构，标尺结构可滑动至基板母板的Mura处，能够更准确测量Mura的位置。【附图说明】图1是现有的基板母板检测装置的结构不意图。图2是本技术的基板母板检测装置的结构示意图。图3是本技术的标尺支架的结构示意图。【具体实施方式】为更进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对本技术的【具体实施方式】、结构、特征及其功效，详细说明如后。图2是本技术的基板母板检测装置的结构示意图，图3是本技术的标尺支架的结构示意图，其中，图2中除了基板母板检测装置10之外还包括基板母板20、以及空间30。具体的请参见图2、图3所示，本技术实施例的基板母板检测装置10，包括固定架12、光源14、以及标尺结构16。固定架12设置于一定洁净度的空间30内，固定架12架设于该空间30的地面32上方，该一定洁净度可以是千级洁净度、万级洁净度、十万级洁净度，但不限于此，具体的根据实际需要而定。固定架12包括固定架本体122、支架124、以及固定夹126。固定架本体122为中空的平面矩形框架结构，固定架本体122包括四个共面首尾依次连接的梁123，该四个梁123两两互相平行且相邻的梁123互相垂直，梁123间设置有横向和纵向的加强肋125，加强肋125的两端分别固定于相对的两个梁123上，加强肋125可增强固定架本体122的支撑强度。固定架本体122通过支架124架设于该空间30的地面32上方，支架124的下端固定于空间30的地面32上，支架124的上端与固定架本体122的侧壁铰接连接且铰接于O点，固定架本体122的轴向与O点重合，固定架本体122可绕O点轴向转动而改变固定架本体122的方向以便于操作人员检查固定于固定架本体122上的基板母板20。在本实施例中，支架124为分体式且分别对称的设置于固定架本体122的左右两侧，在其他实施例中，支架124为一体式，即两个分体式的支架124于铰接点(O点)的下方某处连接于一体而成一体式支架。固定架本体122的梁123上分别对称地设置有多个固定夹126，多个固定夹126可将放置于固定架本体122上的基板母板20固定于固定架本体122上，进而基板母板20可随固定架本体122绕O点轴向转动。在本实施例中，固定架本体122绕O点的轴向转动可通过控制器(图未示)来进行控制，且控制器还可进一步控制固定架本体122限位于某一转动位置，在其他实施例中，固定架本体122绕O点的轴向转动也可通过手动控制，当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基板母板检测装置(10)，其特征在于：所述基板母板检测装置包括：固定架(12)和光源(14)；其中，所述固定架(12)包括架设于空间(30)的地面(32)上的固定架本体(122)和固定于所述固定架本体(122)四周的固定夹(126)，基板母板(20)放置于所述固定架(12)上并通过所述固定夹(126)固定于所述固定架上；所述光源(14)为所述基板母板检测装置(10)提供照明；所述基板母板检测装置(10)还包括标尺结构(16)；其中，所述标尺结构(16)包括两对标尺支架(162)和两个互相垂直的标尺本体(166)，所述标尺支架(162)架设于所述固定架本体(122)的四周，所述标尺本体(166)可滑动地连接于所述标尺支架(162)上且可沿所述标尺支架(162)滑动至基板母板(20)的Mura位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨志伟，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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