功能测试FCT测试工装和测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种功能测试FCT测试工装和测试系统，该FCT测试工装包括探针工装，探针工装包括：针板和多个探针；多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；探针工装能够相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。该测试工装使用探针工装来进行FCT测试，避免了频繁接插件，从而提高了测试的效率，并且具有很好的稳定性。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及功能测试FCT领域，具体涉及功能测试FCT测试工装和测试系统。
技术介绍
功能测试FCT(Funct1nal Circuit Test)指的是对测试目标板(UUT:Unit UnderTest)提供模拟的运行环境，使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。一般专指对实装电路板PCBA (Printed Circuit Board Assembly)的功能测试。图5是现有FCT测试方式示意图，在图5中，51为引线、52为表笔、53为接插件、54为待测电路板，现有技术的测试系统使用手动接线测试的方式，将接插头和焊点连接到测试仪器上测试，这种测试方式测量功能偏弱，通用性较差、测试效率低下。
技术实现思路
本技术提供了一种功能测试FCT测试工装和测试系统，以解决现有技术中的测试方法需要频繁接插件，测试效率低的问题。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的:根据本技术的一个方面，提供了一种功能测试FCT测试工装，用于对待测电路板进行功能测试，该测试工装包括:探针工装；探本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种功能测试FCT测试工装，用于对待测电路板进行功能测试，其特征在于，该测试工装包括：探针工装；所述探针工装包括：针板和多个探针；所述多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；所述探针工装能够相对于所述待测电路板上下运动，所述探针工装向下运动时，所述多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文涛，
申请(专利权)人：歌尔声学股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37