立体靶标及对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法技术

本发明专利技术公开了一种立体靶标，所述立体靶标为一立体方环形状，所述立体方环的每个边上各有38个均匀锯齿形状凹槽，立体方环每个侧边的中心位置设置有一个缺齿；所述锯齿形状凹槽的横截面为等腰三角形；以及一种利用立体靶标实现的对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法，该方法包括以下步骤：设计符合视场范围的靶标以及选定对应的二维精密平移台。然后搭建四套线结构传感器轮廓测量系统，结合二维精密平移台在不同的位置同时拍摄靶标上的光条图像。根据提出的校准方法，对采集的图像进行处理计算，按下列过程顺序完成：特征点提取，摄像机标定，坐标系统一，即可完成整个系统的校准。

【技术实现步骤摘要】
利用立体靶标对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法
本专利技术涉及一种结构光三维视觉检测技术，特别是涉及一种线结构光轮廓传感器全局统一校准方法。
技术介绍
结构光三维视觉测量技术，具有视觉测量的非接触、速度快、自动化程度高，柔性好等优点。结构光三维视觉基于光学三角法原理，通过计算采集图像的各种光模式特征点的偏移信息反算出被测物体的表面轮廓。光学投射器投射确定的光模式，使得结构光图像信息易于提取，因而测量精度较高，广泛应用于各种工业产品的在线检测。典型的线结构光视觉传感器，由一个线结构光激光器和配套的相机组成。通过激光器垂直入射被测物表面，相机以倾斜拍摄的方式，获取激光平面与被测物表面相交激光光条图像。通过视觉测量模型，将激光光条中心的图像坐标转换为被测物表面轮廓的二维坐标。当被测物运动或线结构光传感器做相对运动时，就能得到被测物表面的三维形貌。但是单套视觉传感器视场有限，往往只能获取被测物表面某一局部的轮廓信息，无法对被测物360°范围进行全方位测量。在实际应用中，为了实现对被测物表面轮廓360°范围的全方位测量，以及解决复杂截面轮廓被测物的表面测量，往往在测量系统中引入多套视觉传感器多方位、多角度的拍摄被测物表面信息，最后通过图像拼接的方式，形成被测物在测量某一瞬间的完整截面轮廓。当扫描测量时，能够获取被测物360°范围整体形貌信息。但多套传感器同时测量的方式引入了标定的复杂性及多测量坐标系全局统一问题。单套视觉传感器标定及测量坐标系全局统一，需要对分布在各套传感器相机视场中的特征点以及不同相机视场中特征点之间相互转换关系。这些特征点可以通过建立三维立体靶标的方式实现和获得。但三维立体靶标加工困难，成本高，精度也难保证，如果采用Zhang摄像机标定，还需要同时对光平面方程进行标定。标定过程较为复杂，精度难以达到预期效果。绝大多数情况下，采用四套视觉传感器即可完成对复杂截面轮廓360°范围内测量。
技术实现思路
为了克服上述现有技术，本专利技术提出了一种利用立体靶标对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法，设计了一种立体的锯齿靶标，并根据靶标特性，将激光光平面与立体靶标齿顶的交点作为特征点，通过二维精密平移台，使得特征点分布于整个测量空间；以及实现了对线结构光轮廓传感器全局统一校准。本专利技术的一种利用立体靶标对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法，该方法包括以下步骤：步骤1、将四个激光器的光平面调整为共面，将立体靶标四个面上的锯齿各对应一个摄像机，其中：光条与锯齿的交线包含于摄像机的视场中，每一摄像机设置为正对立体靶标的每个缺齿；步骤2、选定符合视场范围的立体靶标以及对应的二维精密平移台，二维精密平移台驱动立体靶标平移，激光器发射的激光光条与锯齿齿顶相交的点形成特征点；所述特征点的提取算法包括自动阈值分割、光条中心提取、角点提取和角点亚像素提取；步骤3、对摄像机进行编号并设定测量坐标系，任选其中一个摄像机设定为0号摄像机，按照逆时针的顺序依次编号为1号、2号、3号；以激光器的光平面作为测量坐标系的OwiXwiYwi(i＝0,1,2,3)平面，以光平面与立体靶标每个面上缺齿的中心相交位置处作为测量坐标系的原点Owi(i＝0,1,2,3)，OwiXwi(i＝0,1,2,3)轴方向沿靶标锯齿分布，与正方形的边长平行，OwiZwi(i＝0,1,2,3)为激光光平面的法向量；步骤4、二维精密平移台的两个自由度分别沿0号、2号坐标系的Y轴和1号、3号坐标系的Y轴移动，每隔5mm，四个相机同时采集一幅光条图像，平移台从0移动到25mm，使得标定特征点布满整个测量空间；步骤5、利用靶标设计中特征点拓扑关系确定方法，对四个相机采集到的靶标光条图像进行处理，将得到特征点的(u,v)-(x,y,0)序列对，利用公式(2)、(3)，通过RAC两步法可以求解最优化的模型参数解；步骤6、设Rk0、Tk0为靶标第一个标定位置时第k(k＝1、2、3)靶标坐标系到坐标系Ow0-Xw0Yw0Zw0转换时的旋转矩阵和平移向量，由靶标面间几何关系可知:由此通过Rk0、Tk0(k＝1,2,3)可以计算得出被测物截面轮廓在在坐标系Ow0-Xw0Yw0Zw0下的坐标，到此完成了对整个系统的校准及测量坐标系的全局统一。与现有技术相比，本专利技术设计的立体靶标只需要保证相邻齿顶间和相邻齿根间距离的精度，极大的降低了靶标加工的难度。一般来说，通过线切割技术，可以实现0.01mm的加工精度。利用设计靶标，在完成单个轮廓传感器校准的同时，能够实现对四套轮廓传感器坐标系的全局统一，并能够应用于工业现场。附图说明图1为本专利技术的立体靶标结构立体示意图；图2为立体靶标的横向截面示意图；图3为靶标特征点范围；图4为靶标特征提取效果示意图：(a)、采集的靶标图像；(b)、特征点提取；；图5为线结构光轮廓传感器全局统一校准方法的架构示意图；图6为摄像机与靶标相对位置；图7为矩形平板轮廓测量实例示意图；8、待测矩形平板。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行详细说明，但本专利技术的实施范围并不局限于此。如图1所示，为本专利技术所设计的锯齿立体靶标模型示意图。如图2所示，为靶标横截面结构示意图。1、立体靶标本专利技术的立体靶标为一立体方环形状，靶标四个边的每个边上各有38个均匀锯齿形状凹槽，沿方形边长对称分布；同时在靶标加工时，正方形每个边上中心位置会有一个缺齿，其目的是为了确定虚拟原点，方便在四个坐标系统一时特征点拓扑关系的推演。立体靶标的横截面为一个160mm×160mm的正方环形，锯齿对应的截面形状为等腰直角三角形，其底边长为4mm，斜边上的高为2mm，使得每一个正方形边上的锯齿个数准确可控。正方形边长160mm，结合选择的二维精密平移台单自由度行程25mm，可以保证激光光条与锯齿齿顶相交形成的特征点于靶标横截面的分布如图3所示。因此可以保证对被测物截面轮廓包围于特征点分布区域的被测物截面尺寸进行精密测量。如图4所示，为本专利技术的特征点拓扑关系提取过程。为实现对采集的靶标图像4(a)的自动处理，根据靶标特征，设置如下的图像处理算法：包括自动阈值分割、光条中心提取、角点提取和角点亚像素提取。处理结果如图4(b)所示，光条4与锯齿顶端5相交的特征点已标出。完成了对靶标特征点的提取后便获取了特征点的图像像素坐标(u,v)，需要根据靶标设计参数确定每一个特征点的在靶标坐标系下的坐标(x,y)，即对靶标特征点进行拓扑定位。特征点在靶标坐标系下的y坐标，由二维精密平移台每次移动的距离确定。平移台由0开始，每隔5mm作为一个平移位置，直至移动到25mm。则在每个平移位置下，特征点y坐标为0mm，±5mm，±10mm，±15mm，±20mm，±25mm(正负号取决于平移台移动方向与坐标系y轴正向是否相同，相同为正，否则为负)。特征点在靶标坐标系下x坐标的确定。首先把特征点按照其图像坐标u值从小到大进行排序，然后判断排序后相邻两个特征点u值相减的大小(用“后面”特征点的u值减“前面”特征点的u值，这样能保证得到的结果非负)，其中u值相减结果最大的两个点即为距离虚拟原点最近的两个点(虚拟原点是靶标正方形每个边上“缺齿”的中心位置)。对这两个点u值做加权平均即可得到虚拟原点的u值，同时，这两个点u本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种立体靶标，其特征在于，所述立体靶标为一立体方环形状，所述立体方环的每个边上各有38个均匀锯齿形状凹槽，立体方环每个侧边的中心位置设置有一个缺齿；所述锯齿形状凹槽的横截面为等腰三角形。

【技术特征摘要】
1.一种利用立体靶标对线结构光轮廓传感器的全局统一校准方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤(1)、将四个激光器的光平面调整为共面，将立体靶标四个面上的锯齿各对应一个摄像机，其中：光条与锯齿的交线包含于摄像机的视场中，每一摄像机设置为正对立体靶标的每个缺齿；步骤(2)、选定符合视场范围的立体靶标以及对应的二维精密平移台，二维精密平移台驱动立体靶标平移，激光器发射的激光光条与锯齿齿顶相交的点形成特征点；所述特征点的提取算法包括自动阈值分割、光条中心提取、角点提取和角点亚像素提取；步骤(3)、对摄像机进行编号并设定测量坐标系，任选其中一个摄像机设定为0号摄像机，按照逆时针的顺序依次编号为1号、2号、3号；以激光器的光平面作为测量坐标系的OwiXwiYwi(i＝0,1,2,3)平面，以光平面与立体靶标每个面上缺齿的中心相交位置处作为测量坐标系的原点Owi(i＝0,1,2,3)，OwiXwi(i＝0,1,2,3)轴方向沿靶标锯齿分布，与正方形的边长平行，OwiZwi(i＝0,1,2,3)为激光光平面的法向量；步骤(4)、二维精密平移台的两个自由度分别沿0号、2号坐标系的Y轴和1号、3号坐标系的Y轴移动，每隔5mm，四个相机同时采集一幅光条图像，平移台从0移动到25mm，使得标定特征点布满整个测量空间；步骤(5)、利用靶标设计中特征点拓扑关系确定方法，对四个相机采集到的靶标光条图像进行处理，将得到特征点的(u,v)-(x,y,0)序列对，通过RAC两步法可以求解最优...

【专利技术属性】
技术研发人员：马旭，王鹏，孙长库，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津;12