存储器故障检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种存储器故障检测系统，应用于对双倍速率同步动态随机存储器DDR进行检测，该系统包括：印刷线路板PCB、检测插座Socket、开发测试板、检测模块，其中，PCB连接在开发测试板上，检测插座连接在PCB上，DDR设置在检测插座上，检测模块与开发测试板相连；检测模块用于对DDR进行检测。本发明专利技术通过采用检测插座可以将DDR焊接在该插座上，对DDR进行检测，从而可以不采用传统的直接焊接在检测板上的方式，能够打破cpu和DDR均采用BGA封装的限制，并且本发明专利技术通过检测插座可以提高检测硬件的利用率多次使用，大大降低了在对DDR进行检测时候的成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种存储器故障检测系统，其特征在于，应用于对双倍速率同步动态随机存储器DDR进行检测，所述系统包括：印刷线路板PCB、检测插座Socket、开发测试板、检测模块，其中，所述PCB连接在所述开发测试板上，所述检测插座连接在所述PCB上，所述DDR设置在所述检测插座上，所述检测模块与所述开发测试板相连；所述检测模块用于对所述DDR进行检测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：冯颖俏，杨辉，
申请(专利权)人：北京中星微电子有限公司，中星电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11