一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器制造技术

本发明专利技术属于硬盘检测技术领域，具体公开了一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元、及于MCU微控制单元连接MCU电源电路模块、温度测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块和硬盘与服务器通讯互连电路模块，其中MCU电源电路模块分别与稳定测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块进行供电。本发明专利技术一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，1、结构简单、抗震；2、通过温度测试模块、湿度测试模块对检测现场温度、湿度进行监控管理以符合磁电硬盘检测标准参数，同时通过远端温度测试模块监控上一步骤检测温度辅助控制检测现场温度，以达到所有检测项温度相同，进而提高检测精准度。同时本发明专利技术生产成本低、易推广。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：包括MCU微控制单元（1）、及于MCU微控制单元（1）连接MCU电源电路模块（2）、温度测试模块（4）、湿度测试模块（5）、远端温度测试模块（6）和硬盘与服务器通讯互连电路模块（7），其中MCU电源电路模块（2）分别与稳定测试模块（4）、湿度测试模块（5）、远端温度测试模块（6）进行供电；所述MCU微控制单元（1）接收本地温度测试模块（4）和湿度测试模块（5）参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块（7）连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元（1）接收远端温度测试模块（6）的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块（7）连接的上位机显示。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑勇，赵铭，
申请(专利权)人：苏州市欧康诺电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32