带状线谐振器夹具制造技术

本发明专利技术提供了一种带状线谐振器金属夹具，包括：夹具的上夹块和下夹块；其中，所述下夹块包括：用于将下夹块固定在工作台上的定位孔、用于布置介质基片的凹槽、固定上夹块的螺纹孔，防止上夹块和介质基片滑动的定位销。而且，所述上夹块包括：用于固定上夹块的定位孔、用于布置介质基片的凹槽、及销钉孔。

【技术实现步骤摘要】
带状线谐振器夹具
本专利技术涉及高频介质材料的介电性能测试领域，更具体地说，本专利技术涉及一种带状线谐振器夹具的设计与加工。
技术介绍
随着各类通信系统的高频化、网络数据系统的高速化，电子产品中高频介质材料的应用越来越广泛，对介电性能的GHz频率下的测试需求也不断增加。其中带状线测试方法以宽频带、操作简便等优势，成为目前较常用的测试方式。带状线是将一条宽度为W的薄导带放置在两块相距为b的宽导体接地平面之间的中部，两个接地平面之间的整个空间填充有介电参数为εr的电介质。带状线的几何结构见图1，带状传输线可以看成是由同轴线演变而来的。因此,带状线的场结构与同轴线的类似，参见图2，其中示出了带状线磁场和电场分布图，其中实线表示电力线，可以看出电力线由金属导带指向接地板；其中虚线表示磁力线，可以看出磁力线环绕导体带。由于带状线内导体的存在，使之可以传输无纵向分量的TEM波。因此截止波长为无穷大的TEM模是带状线的主模，是带状线工作的通常模式。与平行平板波导和同轴线相似，带状线也能支持高阶TM模和TE模，但这些模式在介电参数的测试过程中中通常是需要避免和削弱的(这些模式可以采用地平面之间的短路螺钉以及把两平面之间的间隔限制到小于λ/4来抑制)。由于带状线传输主模为TEM模，但若尺寸选择不当，或制作精度低等原因造成结构上的不均匀，则会产生高次TE模和TM模。在选择尺寸时，应尽量避免高次模的出现。带状线法介电性能测试方法指的是利用TEM模进行测试，并利用多模技术、模式识别技术和杂模抑制技术，进行宽频测试。该方法测试出的结果为电场垂直于测试样品的介电参数，其极化方向与高频印制板实际使用情况相符。带状线谐振器是通过对该谐振器的谐振频率和无载品质因数进行测试，结合高频基材的长度和厚度、导带宽度及厚度、导带和金属地板的金属电阻率，计算得到高频基材的介电参数。在带状线法介电性能测试方法中，需要将尺寸相同的两基片之间的中间位置夹持金属铜箔导带，然后再上下压上导电良好的金属板，形成两端开路的带状线，并在其传播方向上进行微波信号的耦合，形成耦合回路。由此，需要一种能够稳定这种结构的夹具。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷，提供一种用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具，其能够稳定地固定带状线谐振器。为了实现上述技术目的，根据本专利技术，提供了一种用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具，包括：相互配合的下夹块和上夹块；其中，所述下夹块部分包括：用于将下夹块部分固定在工作台上的多个定位孔、用于布置介质基片的凹槽、固定上夹块的螺纹孔，及定位销；而且其中，所述上夹块部分包括：用于固定上夹块的定位孔、用于布置介质基片的凹槽、防止上夹块和介质基片滑动的销钉孔。优选地，第一排销钉孔和第二排销钉孔分别插入第一排定位销和第二排定位销。优选地，第一排螺纹孔与第一排定位孔对齐以便能够向第一排螺纹孔和第一排定位孔贯穿地插入螺钉，第二排螺纹孔与第二排定位孔对齐以便能够向第二排螺纹孔和第二排定位孔贯穿地插入螺钉。优选地，基片布置下侧凹槽与基片布置上侧凹槽对齐以形成用于安装作为带状线谐振器测试样品的介质基片的空间。优选地，第一排螺纹孔和第二排螺纹孔对称排布。优选地，第一排定位孔和第二排定位孔对称排布。优选地，所述带状线谐振器夹具采用不锈钢材料制成。本专利技术的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具能够有效地固定上下两个或更多个介质基片，并保证其紧密地重叠在一起；而且保证谐振器的两端良好接地；该结构适合于合理设计夹具尺寸以削弱高次干扰模的影响；而且保证给测试基片施加均匀且足够大的压力。此外，本专利技术的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具能够降低对作为带状线谐振器测试样品的介质基片的制作要求。附图说明结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本专利技术有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：图1示意性地示出了带状线几何结构。图2示意性地示出了带状线磁场和电场分布图。图3示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的下夹块部分的俯视图。图4示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的下夹块部分的截面图。图5示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的上夹块部分的俯视图。图6示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的上夹块部分的截面图。需要说明的是，附图用于说明本专利技术，而非限制本专利技术。注意，表示结构的附图可能并非按比例绘制。并且，附图中，相同或者类似的元件标有相同或者类似的标号。具体实施方式为了使本专利技术的内容更加清楚和易懂，下面结合具体实施例和附图对本专利技术的内容进行详细描述。在根据本专利技术的优选实施例中，带状线谐振器夹具包括相互配合的下夹块部分和上夹块部分。具体地，图3示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的下夹块部分的俯视图，图4示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的下夹块部分的截面图。如图3和图4所示，根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的下夹块部分包括：用于将下夹块部分固定在工作台上的多个定位孔11(图中示出了两个定位孔的情况)、基片布置下侧凹槽14、分别布置在基片布置下侧凹槽14两侧的第一排螺纹孔12和第二排螺纹孔16(第一排螺纹孔12和第二排螺纹孔16优选地对称排布，其主要作用为加压，以保证两片介质基片紧密地重叠在一起)、以及分别布置在基片布置下侧凹槽14两侧的第一排定位销13和第二排定位销15(第一排定位销13和第二排定位销15优选地对称排布，其作用为定位介质基片，以保证介质基片的侧面对位准确，不易在夹持过程中滑动)。具体地，图5示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的上夹块部分的俯视图，图6示意性地示出了根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的上夹块部分的截面图。如图5和图6所示，根据本专利技术优选实施例的用于带状线法介电性能测试的带状线谐振器夹具的上夹块部分包括：基片布置上侧凹槽23、分别布置在基片布置上侧凹槽23两侧的第一排定位孔21和第二排定位孔25(第一排定位孔21和第二排定位孔25配合下夹具部分的螺纹孔实现加压)、以及分别布置在基片布置上侧凹槽23两侧的第一排销钉孔22和第二排销钉孔24(第一排销钉孔22和第二排销钉孔24配合下夹块的定位销保证基片的良好对位)。其中，在装配使用时，第一排定位销13和第二排定位销15分别插入第一排销钉孔22和第二排销钉孔24；第一排螺纹孔12与第一排定位孔21对齐以便能够向第一排螺纹孔12和第一排定位孔21贯穿地插入螺钉，第二排螺纹孔16与第二排定位孔25对齐以便能够向第二排螺纹孔16和第二排定位孔25贯穿地插入螺钉。而且，在装配使用时，基片布置下侧凹槽14与基片布置上侧凹槽23对齐以形成用于安装作为带状线谐振器测试样品的介质基片的空间(例如，在该空间中夹持金属铜箔导带的两个基片)。在本专利技术中，所需的高频材料带状线谐振器测试样品的制备方法可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于材料介电性能测试的带状线谐振器夹具，其特征在于包括：相互配合的夹具下夹块和上夹块；其中，所述下夹块包括：用于将下夹块固定在工作台上的定位孔、用于布置介质基片的凹槽、固定上夹块的螺纹孔，及定位销；而且其中，所述上夹块包括：用于固定上夹块的定位孔、夹持介质基片的凹槽、防止上夹块和介质基片滑动的销钉孔。

【技术特征摘要】
1.一种用于材料介电性能测试的带状线谐振器夹具，其特征在于包括：相互配合的夹具下夹块和上夹块；其中，所述下夹块包括：用于将下夹块固定在工作台上的定位孔、用于布置介质基片的凹槽、固定上夹块的螺纹孔，及定位销，其中螺纹孔包括分别布置在用于布置介质基片的凹槽两侧的对称排布的第一排螺纹孔和第二排螺纹孔，定位销包括分别布置在用于布置介质基片的凹槽两侧的对称排布的第一排定位销和第二排定位销；而且其中，所述上夹块包括：用于固定上夹块的定位孔、夹持介质基片的凹槽、防止上夹块和介质基片滑动的销钉孔，其中定位孔包括分别布置在所述夹持介质基片的凹槽两侧的第一排定位孔和第二排定位孔，销钉孔包括分别布置在所述夹持介质基片的凹槽两侧的第一排销钉孔和第二排销钉孔；在装配使用时，第一排定位销和第二排定位销分...

【专利技术属性】
技术研发人员：张永华，陈文录，贾燕，刘国平，石小传，邬宁彪，李小明，刘国立，
申请(专利权)人：无锡江南计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32