主板检测装置制造方法及图纸

技术编号:11342755 阅读:77 留言:0更新日期:2015-04-23 20:13
本实用新型专利技术提供一种主板检测装置,包括底盒、显示屏、电源模块以及安装在底盒底部的测试底板与控制板,控制板与显示屏、电源模块以及测试底板均电连接;测试底板,其用于采集待测主板的电压信号或电流信号,并将采集的电压信号或电流信号发送至控制板;控制板,其用于向测试底板发送激励信号,使测试底板导通后,将待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,并将相应参数与预先设置的标准参数进行比较,同时将比较结果发送至显示屏;显示屏,其用于显示控制板所发送的比较结果;电源模块,其用于向测试底板、控制板、显示屏提供电源。本实用新型专利技术在待测主板出现故障时,可以通过本装置迅速定位出电子设备的故障。

【技术实现步骤摘要】
主板检测装置
本技术属于电子设备检测
,特别是涉及一种主板检测装置。
技术介绍
随着社会的不断发展和技术不断提高,越来越多的电子电路广泛用于电子设备,一旦电子设备损坏,对于非专业的维修人员将无法对其设备进行维修,而且专业维修价格比较昂贵,其原因在于:维修人员、技术人员因为知识与经验的积累不同,当面对复杂的电路时,不知从何处下手,而在学校老师教的知识也比较单一,学生理解能力弱,知识掌握不够深切,导致学生到社会上工作理论运用到实践出现问题。 然而,现有电子教学套件或工作中缺乏一套主板检测装置,既能快速定位出电子设备中电子电路的故障,同时,也能辅助学生将学习到电子电路原理应用到实践,便于学生有针对性进行维修。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点,本技术的目的在于提供一种主板检测装置,用于解决现有技术中因为非专业技术人员或技术人员知识与经验积累不够,以及在教学当中学生电子电路学得不扎实,导致电子教学套件出现故障时,他们无法快速而准确定位出电子设备的故障问题。 为实现上述目的及其他相关目的,本技术提供一种主板检测装置,包括底盒、显示屏、电源模块以及安装在所述底盒底部的测试底板与控制板,所述控制板与所述显示屏、电源模块以及测试底板均电连接; 所述测试底板,其用于采集所述待测主板的电压信号或电流信号,并将采集的电压信号或电流信号发送至所述控制板; 所述控制板,其用于向所述测试底板发送激励信号,使测试底板导通后,将所述待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,并将相应参数与预先设置的标准参数进行比较,同时将比较结果发送至所述显示屏; 所述显示屏,其用于显示所述所发送的比较结果; 电源模块,其用于向所述测试底板、控制板、显示屏提供电源。 优选地,所述测试底板包括若干个测试针与若干个继电器,每个所述测试针的输出端与一个所述继电器的常开端口相连,每个所述继电器的电源输入端外接电源模块,每个继电器的公共端端口并联在一起。 优选地,所述控制板包括驱动集成模块、控制模块与测试集成模块,所述控制模块分别与所述驱动集成模块和所述测试集成模块电连接; 所述驱动集成模块,其用于控制与其输出端对应相连的每个所述继电器工作处于常闭或常开状态; 所述测试集成模块,其用于将待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,发送至所述控制模块,并根据接收所述控制模块的警报指令响起警报; 所述控制模块,其用于根据接收所述待测主板的相应参数,判断所述待测主板故障的具体位置,并发送警报指令给测试集成模块。 优选地,所述驱动集成模块的输出端连接所述测试底板中的每个继电器的线圈输入端,所述驱动集成模块的输入端连接所述控制模块的信号输出端。 优选地,所述.测试集成模块包括第一稳压电路与第二稳压电路、继电器K8与芯片IC1,所述ICl芯片的管脚1、2之间连接有归零电容C12,所述ICl芯片的管脚3、4、5分别对应连接电容C13、电阻R3与R5,且在所述电阻R3与R5之间串联可变电阻R4,所述电阻R4的控制端连接与所述电阻R3与电容C13之间,所述ICl芯片的管脚6、7之间串联有参考电容C14,所述ICl芯片管脚11与15之间连接有交流转直流电压均值电路,所述ICl的管脚17与18之间连接有稳压输入电路,所述ICl芯片的管脚21至25分别对应连接电阻R18、R19、R20、R21与R23作为分压电路;所述ICl芯片的管脚31、29与27均为电压输入端口,所述ICl的管脚29串联电阻R22并连接所述继电器K8的常闭端,所述ICl芯片的管脚31连接继电器K8的常开端;所述继电器K8的线圈输入端连接三极管的集电极,所述三极管的发射级接地,所述三极管的基极串联电阻R24连接控制模块V+con端口,所述ICl芯片的管脚34、35分别对应串联电容C23、C21后接地,所述ICl芯片管脚37、38连接有参考电压回路;所述ICl芯片管脚41串联电阻Rl I与电阻R9,所述电阻R9与电阻Rl I之间连接有所述ICl芯片管脚42,所述电阻Rll与R9上并联有电容C18,所述电阻R9与所述电容C18相交处接地;所述ICl芯片管脚43与44之间连接有电容C15 ;所述ICl芯片管脚48与49之间连接有蜂鸣器电路,所述ICl芯片管脚48为蜂鸣器的使能端;所述ICl芯片的管脚52至55为连接控制模块的;所述ICl芯片的管脚57至64为电源电路端口,所述ICl芯片的管脚64为电压监视端口,所述电源电压经第一稳压电路向控制模块与ICl芯片的VC端输入电压;所述电源电压经第二稳压电路后向所述ICl芯片的管脚57、58、62、63输入稳定的5V电压。 优选地,所述控制模块的SCLK端口、STATUS端口、EOC端口、BUZIN端口依次对应所述ICl芯片SCLK端口、STATUS端口、EOC端口、BUZIN端口连接。 优选地,所述交流转直流电压均值电路包括电阻R7、R8、RlO、Rl2,可变电阻R6、电容C16、C17、C19、C20,以及二极管Dl与D2,所述电阻R7与可变电阻R6串联的一端连接ICl芯片第11管脚,所述电阻R7与可变电阻R6串联的另一端连接所述电容C19的一端,所述电阻R8与电容C16并联的一端连接ICl芯片第12管脚,所述电阻R8与电容C16并联的另一端连接所述电容C19的一端,所述电阻RlO与电容C17并联的一端连接ICl芯片第13管脚,所述电阻RlO与电容C17并联的另一端连接所述电容C19的一端,所述电阻R12与所述电容C19另一端串联后连接所述ICl芯片第15管脚,所述ICl芯片第14管脚连接所述电阻R12与所述电容C19之间;所述二极管Dl的负极连接于所述ICl芯片第12管脚,所述二极管Dl的正极连接于所述电容C20的一端,所述二极管D2的正极连接于所述ICl芯片第13管脚,所述二极管D2的负极连接于所述电容C20的一端,所述电容C20的另一端连接于所述Cl芯片第15管脚。 优选地,所述第一稳压电路包括稳压器U1、电容Cl与电容C2,电源电压的输出端与所述稳压器Ul的输入端相连,所述稳压器Ul的输出端与接地端之间分别并联电容Cl与C2 ;经过电容Cl与C2滤波后的VC电压分别输入控制模块与IC芯片的VC端口 ;所述第二稳压电路包括稳压器U2、电容C3、C4、C8、C1、Cll以及电阻Rl与R2,所述电阻R2与所述电容C8的并联的节点一端连接稳压器U2的接地端,所述电阻R2与所述电容C8的并联的节点另一端连接电阻Rl的一端,该节点另一端连接所述芯片ICl的第64管脚;电源电压的输出端分别连接所述稳压器U2的输入端与所述电阻Rl的另一端,所述稳压器U2的输出端与接地端分别并联电容C3、C4,所述电容ClO、Cl I并联后串联于ICl芯片的第57、58管脚。 优选地,所述稳压输入电路包括电阻R15、R16,热敏电阻R17、电容C24与二极管D3,所述电容C24与所述电阻R16并联的一端连接于所述ICl芯片的第17管脚,所述电容C24的另一端接地,所述电阻R16的另一端串联所述热敏电阻R17与电阻R15,所述电阻R15的另一端连接于所述ICl芯片的第18管脚,所述二本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主板检测装置,适于检测待测主板是否有故障,其特征在于,包括待测主板、底盒、显示屏、电源模块以及安装在所述底盒底部的测试底板与控制板,所述控制板与所述显示屏、电源模块以及测试底板均电连接;所述测试底板,适于采集所述待测主板的电压信号或电流信号,并将采集的电压信号或电流信号发送至所述控制板;所述控制板,适于向所述测试底板发送激励信号,使测试底板导通后,将所述待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,并将相应参数与预先设置的标准参数进行比较,同时将比较结果发送至所述显示屏;所述显示屏,适于显示所述控制板所发送的比较结果;电源模块,适于向所述测试底板、控制板、显示屏提供电源。

【技术特征摘要】
1.一种主板检测装置,适于检测待测主板是否有故障,其特征在于,包括待测主板、底盒、显示屏、电源模块以及安装在所述底盒底部的测试底板与控制板,所述控制板与所述显示屏、电源模块以及测试底板均电连接; 所述测试底板,适于采集所述待测主板的电压信号或电流信号,并将采集的电压信号或电流信号发送至所述控制板; 所述控制板,适于向所述测试底板发送激励信号,使测试底板导通后,将所述待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,并将相应参数与预先设置的标准参数进行比较,同时将比较结果发送至所述显示屏; 所述显示屏,适于显示所述控制板所发送的比较结果; 电源模块,适于向所述测试底板、控制板、显示屏提供电源。2.根据权利要求1所述的主板检测装置,其特征在于:所述测试底板包括多个测试针与多个继电器,每个所述测试针的输出端与一个所述继电器的常开端口相连,每个所述继电器的电源输入端外接电源模块,每个继电器的公共端端口并联在一起。3.根据权利要求1所述的主板检测装置,其特征在于:所述控制板包括驱动集成模块、控制模块与测试集成模块,所述控制模块分别与所述驱动集成模块和所述测试集成模块电连接; 所述驱动集成模块,其输出端一一对应连接所述继电器,输入端连接所述控制模块的激励信号输出端,所述驱动模块适于控制与其输出端对应相连的所述继电器常闭或常开;所述测试集成模块,其用于将待测主板反馈的电压信号或电流信号转化成相应参数,发送至所述控制模块,并根据接收所述控制模块的警报指令响起警报; 所述控制模块,其用于根据接收所述待测主板的相应参数,判断所述待测主板故障的具体位置,并发送警报指令给测试集成模块。4.根据权利要求3所述的主板检测装置,其特征在于:所述测试集成模块包括第一稳压电路与第二稳压电路、继电器K8与芯片IC1,所述ICl芯片的型号为ES51966 ;所述ICl芯片的管脚1、2之间连接有归零电容C12,所述ICl芯片的管脚3、4、5分别对应连接电容C13、电阻R3与R5,且在所述电阻R3与R5之间串联可变电阻R4,所述电阻R4的控制端连接于所述电阻R3与电容C13之间,所述ICl芯片的管脚6、管脚7之间串联有参考电容C14,所述ICl芯片管脚11与15之间连接有交流转直流电压均值电路,所述ICl的管脚17与18之间连接有稳压输入电路,所述ICl芯片的管脚21至25分别对应连接电阻R18、R19、R20、R21与R23作为分压电路;所述ICl芯片的管脚31、29与27均为电压输入端口,所述ICl的管脚29串联电阻R22并连接所述继电器K8的常闭端,所述ICl芯片的管脚31连接继电器K8的常开端;所述继电器K8的线圈输入端连接三极管的集电极,所述三极管的发射级接地,所述三极管的基极串联电阻R24连接控制模块V+con端口,所述ICl芯片的管脚34、35分别对应串联电容C23、C21后接地,所述ICl芯片管脚37、38连接有参考电压回路;所述ICl芯片管脚41串联电阻Rll与电阻R9,所述电阻R9与电阻Rll之间连接有所述ICl芯片管脚42,所述电阻Rll与R9上并联有电容C18,所述电阻R9与所述电容C18相交处接地;所述ICl芯片管脚43与44之间连接有电容C15 ;所述ICl芯片管脚48与49之间连接有蜂鸣器电路,所述ICl芯片管脚48为蜂鸣器的使能端;所述ICl芯片的管脚52至55为连接控制模块的;所述ICl芯片的管脚57至64...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘红蒲自国唐清
申请(专利权)人:重庆市云阳职业教育中心
类型:新型
国别省市:重庆;85

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