IC产品测试工装制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试工装，特别涉及一种专用于测试IC产品的测试工装。本实用新型专利技术包括底座、支架、承载板、针床和下压装置，支架固定在所述底座上，承载板安装在所述底座上，针床设置在承载板内，承载板的面板上开有数个探针孔，针床上设置有探针，探针与探针孔套接，承载板的面板上设置有定位槽，探针孔均在定位槽内，下压装置包括固定件、手柄、连接件、下压杆、压板支架和压板，手柄包括短杆和长杆，下压杆套装在固定件的下端，连接件的上端与手柄的折角处转动连接，连接件的下端与下压杆的上端转动连接，压板支架与所述下压杆的下端固定，压板固定在压板支架下。本实用新型专利技术结构设计合理，可以单独测试某块区域，设备投入小，成本低。

【技术实现步骤摘要】
IC产品测试工装
本技术涉及一种测试工装，特别涉及一种专用于测试IC产品的测试工装。
技术介绍
电路板在大批量生产时，不可能将每块电路板安装到整机上进行测试。因此实际生产中，需要制造一种测试工装来模拟整机。但是目前的IC产品测试工装只支持整块电板同时全部点亮，这样测试成本高，全部点亮对设备的要求高。测试过程中有时并不需要测试整块电路，只需要测试部分电路，整块测试就造成了浪费。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理，可以单独测试某块区域，设备投入小，成本低的IC产品测试工装。 本技术解决上述问题所采用的技术方案是:该IC产品测试工装，包括底座、支架、承载板、针床和下压装置，所述支架固定在所述底座上，所述承载板安装在所述底座上，所述针床设置在承载板内，所述承载板的面板上开有数个探针孔，所述针床上设置有探针，所述探针与探针孔套接，所述针床上还连接有数根电线，所述电线分别与探针电连接，所述电线的一端连接有插头，所述探针按区域分为若干个探针组，同一探针组所连接的电线组合连接在同一插头上，所述承载板的面板上设置有定位槽，所述探针孔均在定位槽内，所述支架上固定有固定块，所述下压装置包括固定件、手柄、连接件、下压杆、压板支架和压板，所述固定件固定在所述固定块上，所述手柄包括短杆和长杆，所述短杆的一端与长杆的一端连接，所述短杆与长杆垂直连接，该手柄的短杆的另一端与所述固定件的上端转动连接，所述下压杆套装在所述固定件的下端，所述连接件的上端与手柄的折角处转动连接，所述连接件的下端与下压杆的上端转动连接，所述压板支架与所述下压杆的下端固定，所述压板固定在压板支架下，所述压板与所述承载板相配合，该压板上开有通孔，所述压板的下面设置有一圈定位圈，所述定位圈设置在通孔的边缘处，所述定位圈与定位槽相配。可以单独点亮部分区域的二极管，测试部分电路，使得设备投入减少，成本下降。下压装置的结构合理，下压和抬起时只需要很小的力，且压板能稳固得压住承载板，减少了弹簧等容易老化、损坏的结构，实用寿命长。产品在承载板上的位置固定，方便定位。 本技术所述底座上水平固定有两根滑杆，所述滑杆套接在所述承载板的两侧，所述承载板上固定有拉环。该结构使产品装入承载板更方便。 本技术所述手柄上套有护手套，所述护手套上设置有三圈凹槽。使工作人员接触手柄时更舒适、称手。 本技术与现有技术相比，具有以下优点和效果:结构设计合理，可以单独测试某块区域，设备投入小，成本低。 【附图说明】 图1是本技术实施例的结构示意图。 图2是本技术实施例下压装置的结构示意图。 图3是本技术实施例承载板的结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合附图并通过实施例对本技术作进一步的详细说明，以下实施例是对本技术的解释而本技术并不局限于以下实施例。 实施例。 参见图1至图3，本实施例包括底座1、支架2、承载板3、针床4和下压装置5。支架2固定在底座I上，承载板3安装在底座I上，针床4设置在承载板3内。 本实施例承载板3的面板上开有数个探针孔6，针床4上设置有探针，探针与探针孔6套接。 本实施例针床4上还连接有数根电线7，电线7分别与探针电连接，电线7的一端连接有插头8，探针按模块区域分为若干个探针组，同一探针组所连接的电线7组合连接在同一插头8上。 本实施例探针和探针孔6的位置和数量可根据不同的测试产品而变化。 本实施例承载板3的面板上设置有定位槽9，探针孔6均在定位槽9所在的区域内，定位槽9的大小由产品的大小决定，产品正好可以放入定位槽9。 本实施例支架2上固定有固定块10，下压装置5包括固定件51、手柄52、连接件53、下压杆54、压板支架55和压板56，固定件51为弓形结构，固定件51固定在固定块10上，手柄52包括短杆521和长杆522，短杆521的一端与长杆522的一端连接，短杆521与长杆522垂直连接，手柄52的短杆521的另一端与固定件51的上端转动连接，下压杆54套装在固定件51的下端，连接件53的上端与手柄52的折角处转动连接，连接件53的下端与下压杆54的上端转动连接，压板支架55与下压杆54的下端固定，压板56固定在压板支架55下，压板56与承载板3相配合，压板56上开有通孔，压板56的下面设置有一圈定位圈561，定位圈561设置在通孔的边缘处，定位圈561与定位槽9相配。 本实施例底座I上水平固定有两根滑杆11，滑杆11套接在承载板3的两侧，承载板3上固定有拉环12。使用时，工作人员握住拉环12将承载板3拉出来，将产品放入定位槽9，再将承载板3推回压板56下方，该结构使产品装入承载板3更方便。 本实施例手柄52上套有护手套13，护手套13上设置有三圈凹槽14。三圈凹槽14为弧形，适合手指放入，使工作人员接触手柄52时更舒适、称手。 当不测试时，将手柄52向支架2处翻转，则压板56抬起，压板56与承载板3不碰触，不易磨损，且工装的高度不变高，方便存放。测试时，将手柄52向反方向翻转，压板56下压，定位圈561正好固定住产品边缘，通电后，可通过通孔观察二极管是否正常发光。 此外，需要说明的是，本说明书中所描述的具体实施例，其零、部件的形状、所取名称等可以不同，本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本技术结构所作的举例说明。凡依据本技术专利构思所述的构造、特征及原理所做的等效变化或者简单变化，均包括于本技术专利的保护范围内。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本技术的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种IC产品测试工装，包括底座、支架、承载板和针床，其特征在于：还包括下压装置，所述支架固定在所述底座上，所述承载板安装在所述底座上，所述针床设置在承载板内，所述承载板的面板上开有数个探针孔，所述针床上设置有探针，所述探针与探针孔套接，所述针床上还连接有数根电线，所述电线分别与探针电连接，所述电线的一端连接有插头，所述探针按区域分为若干个探针组，同一探针组所连接的电线组合连接在同一插头上，所述承载板的面板上设置有定位槽，所述探针孔均在定位槽内，所述支架上固定有固定块，所述下压装置包括固定件、手柄、连接件、下压杆、压板支架和压板，所述固定件固定在所述固定块上，所述手柄包括短杆和长杆，所述短杆的一端与长杆的一端连接，所述短杆与长杆垂直连接，该手柄的短杆的另一端与所述固定件的上端转动连接，所述下压杆套装在所述固定件的下端，所述连接件的上端与手柄的折角处转动连接，所述连接件的下端与下压杆的上端转动连接，所述压板支架与所述下压杆的下端固定，所述压板固定在压板支架下，所述压板与所述承载板相配合，该压板上开有通孔，所述压板的下面设置有一圈定位圈，所述定位圈设置在通孔的边缘处，所述定位圈与定位槽相配。

【技术特征摘要】
1.一种IC产品测试工装，包括底座、支架、承载板和针床，其特征在于:还包括下压装置，所述支架固定在所述底座上，所述承载板安装在所述底座上，所述针床设置在承载板内，所述承载板的面板上开有数个探针孔，所述针床上设置有探针，所述探针与探针孔套接，所述针床上还连接有数根电线，所述电线分别与探针电连接，所述电线的一端连接有插头，所述探针按区域分为若干个探针组，同一探针组所连接的电线组合连接在同一插头上，所述承载板的面板上设置有定位槽，所述探针孔均在定位槽内，所述支架上固定有固定块，所述下压装置包括固定件、手柄、连接件、下压杆、压板支架和压板，所述固定件固定在所述固定块上，所述手柄包括短杆和长杆，所述短杆的一端与长杆的一端连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：马怡平，
申请(专利权)人：杭州华扬电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33