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本实用新型涉及一种测试工装，特别涉及一种专用于测试IC产品的测试工装。本实用新型包括底座、支架、承载板、针床和下压装置，支架固定在所述底座上，承载板安装在所述底座上，针床设置在承载板内，承载板的面板上开有数个探针孔，针床上设置有探针，探针与...
该专利属于杭州华扬电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州华扬电子有限公司授权不得商用。

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