一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行IC、以及与列ITO图形连接的列ITO，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC；一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列IC。本发明专利技术不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行IC、以及与列ITO图形连接的列ITO，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC；一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列IC。本专利技术不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。【专利说明】
本专利技术涉及一种用于触控传感器的电容检测装置及其检测方法。
技术介绍
触控传感器(Touch Sensor) 一般都是指镀上ITO导电层的触控导电玻璃(ΙΤ0Glass)，或是触控导电薄膜(ΙΤ0 Film)。触控传感器(Touch Sensor)常见的材料包括玻璃以及塑料薄膜PET，触控技术中，包括电阻式以及电容式都是透过ITO Glass或是ITO Film等导电介质进行触控感应，其中触控导电玻璃(ΙΤ0 Glass)，或是触控导电薄膜(ΙΤ0 Film)都称为T1图形，因此被称为触控传感器(Touch Sensor)。 现有触控传感器(Touch Sensor)的检测是在全部制程结束后给IC通电，根据输出的波形判断缺陷的位置。 如图1所示，触控传感器(Touch Sensor)包括行ITO图形11、列T1图形12、与行ITO图形11连接的行IC 20、以及与列ITO图形12连接的列IC 30，通过对行IC 10和列IC 20通电，检测触控传感器中行ITO图形11和列ITO图形12的波形断缺陷的位置，但此方法不利于及早发现问题，而且当触控传感器的图案为单层ITO结构时，无法准确定位缺陷出现的具体位置。
技术实现思路
本专利技术提的目的检测整块触控传感器电容的均匀性的检测装置和检测方法。 本专利技术提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行1C、以及与列ITO图形连接的列ΙΤ0，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC ;一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列1C。 本专利技术又提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有单层ITO图形、以及与ITO图形连接的1C，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一电源的一端连接于ITO电极、电源的另一端连接于1C。 本专利技术又提供一种检测方法，包括如下步骤: 给ITO电极和行IC通电，检测行ITO图形各个区域电容值的变化，当行ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO图形的光学异常； 给ITO电极和列IC通电，检测列ITO图形各个区域电容值的变化，当列ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的列ITO图形的光学异常； 同时给行IC和列IC通电，当行IC和列IC给予不同的电压时，当行ITO图形和列ITO图形之间有异物，造成行ITO图形和列ITO图形串联时，导致缺陷处的一整行或列电压因串联发生变化，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO和列ITO图形的光学异常。 本专利技术又提供一种检测方法，包括如下步骤: 给ITO电极和IC通电，检测ITO图形各个区域电容值的变化，当ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的ITO图形的光学异常。 本专利技术不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。 【专利附图】【附图说明】 图1所示为现有触控传感器的结构示意图； 图2为本专利技术触控传感器的电容检测装置的结构示意图； 图3为本专利技术电容检测装置的行方向通电的结构示意图； 图4为本专利技术电容检测装置的列方向通电的结构示意图； 图5为本专利技术电容检测装置的行和列方向通电的结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本专利技术，应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围，在阅读了本专利技术之后，本领域技术人员对本专利技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。 液晶显示技术是一种电光转换技术，即根据加在液晶两侧的电场大小，改变液晶的排列状态，从而改变经过液晶层的光路方向，最终改变液晶显示装置的出光效果。液晶显示技术可以直接把不同大小的电信号转变成不同亮度的光信号，从而显示成图案。从液晶显示技术的电光特性反推，可以根据不同亮度的光信号，判断加在液晶两侧的电场大小。利用这个特点，可以用液晶显示装置测试触控传感器(Touch Sensor)的ITO图形缺陷的具体位置。 如图2所示为本专利技术触控传感器的电容检测装置的结构示意图，通过将一液晶显示面板I悬挂在触控传感器2的上方，液晶显示面板I上方设有影像机(CXD) 5，该影像机5连接器电脑6，该影像机5可以阅读液晶显示面板I上的数据信息。 其中，液晶显示面板I包括玻璃状的上基板11、位于上基板11底部的ITO电极12、下基板14、以及夹设在上基板11和下基板14之间的盘状液晶层13，其中下基板14为具有绝缘作用的下基板，下基板14对应触控传感器I的ITO图形21、22。 本专利技术检测装置通过施加第一电源31和第二电源32，其中第一电源31的一端与液晶显示面板I的ITO电极12连接，第一电源31的另一端与触控传感器I的行IC 23连接，第二电源32的一端也与液晶显示面板I的ITO电极12连接，第二电源32的另一端与触控传感器I的行IC 24连接，并在第一电源31与行IC 22之间设有第一开关41、第二电源32与列IC 24之间设有第二开关42。 液晶显示面板I作为本专利技术的ITO上电极，触控传感器2的ITO图形21、22作为下电极，通过在液晶显示面板的上基板11的ITO电极12和触控传感器I的ITO图形对应的IC上施加电压产生电场，使ITO图形21、22上方对应的液晶13的状态发生改变，根据液晶显示面板I的显示效果可以有效判断触控传感器I的ITO图形21、22是否存在异常以及整个电容屏电容值的均匀性。 本检测装置与现有的触控传感器相比，通过用液晶显示装置检测电路基板的电学特性，更加直观形象，且没有外加的机械力不会造成线路板的表面损伤。 在图2中，液晶显示面板I的下基板14作为绝缘层，会消弱加载到液晶上的电场强度。所以，下基板14必须做到微米级的厚度，这么薄的基板频繁接触到电路基板就容易被电路基板磨损，因此液晶显示面板需要与触控传感器保持一定的距离，该距离为Ium至3mm，这个距离的存在也会消弱加载到液晶上的电场强度。 图3所示为本电容检测装置的第一开关本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行IC、以及与列ITO图形连接的列ITO，其特征在于：本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC；一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列IC。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李淑君，洪孟锋，
申请(专利权)人：南京中电熊猫液晶显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32