一种双轴双探测偏振光电自准直仪制造技术

本实用新型专利技术涉及光学测量领域，尤其涉及一种准直仪，具体指一种双轴双探测偏振光电自准直仪，包括第一光源、第二光源、第一分划板、第二分划板、第一分光棱镜、第二分光棱镜、1/4波片和准直透镜；本实用新型专利技术采用偏振片，减少了光能损失；采用PSD探测器，分辨率高；采用双轴“一字”分划板，所探测到的“十字”投影光信号，是经过双轴的两套独立光源系统的光信号重叠而产生，相当于在一个自准直仪上实现了两次检测的功能；采用双轴探测仪结构，进一步提高了系统的分辨能力和反应能力，结构简单，测量精度更高，可广泛应用于日常生活、工业生产、航空航天、船舶和军工领域的准直测量中。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉光电探测领域，尤其是涉及自准仪领域。
技术介绍
自准直仪是利用光学自准直原理，实现小角度测量的精密测量仪器。由于其使用方便而且具有较高的检测精度，被广泛应用于航空航天、船舶、军工等精密度极高的行业，例如机械加工工业的质量保证（平直度、平面度、垂直度、平行度等）、计量检定行业中角度测试标准、棱镜角度定位及监控、光学元件的测试及安装精度控制等，其应用范围广阔。自准直仪经历了目视式、光电指零式和数显式三个发展阶段。提高分辨力和示值稳定性是通用数显自准直仪的发展方向。高分辨力是高准确度的保障与前提，高稳定性又是高分辨力的保障与前提。跳字量是静态数显自准直仪的特点和难点。动态测量每次采样只有一个数值输出，反应不出示值的跳动，其难点是动态响应速度和动态准确度，但通用仪器要读出每个位置的稳定读数值，跳字大就只能估读，影响示值的准确度，也影响分辨力。数显式自准直仪的出现使自准直仪的性能有质的飞跃，数显式把仪器准确度由1″级提高至0.1″级，最小显示值由0.1″级提高至0.01″级。数显式自准直仪准确度高，使用方便，操作简单，能实现自动测量。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双轴双探测偏振光电自准直仪，其特征是，包括第一光源、第二光源、第一分划板、第二分划板、第一分光棱镜、第二分光棱镜、1/4波片、准直透镜；所述第二分光棱镜为偏振分光棱镜；所述第一分划板和第二分划板均为“一字”型分划板；第一和第二分划板上的“一字”形刻线相互垂直摆放；当第一光源开启后，所发出的光线照亮第一分划板，经过所述第一分划板的光透过过第一分光棱镜后，进入第二分光棱镜，其后透过1/4波片，进入准直透镜后，投射到目标反射面上；目标反射面将光反射后回来后经过准直透镜的汇聚后，依次透过1/4波片、第二分光棱镜；并经过第二分光棱镜的反射后，入射到下位器件中；当第二光源开启后，所发出的光线照亮第二分...

【技术特征摘要】
1.一种双轴双探测偏振光电自准直仪，其特征是，包括第一光源、第二光源、第一分划板、第二分划板、第一分光棱镜、第二分光棱镜、1/4波片、准直透镜；
所述第二分光棱镜为偏振分光棱镜；
所述第一分划板和第二分划板均为“一字”型分划板；第一和第二分划板上的“一字”形刻线相互垂直摆放；
当第一光源开启后，所发出的光线照亮第一分划板，经过所述第一分划板的光透过过第一分光棱镜后，进入第二分光棱镜，其后透过1/4波片，进入准直透镜后，投射到目标反射面上；目标反射面将光反射后回来后经过准直透镜的汇聚后，依次透过1/4波片、第二分光棱镜；并经过第二分光棱镜的反射后，入射到下位器件中；
当第二光源开启后，所发出的光线照亮第二分划板，经过所述第二分划板的光经过第一分光棱镜的反射作用后，透过第二分光棱镜，经过1/4波片后，进入准直透镜，投射到目标反射面上；目标反射面将光反射后回来后经过准直透镜的汇聚后，透过1/4波片并经过第二分光棱镜的反射后，入射到下位器件中。
2.如权利要求1所述的一种双轴双探测偏振光电自准直仪，其特征是，包括第三分光棱镜、第一PSD探测器和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜世平，曹志明，张宜文，胡玲，
申请(专利权)人：四川云盾光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51