【技术实现步骤摘要】
一种验证c波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置
本技术涉及一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,属于微波功率器件检测
。
技术介绍
测试板是对C波段微波功率器件性能评价的一种测试手段。但是,在检测过程中,如果测试板本身性能偏差,会造成对微波功率器件性能评估的偏差,这样不仅无法体现出真实的微波功率器件性能,也很有可能使得本身很有发展前景的微波功率器件因为测试结果不良而被埋没掉,极大地阻碍了这一领域的发展。
技术实现思路
为解决现有技术的不足,本技术的目的在于提供一种可以准确的验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置。 为了实现上述目标,本技术采用如下的技术方案: 一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,包括散热底座、测试板和封装器件;所述测试板焊接在散热底座上;所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式,并采用螺丝钉固定接地;所述测试板上焊接有无源元器件;所述无源元器件包括输入射频接口、输出射频接口、耦合电容、电阻和滤波电容。 前述的一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,所述散热底座采用铜底座。 前述的一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,所述封装器件内设置有50欧姆微带线,其微带线采用介电常数为9.9的氧化铝陶瓷基板。 前述的一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,所述微带线采用共晶的方式焊接在封装器件上。 本技术所达到的有益效果:散热底座采用铜底座可以增强电特性和散热特性。测试板和散热底座采用焊接 ...
【技术保护点】
一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,包括散热底座、测试板和封装器件;所述测试板焊接在散热底座上;所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式,并采用螺丝钉固定接地;所述测试板上焊接有无源元器件;所述无源元器件包括输入射频接口、输出射频接口、耦合电容、电阻和滤波电容。
【技术特征摘要】
1.一种验证C波段GaN微波功率器件用测试板性能的装置,其特征是,包括散热底座、测试板和封装器件;所述测试板焊接在散热底座上;所述测试板的输入端和输出端均采用焊接方式,并采用螺丝钉固定接地;所述测试板上焊接有无源元器件;所述无源元器件包括输入射频接口、输出射频接口、耦合电容、电阻和滤波电容。2.根据权利要求1所述的一种验证C波段GaN微波功率器件...
【专利技术属性】
技术研发人员:沈美根,陈强,郑立荣,关晓龙,闫峰,李贺,
申请(专利权)人:江苏博普电子科技有限责任公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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