【技术实现步骤摘要】
气体颗粒物测量仪 所属
本专利技术涉及一种能够快速、自动测量气体中颗粒物含量的颗粒物测量仪，能够应用于需要进行气体中颗粒物含量测量的各种场合。
技术介绍
目前，现有气体中颗粒物测量仪器大致有三种，一种是利用滤膜过滤气体中颗粒物，然后根据过滤前后质量差和流经滤膜的气体体积得出气体中颗粒物含量，该方法精度较高，但是测量操作繁琐，自动化程度低；二是利用气体中颗粒物对光的散射进行测量，该方法自动化程度高，但是精度低；三是利用白色反光滤膜收集待测气体中的颗粒物，再通过测量白色反光滤膜的反射率的变化和流经滤膜的体积计算出颗粒物含量，该方法自动化程度高，精度较高，但是需要预先获得气体中颗粒物的反射特性，否则将出现较大误差。
技术实现思路
为了提高气体颗粒物测量精度和自动化程度，本专利技术提供一种气体中颗粒物测量装置，用反射率较高的反光滤膜和反射率较低的吸光滤膜过滤气体中的颗粒物，利用光源照射反光滤膜和吸光滤膜，反光滤膜的反射光强随着颗粒物的沉积增加而减小，吸光滤膜的反射光强随着颗粒物的沉积增加而增加，利用光电探测及数据处理装置分别测出反光滤膜和吸光滤膜的反射光强变化，从而计算出气体中颗粒物含量。采用该方法无需对滤膜称重，还可以采用带状滤膜和滤膜输送装置，间歇输送滤膜从而实现长时间多次自动化测量。并且，和散射法测量气体中颗粒物方法相比，具有较高的测量精度。由于该装置考虑了气体中颗粒物的对光的反射和吸收，因此不会受到颗粒物反射率的影响。 本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:采用带有通气孔的滤膜基座、反光滤膜、吸光滤膜、抽气泵及流量测量...
【技术保护点】
一种气体颗粒物浓度测量仪，由带有通气孔的滤膜基座、反光滤膜、吸光滤膜、抽气泵及流量测量装置、光源、光电探测及数据处理装置构成，其特征为：反光滤膜和吸光滤膜盖紧在滤膜基座的通气孔上，滤膜基座的通气孔和抽气泵及流量测量装置相连，光源发出的光能够照射到反光滤膜和吸光滤膜上，光电探测及数据处理装置能够探测反光滤膜和吸光滤膜反射的光强度值并进行数据处理。
【技术特征摘要】
1.一种气体颗粒物浓度测量仪，由带有通气孔的滤膜基座、反光滤膜、吸光滤膜、抽气泵及流量测量装置、光源、光电探测及数据处理装置构成，其特征为:反光滤膜和吸光滤膜盖紧在滤膜基座的通气孔上，滤膜基座的通气孔和抽气泵及流量测量装置相连，光源发出的光能够照射到反光滤膜和吸光滤膜上，光电探测及数据处理装置能够探测反光滤膜和吸光...
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