基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，涉及三维信息提取技术领域。解决了在纳米研究领域，对目标物体的位置及高度进行测量时，通常需要借助第三方设备，但由于存在尺寸效应，容易出现纳米操作困难、测量精度低的问题。基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法包括以下步骤：步骤一、采用OpenCV建立SEM二维图像的目标识别文件；步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM二维图像中的二维位置信息；步骤三、获得目标物体的高度。本发明专利技术对实时图像的处理速度极快，通过使用单幅二维图像，在不需要添加其他设备的情况下实现三维信息的提取。本发明专利技术适用于对三维信息进行提取。
【技术实现步骤摘要】
基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法
[0001 ] 本专利技术涉及三维信息提取
。
技术介绍
目前，在纳米研究领域，基于SEM的纳米操作通常借助第三方设备来测量目标物体的位置及高度。由于尺寸效应，第三方附加检测设备通常成本很高、极易损坏并且对纳米操作有一定的影响。
技术实现思路
本专利技术为了解决在纳米研究领域，对目标物体的位置及高度进行测量时，通常需要借助第三方设备，但由于存在尺寸效应，容易出现纳米操作困难、测量精度低的问题，提出了基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法。 基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法包括以下步骤: 步骤一、采用OpenCV建立SEM 二维图像的目标识别文件； 步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息； 步骤三、获得目标物体的高度。 步骤一中所述的采用OpenCV获得SEM图像的目标识别文件的方法为: 步骤一一、将SEM 二维图像分为目标选择图像和待测图像； 步骤一二、在目标选择图像中截取探针针尖和纳米线正样本； 步骤一三、采用Matlab使探针针尖和纳米线正样本归一化为大小相同的图像； 步骤一四、采用OpenCV的Haartraining分类器分别训练探针针尖和纳米线正样本，分别获得目标识别文件； 步骤一五、对待测图像进行目标识别，分析目标识别文件的准确率，多次训练目标识别文件； 步骤一六、检测目标识别文件的准确率是否达到预设值，当没有达到预设的准确率时，返回执行步骤一二，当达到预设的准确率时，完成SEM 二维图像的目标识别文件的建立。 步骤二中所述的使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息的过程为: 步骤二一、使用准确率高的目标识别文件快速识别原始SEM 二维图像的兴趣区域； 步骤二二、对识别的兴趣区域进行图像预处理操作； 步骤二三、采用Roberts边缘提取方法检测兴趣区域内的图像，获得兴趣区域中探针针尖和纳米线的边缘图像； 步骤二四、搜索图像最右侧白色像素； 步骤二五、判断是否搜索到图像最右侧白色像素，判断结果为是，则执行步骤二六，判断结果为否，则返回执行步骤二四； 步骤二六、判断纳米线边缘与探针针尖边缘是否接触； 步骤二七、根据步骤二六的判断结果对SEM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息进行提取。 步骤三所述的获得目标物体的高度的方法为: 步骤三一、在SEM 二维图像下通过纳米定位器对探针进行定位，分析不同高度下的SEM 二维图像模糊度； 步骤三二、建立探针高度与模糊度的关系模型，通过Matlab拟合获得图像模糊度与探针Z向高度的模型； 步骤三三、对兴趣区域进行分析，根据图像的直方图对像素值进行划分，获得中间区域像素值； 步骤三四、对中间区域的像素进行统计，获得亚兴趣区域像素的位置及颜色； 步骤三五、对亚兴趣区域像素值进行求方差运算，获得SEM 二维图像的模糊度，根据该模糊度，利用拟合的模型实现对目标物体高度的获取。。 有益效果:本专利技术使用OpenCV训练识别目标物体的文件，通过训练文件快速获得二维图像中的兴趣区域，通过图像处理获得目标物体的二维平面位置，当多个目标物体边缘接触时，使用Freeman链码区分并重定向物体边缘，使用基于亚兴趣区域的图像模糊度函数及评价函数确定物体距离基底的高度。本专利技术对实时图像的处理速度极快，三维信息的提取通常在0.1s以内；通过使用单幅二维图像，在不需要添加其他设备的情况下实现三维信息的提取；同时解决了不同物体边缘相交，不易区分的问题。 【附图说明】 图1为【具体实施方式】一所述的基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法流程图； 图2为【具体实施方式】二所述的采用OpenCV获得SEM图像的目标识别文件的方法流程图； 图3为【具体实施方式】三所述的使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息的流程图； 图4为【具体实施方式】五所述的纳米线边缘与探针针尖边缘接触时，对SEM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息进行提取的方法流程图； 图5为【具体实施方式】六所述的获得目标物体的高度的方法流程图； 图6为8邻域偏移规则原理示意图。 【具体实施方式】 【具体实施方式】一、结合图1说明本【具体实施方式】，本【具体实施方式】所述的基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法包括以下步骤: 步骤一、采用OpenCV建立SEM 二维图像的目标识别文件； 步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息； 步骤三、获得目标物体的高度。 【具体实施方式】二、结合图2说明本【具体实施方式】，本【具体实施方式】与【具体实施方式】一所述的基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法的区别在于，步骤一中所述的采用OpenCV获得SEM图像的目标识别文件的方法为: 步骤一一、将SEM 二维图像分为目标选择图像和待测图像； 步骤一二、在目标选择图像中截取探针针尖和纳米线正样本； 步骤一三、采用Matlab使探针针尖和纳米线正样本归一化为大小相同的图像； 步骤一四、采用OpenCV的Haartraining分类器分别训练探针针尖和纳米线正样本，分别获得目标识别文件； 步骤一五、对待测图像进行目标识别，分析目标识别文件的准确率，多次训练目标识别文件； 步骤一六、检测目标识别文件的准确率是否达到预设值，当没有达到预设的准确率时，返回执行步骤一二，当达到预设的准确率时，完成SEM 二维图像的目标识别文件的建立。 【具体实施方式】三、结合图3说明本【具体实施方式】，本【具体实施方式】与【具体实施方式】二所述的基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法的区别在于，步骤二中所述的使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息的过程为: 步骤二一、使用准确率高的目标识别文件快速识别原始SEM 二维图像的兴趣区域； 步骤二二、对识别的兴趣区域进行图像预处理操作； 步骤二三、采用Roberts边缘提取方法检测兴趣区域内的图像，获得兴趣区域中探针针尖和纳米线的边缘图像； 步骤二四、搜索图像最右侧白色像素； 步骤二五、判断是否搜索到图像最右侧白色像素，判断结果为是，则执行步骤二六，判断结果为否，则返回执行步骤二四； 步骤二六、判断纳米线边缘与探针针尖边缘是否接触； 步骤二七、根据步骤二六的判断结果对SEM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息进行提取。 【具体实施方式】四、结合图2说明本【具体实施方式】，本【具体实施方式】与【具体实施方式】三所述的基于单幅SEM 二维图像的三维信息快速提取方法的区别在于，当判断结果为纳米线边缘与探针针尖边缘不接触时，搜索像素直到左下侧白色像素为止，SHM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息提取完成。 【具体实施方式】五、结合图4说明本【具体实施方式】，本【具体实施方式】与【具体实施方式】三所述的基于单幅SEM 二维图像本文档来自技高网...
【技术保护点】
基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，它包括以下步骤：步骤一、采用OpenCV建立SEM二维图像的目标识别文件；步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM二维图像中的二维位置信息；步骤三、获得目标物体的高度。
【技术特征摘要】
1.基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，它包括以下步骤: 步骤一、采用OpenCV建立SEM 二维图像的目标识别文件； 步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息； 步骤二、获得目标物体的闻度。2.根据权利要求1所述的基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，步骤一中所述的采用OpenCV获得SEM图像的目标识别文件的方法为: 步骤一一、将SEM 二维图像分为目标选择图像和待测图像； 步骤一二、在目标选择图像中截取探针针尖和纳米线正样本； 步骤一三、采用Matlab使探针针尖和纳米线正样本归一化为大小相同的图像； 步骤一四、采用OpenCV的Haartraining分类器分别训练探针针尖和纳米线正样本,分别获得目标识别文件； 步骤一五、对待测图像进行目标识别，分析目标识别文件的准确率，多次训练目标识别文件； 步骤一六、检测目标识别文件的准确率是否达到预设值，当没有达到预设的准确率时，返回执行步骤一二，当达到预设的准确率时，完成SEM 二维图像的目标识别文件的建立。3.根据权利要求2所述的基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，步骤二中所述的使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别，提取物体在SEM 二维图像中的二维位置信息的过程为: 步骤二一、使用准确率高的目标识别文件快速识别原始SEM 二维图像的兴趣区域； 步骤二二、对识别的兴趣区域进行图像预处理操作； 步骤二三、采用Roberts边缘提取方法检测兴趣区域内的图像，获得兴趣区域中探针针尖和纳米线的边缘图像； 步骤二四、搜索图像最右侧白色像素； 步骤二五、判断是否搜索到图像最右侧白色像素，判断结果为是，则执行步骤二六，判断结果为否，则返回执行步骤二四； 步骤二六、判断纳米线边缘与探针针尖边缘是否接触； 步骤二七、根据步骤二六的判断结果对SEM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息进行提取。4.根据权利要求3所述的基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，当判断结果为纳米线边缘与探针针尖边缘不接触时，搜索像素直到左下侧白色像素为止，SEM 二维图像中物体在XOY平面内的位置信息提取完成。5.根据权利要求3所述的基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法，其特征在于，当判断结果为纳米线边缘与探针针尖边缘接触时，对SEM二...
【专利技术属性】
技术研发人员：李东洁，宋鉴，王德宝，张越，尤波，盛宇佳，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23
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