反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法技术

本发明专利技术公开了反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法，其检测步骤为：a.在植株膜生产线上对植珠膜进行取样，用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行扫描，获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像；b.在扫描图像上，用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖面图；c.在剖面图上选择一段平滑圆弧，用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦长L以及弦高h；d.根据公式计算出单个玻璃微珠的半径R；e.在剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H；f.根据公式计算出单个玻璃微珠的沉降率。该方法不会破坏植珠膜表面玻璃微珠的原始结构，能精确地测算出植珠膜上单个玻璃微珠的沉降率，大大减小了测算误差。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，其检测步骤为：a.在植株膜生产线上对植珠膜进行取样，用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行扫描，获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像；b.在扫描图像上，用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖面图；c.在剖面图上选择一段平滑圆弧，用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦长L以及弦高h；d.根据公式计算出单个玻璃微珠的半径R；e.在剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H；f.根据公式计算出单个玻璃微珠的沉降率。该方法不会破坏植珠膜表面玻璃微珠的原始结构，能精确地测算出植珠膜上单个玻璃微珠的沉降率，大大减小了测算误差。【专利说明】
本专利技术涉及玻璃微珠的检测方法，尤其涉及反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率 的检测方法。
技术介绍
众所周知，植珠膜是玻璃微珠型反光材料生产过程中最主要的半成品，在后续生 产时可被制作成玻璃微珠外露型反光材料或玻璃微珠内置型反光材料。在反光材料制造完 成后，需要对其上的玻璃微珠的逆反射系数进行检测，因反光材料上玻璃微珠的逆反射系 数大小直接关系到反光材料的逆反射系数，而反光材料的逆反射系数是衡量反光材料品质 的重要标准之一，其通常取决于反光材料上玻璃微珠的质量、大小、密度以及沉降率这四个 因素，其中玻璃微珠的质量以及大小是由玻璃微珠的生产厂家决定的，在保证单位面积玻 璃微珠最大密度的情况下，沉降率是影响反光材料上玻璃微珠逆反射系数的关键因素，当 反光材料上的玻璃微珠沉降率在50%时，玻璃微珠的通光量最大，逆反射系数最高，当反光 材料上的玻璃微珠沉降率在509Γ60%之间时，反光材料的综合性能最好。 以前，由于检测手段有限，只有将植珠膜制作成反光材料后才能检测反光材料上 的玻璃微珠逆反射系数是否达标，主要步骤为：先在PET上复合一层热塑性胶膜，然后在热 塑性胶膜上植上玻璃微珠以形成植株膜，因 PET和玻璃微珠都是透明的且没有反射层，光 照在植珠膜上无法形成有效反射，此时无法直接对植珠膜的逆反射系数进行检测，唯有将 玻璃微珠镀铝即形成反射层并做成反光材料后，才能对其逆反射系数进行检测。这种检测 方法耗时较长，在检测完后，若需对工艺流程进行调整，只能在下一批次的生产中进行，导 致成本较高。 因此，一些厂家进行了改进，在生产过程中通过对植珠膜上玻璃微珠沉降率直接 进行检测的方式，先测算出植珠膜上玻璃微珠的沉降率，再推导出反光材料上玻璃微珠的 沉降率，从而判断反光材料上玻璃微珠的逆反射系数，这种方法耗时较短，检测完植珠膜上 玻璃微珠的沉降率后可随时对正在生产的批次的产品进行调整和判断，更加节省成本且可 随时在生产过程中对反光材料品质进行有效的控制。 目前，检测植珠膜上玻璃微珠的沉降率时一般是采用切片方法：先对植珠膜进行 切片，并将切片后的植珠膜横截面放置在显微镜下直接进行测量，以此得到植珠膜上玻璃 微珠的沉降率。但这种方法误差较大，从图1可知，植珠膜表面的玻璃微珠排列十分紧密， 远小于刀片的厚度，则在切片过程中，刀片在接触植珠膜表面时，与刀片直接接触的玻璃微 珠一部分会被向下挤压从而深入植珠膜上的热塑性胶膜中，还有一部分会被弹起且其埋入 深度也随之变化，另外在切片时刀片附近的热塑性胶膜会被挤压变形从而对刀片附近的玻 璃微珠产生推力，使刀片周围的玻璃微珠的埋入深度也随之变化，形成如图2所示的剖面 图，导致在此情况下测量得到的数据已非最原始的数据。且如图2所示，由于热塑性胶膜表 面在刀片的作用下已凹凸不平，一些玻璃微珠还有可能被热塑性胶膜遮挡，因此在测量玻 璃微珠的直径2R以及玻璃微珠沉入热塑性胶膜的高度H'时，只能进行大概的估算，导致最 终检测的结果与实际玻璃微珠的沉降率有较大差距。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术中存在的检测费时费力、检测结果与实际沉降率的值误差较 大等缺陷，提供了一种新的。 为了解决上述技术问题，本专利技术通过以下技术方案实现： ，其检测步骤为： a. 在植株膜生产线上对植珠膜进行取样，用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行 扫描，获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像； b. 在步骤a中的扫描图像上，用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖 面图； c. 在步骤b获取的剖面图上选择一段平滑圆弧，用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦 长L以及弦商h ; d. 根据公式. 【权利要求】1. ，其特征在于：其检测步骤为： a. 在植株膜生产线上对植珠膜进行取样，用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行 扫描，获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像； b. 在步骤a中的扫描图像上，用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖 面图； c. 在步骤b获取的剖面图上选择一段平滑圆弧，用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦 长L以及弦商h ; d. 根据公：?算出单个玻璃微珠的半径R; e. 在步骤b获取的剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H ; f. 根据公式沉降gf算出单个玻璃微珠的沉降率。2. 根据权利要求1所述的，其特征在 于：所述的立体显微镜为激光扫描显微镜或电子扫描显微镜。3. 根据权利要求1所述的，其特征在 于：所述的步骤b中，在步骤a中的扫描图像上，用立体显微镜选中单个玻璃微珠边缘处的 两点，当该两点之间的水平距离最大时，用立体显微镜获取从该两点所形成的直线处向下 剖开的剖面图。4. 根据权利要求1所述的，其特征在 于：所述的步骤b中，在步骤a中的扫描图像上，用立体显微镜选中单个玻璃微珠上的一点， 当该点与植株膜表面的高度差最大时，用立体显微镜获取从该点处向下剖开的剖面图。【文档编号】G01N15/04GK104280322SQ201410564008【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年10月22日 优先权日:2014年10月22日 【专利技术者】邵嘎, 王宏, 孙飞, 杨桂萍, 孟祥佳, 王隆辉 申请人:浙江龙游道明光学有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法，其特征在于：其检测步骤为：a.在植株膜生产线上对植珠膜进行取样，用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行扫描，获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像；b.在步骤a中的扫描图像上，用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖面图；c.在步骤b获取的剖面图上选择一段平滑圆弧，用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦长L以及弦高h；d.根据公式计算出单个玻璃微珠的半径R；e.在步骤b获取的剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H；f.根据公式计算出单个玻璃微珠的沉降率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邵嘎，王宏，孙飞，杨桂萍，孟祥佳，王隆辉，
申请(专利权)人：浙江龙游道明光学有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33