本发明专利技术涉及一种微波窄束测深装置，通过平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行测向和定位。通过测量微波信号发射与接收的相位差，确定雷达与被测目标之间的距离。其特征：以微波窄束为测量介质对目标进行空间定位。通过发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声。配备雷达模块（17），所述雷达模块（17）负责发射和接收微波信号，雷达模块（17）由传动机构（15）固定，并由传动机构（15）控制自动调整雷达探测方位。本发明专利技术以微波窄束为测量介质，能探测远距离的较小目标，在测量深度时不仅能不受粉尘、水汽的影响，同时也能自动校准雷达探测方向，对目标实现三维定位和距离测量。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种微波窄束测深装置，通过平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行测向和定位。通过测量微波信号发射与接收的相位差，确定雷达与被测目标之间的距离。其特征：以微波窄束为测量介质对目标进行空间定位。通过发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声。配备雷达模块（17），所述雷达模块（17）负责发射和接收微波信号，雷达模块（17）由传动机构（15）固定，并由传动机构（15）控制自动调整雷达探测方位。本专利技术以微波窄束为测量介质，能探测远距离的较小目标，在测量深度时不仅能不受粉尘、水汽的影响，同时也能自动校准雷达探测方向，对目标实现三维定位和距离测量。【专利说明】微波窄束测深装置
本专利技术涉及一种测量深度的装置，具体的讲，涉及一种微波窄束测深装置，尤其适用于测量矿山井下或地表主井、溜井等设施的物位深度。
技术介绍
目前，公知的物位测量设备有超声波物位计、激光测距仪等设备，但这些设备在使用时受粉尘、水汽的负面影响很大，导致测量数据不准确，严重时根本无法测量到数据。另外这些设备对安装的方位精度要求高，安装方向偏差会导致测深数据错误。
技术实现思路
为了克服粉尘、水汽等对现有物位测量设备测量数据的影响，本专利技术提供了一种测深装置，该装置通过平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行测向和定位。通过测量微波信号发射与接收的相位差，确定雷达与被测物位之间的距离。通过发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声。该装置在测量物位时不仅能不受粉尘、水汽的影响，同时能自动校准雷达探测方向。 本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:测试装置中所用的雷达采用平面阵列天线雷达，以微波窄束为测量介质，以伪随机噪声脉冲抑制环境中的背景噪声，测量数据不受粉尘、水汽的影响；采用传动机构自动校准雷达探测方向，降低了设备安装要求。整体结构采用圆柱形结构，材质为金属，电路部分分成五个部分，包括雷达模块、信号处理模块、电源管理模块、人机界面、输出接口模块。 本专利技术的有益效果是，可以在测深的同时，不受粉尘、水汽的影响，可以自动校准雷达探测方向，不受安装位置的影响。 【专利附图】【附图说明】 下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明:图1是本专利技术的前视图；图2是本专利技术的左视图；图3是本专利技术的仰视图；图4是本专利技术的纵剖面构造图；图5是本专利技术的电路功能框图；在图1中1.固定支架2.固定螺栓3.防水接头4.不锈钢外壳5.ABS塑料防护罩； 在图3中6.内六角螺栓；在图4中7.铜螺柱8.输出接口模块9.固定金属板10.电源管理模块11.信号处理模块12.密封板13.ABS固定板14.传动机构支架15.传动机构16.防水密封垫17.雷达模块18.人机界面；在图5中1.平面阵列天线2.雷达模块.3信号处理模块.4电源管理模块.5人机界面.6.输出接口模块。 【具体实施方式】 在图1中，(I)固定支架通过(2)固定螺栓与(4)不锈钢外壳连接；(5) ABS塑料防护罩通过图2中的(6)内六角螺栓与(4)不锈钢外壳连接，组成本专利技术的外构件。 在图4中，(8)输出接口模块、(10)电源管理模块、(18)人机界面、(11)信号处理模块、依次顺序连接；(15)传动机构与(17)雷达模块连接，自动调整雷达探测方位。(17)雷达模块发射的微波信号能穿透(5) ABS塑料防护罩，不受粉尘、水汽的影响。【权利要求】1.一种微波窄束测深装置，通过平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行测向和定位，通过测量微波信号发射与接收的相位差，确定雷达与被测物位之间的距离，通过发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声，其特征是:以微波束为测量介质，对目标进行空间定位，可自动调整雷达探测方向。2.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:由平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行空间定位。3.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声。4.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:在金属外壳中，雷达模块、传动机构、信号调理模块、电源管理模块、人机显示界面和输出接口模块顺序连接。5.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:雷达模块内置于防护罩中，雷达模块发出的微波信号穿透防护罩，不受粉尘、水汽的影响。6.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:传动机构自动调整雷达探测方位，装置的测量效果不受安装位置的影响。7.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:通过人机显示界面显示测量数据。8.根据权利要求1所述的微波窄束测深装置，其特征是:测量数据通过输出接口模块实现远程数据交互。【文档编号】G01S13/08GK104280727SQ201410482104【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年9月18日 优先权日:2014年9月18日 【专利技术者】不公告专利技术人 申请人:长沙科瑞德电气有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种微波窄束测深装置，通过平面阵列天线约束微波的散射角度，使微波能量聚集在一个窄束范围内，对目标进行测向和定位，通过测量微波信号发射与接收的相位差，确定雷达与被测物位之间的距离，通过发射伪随机噪声脉冲，抑制环境中的背景噪声，其特征是：以微波束为测量介质，对目标进行空间定位，可自动调整雷达探测方向。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长沙科瑞德电气有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43
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