测量触碰力量的方法及测量装置制造方法及图纸

一种测量触碰力量的方法，适于测量物体触碰触控面板的触碰力量。测量触碰力量的方法包括下列步骤。提供触控面板。建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系。使物体触碰触控面板，并撷取触控面板的测量感应电容。根据关系以及测量感应电容得到触碰力量的测量结果。此外，还提出一种测量装置。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种测量触碰力量的方法，适于测量物体触碰触控面板的触碰力量。测量触碰力量的方法包括下列步骤。提供触控面板。建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系。使物体触碰触控面板，并撷取触控面板的测量感应电容。根据关系以及测量感应电容得到触碰力量的测量结果。此外，还提出一种测量装置。【专利说明】测量触碰力量的方法及测量装置
本专利技术涉及一种测量力量的方法及测量装置，且特别是涉及一种利用触控面板测量力量的方法及包括触控面板的测量装置。
技术介绍
为了达到更便利、体积更轻巧化以及更人性化的目的，许多信息产品的输入方式已由传统的键盘或鼠标等装置，转变为使用触控面板作为输入的方式。触控面板可组装在诸多种类的平面显示器上，以使平面显示器兼具显示画面以及输入操作信息的功能。 目前常见的触控面板以电容式触控面板以及电阻式触控面板最为普及。尤其是，使用者仅需轻触电容式触控面板表面即可进行触控操作而使电容式触控面板更为使用者所热爱。然而，现有的触控面板仅可做为输入信息的接口，而无法做为其它用途。
技术实现思路
本专利技术提供一种测量触碰力量的方法，其利用触控面板的特性量测触碰力量的大小。 本专利技术提供一种测量装置，其可测量物体触碰触控面板的力量。 本专利技术的一实施例提出一种测量触碰力量的方法，适于测量物体触碰触控面板的触碰力量。此测量触碰力量的方法包括下列步骤。提供触控面板。建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系。使物体触碰触控面板,并撷取触控面板的测量感应电容。根据关系以及测量感应电容得到触碰力量的测量结果。 本专利技术的一实施例提出一种测量装置，适于测量物体触碰此测量装置的触碰力量。此测量装置包括触控面板、储存单元以及处理单元。触控面板适于被物体触碰而产生测量感应电容。储存单元内建触控面板的感应电容与触碰力量的关系。处理单元根据上述关系以及测量感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系的方法包括:建立处于自容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第一关系以及建立处于互容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第二关系。 在本专利技术的一实施例中，上述的撷取触控面板的测量感应电容的方法包括:撷取处于自容模式的触控面板的自容感应电容以及撷取处于互容模式的触控面板的互容感应电容。 在本专利技术的一实施例中，上述的根据所述关系以及测量电容得到触碰力量的测量结果的方法为:根据自容感应电容、互容感应电容、以及第一关系与第二关系至少其中之一得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的根据自容感应电容、互容感应电容、以及第一关系与第二关系至少其中之一得到触碰力量的测量结果的方法包括:利用自容感应电容以及互容感应电容判断触控面板处于弯曲状态或大面积轻触状态；如果触控面板处于弯曲状态，则根据第一关系以及自容感应电容、第二关系以及互容感应电容、或第一关系、自容感应电容、第二关系以及互容感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的根据自容感应电容、互容感应电容、以及第一关系与第二关系至少其中之一得到触碰力量的测量结果的方法包括:利用自容感应电容以及互容感应电容判断触控面板处于弯曲状态或大面积轻触状态；如果触控面板处于大面积轻触状态，则根据第一关系以及自容感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系的方法为:建立处于自容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第一关系。 在本专利技术的一实施例中，上述的撷取触控面板的测量感应电容的步骤为:撷取处于自容模式的触控面板的自容感应电容。 在本专利技术的一实施例中，上述的建立触控面板的感应电容与触碰力量的关系的步骤为:建立处于互容模式下的触控面板的感应电容与触碰力量的第二关系。 在本专利技术的一实施例中，上述的撷取触控面板的测量感应电容的步骤为:撷取处于互容模式的触控面板的互容感应电容。 在本专利技术的一实施例中，上述的测量装置还包括驱动单元。驱动单元适于使触控面板切换至自容模式或互容模式。处于自容模式的触控面板适于被物体触碰而产生自容感应电容。处于互容模式的触控面板适于被物体触碰而产生互容感应电容。储存单元内建处于自容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第一关系以及处于互容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第二关系。处理单元根据自容感应电容、互容感应电容、以及第一关系与第二关系至少其中之一得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的处理单元利用自容感应电容以及互容感应电容判断触控面板处于弯曲状态或大面积轻触状态，如果处理单元判断触控面板处于弯曲状态，则处理单元根据第一关系以及自容感应电容、第二关系以及互容感应电容、或第一关系、自容感应电容、第二关系以及互容感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的处理单元利用自容感应电容以及互容感应电容判断触控面板处于弯曲状态或大面积轻触状态，如果处理单元判断触控面板处于大面积轻触状态，则处理单元根据第一关系以及自容感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的测量装置还包括驱动单元。驱动单元适于使触控面板操作于自容模式。处于自容模式的触控面板适于被物体触碰而产生自容感应电容。储存单元内建处于自容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第一关系。处理单元根据第一关系以及自容感应电容得到触碰力量的测量结果。 在本专利技术的一实施例中，上述的测量装置还包括驱动单元。驱动单元适于使触控面板操作于互容模式。处于互容模式的触控面板适于被物体触碰而产生互容感应电容。储存单元内建处于互容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的第二关系。处理单元利用第二关系以及互容感应电容得到触碰力量的测量结果。 基于上述，物体以不同的力量触碰触控面板时会造成触控面板弯曲不同，进而使触控面板的感应电容产生对应的变化。本专利技术一实施例的测量触碰力量的方法及测量装置利用上述特性量测触碰力量的大小。 为让本专利技术上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术一实施例的测量触碰力量方法的流程图。 图2示出本专利技术一实施例的物体触碰触控面板的情形。 图3示出当物体以近乎于零的力量触碰触控面板时,代表触控面板感应电容的原始值。 图4示出当物体以小力量触碰触控面板时，代表触控面板感应电容的原始值。 图5示出当物体以中力量触碰触控面板时，代表触控面板感应电容的原始值。 图6示出当物体以大力量触碰触控面板时，代表触控面板感应电容的原始值。 图7 出本专利技术一实施例的触控面板的感应电容与触碰力量的关系。 图8示出代表触控面板感应电容的原始值。 图9示出本专利技术一实施例的自容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的关系。 图10示出本专利技术一实施例的测量装置。 图11 出本专利技术一实施例的互容模式的触控面板的感应电容与触碰力量的关系O 图12示出本专利技术一实施例的测量装置。 【符号说明】 1000、1000A、1000B:测量装置 100:触控面板 200:显示面板 300、300A、300B:储存单元 400、400A、40本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量触碰力量的方法，适于测量物体触碰触控面板的触碰力量，所述测量触碰力量的方法包括：提供所述触控面板；建立所述触控面板的感应电容与所述触碰力量的关系；使所述物体触碰所述触控面板，并撷取所述触控面板的测量感应电容；以及根据所述关系以及所述测量感应电容得到所述触碰力量的测量结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘叡明，李金麟，刘立林，戴绅峰，
申请(专利权)人：奇景光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71