检测图像中的重复图案的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种有效地检测图像中的重复图案的方法及装置。本发明专利技术的一实施方式包括以下步骤：以各像素的颜色为基准对构成输入图像的像素进行聚类，获取由各个群组内包括的像素所构成的一个以上的颜色层；在所述一个以上的颜色层中选择一个以上的有效层，所述有效层包括规定个数以上的由多个像素构成且具有规定形状或具有规定大小的面积的像素组件；按各有效层，在所述有效层中所包括的像素组件中选择位置不同地重复配置在所述有效层上的单位图案；按各有效层计算所述单位图案之间的间隔；以及汇集各有效层的所述间隔来计算所述输入图像的单位图案的重复周期。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种有效地检测图像中的重复图案的方法及装置。本专利技术的一实施方式包括以下步骤：以各像素的颜色为基准对构成输入图像的像素进行聚类，获取由各个群组内包括的像素所构成的一个以上的颜色层；在所述一个以上的颜色层中选择一个以上的有效层，所述有效层包括规定个数以上的由多个像素构成且具有规定形状或具有规定大小的面积的像素组件；按各有效层，在所述有效层中所包括的像素组件中选择位置不同地重复配置在所述有效层上的单位图案;按各有效层计算所述单位图案之间的间隔■’以及汇集各有效层的所述间隔来计算所述输入图像的单位图案的重复周期。【专利说明】检测图像中的重复图案的方法及装置
本专利技术涉及一种检测图像中的重复图案的方法及装置。
技术介绍
为了检测出半导体晶片、OLED基板、LH)基板或LCD基板的缺陷，使用如自动缺陷 分类（Automatic Defect Classification)等探测外观不良来检测缺陷的技术。由于这 种外观检测方式比较迅速地发现缺陷并显著地降低不良率，因此提供如减少生产费用等优 点。 但是，现有外观检测方式通过将显示没有缺本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种重复图案检测方法，包括以下步骤：以各像素的颜色为基准对构成输入图像的像素进行聚类，获取由各个群组内包括的像素所构成的一个以上的颜色层；在所述一个以上的颜色层中选择一个以上的有效层，所述有效层包括规定个数以上的由多个像素构成且具有规定形状或具有规定大小的面积的像素组件；按各有效层，在所述有效层中所包括的像素组件中选择位置不同地重复配置在所述有效层上的单位图案；按各有效层计算所述单位图案之间的间隔；以及汇集各有效层的所述间隔来计算所述输入图像的单位图案的重复周期。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：士秀多，李相鹤，金钟沆，河成钟，安瑠璃，权姸希，
申请(专利权)人：三星SDS株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR